Der TDM-20 HochleistungsRöntgendiffraktometer (Tisch-XRD)wird hauptsächlich zur Phasenanalyse von Pulvern, Feststoffen und ähnlichen Pastenmaterialien verwendet. Das Prinzip der Röntgenbeugung kann für qualitative oder quantitative Analysen, Kristallstrukturanalysen und andere polykristalline Materialien wie Pulverproben und Metallproben verwendet werden.Tisch-XRD wird häufig in Branchen wie Industrie, Landwirtschaft, Landesverteidigung, Pharmazeutik, Mineralien, Lebensmittelsicherheit, Erdöl, Bildung und wissenschaftlicher Forschung eingesetzt.
1. Kernfunktionen des TDM-20-TischgerätsRöntgendiffraktometer (Tisch-XRD):
Durch die Beladung mit dem neuen Hochleistungs-Array-Detektor wurde die Gesamtleistung des Geräts bei kleiner Größe und geringem Gewicht erheblich verbessert; Die gesamte Maschine ist in eine Tischgröße (normalerweise ≤ 1 m³) integriert, wodurch Platz gespart wird und sie für kleine Labore oder Unterrichtsumgebungen geeignet ist; Die Arbeitsleistung der Hochfrequenz- und Hochspannungsstromversorgung kann 1600 W erreichen; Schnelle Analyse, ermöglicht schnelles Kalibrieren und Testen von Proben; Durch die Verwendung von Hochleistungsdetektoren (wie z. B. zweidimensionalen Detektoren) und die Optimierung des optischen Pfads kann das Scannen von Proben in wenigen Minuten abgeschlossen werden; Einfache Schaltungssteuerung, leicht zu debuggen und zu installieren; Die Winkelwiederholgenauigkeit kann 0,0001 erreichen; Niedriger Stromverbrauch und Sicherheit durch Verwendung von Röntgenröhren mit geringer Leistung (z. B. ≤ 50 W), ausgestattet mit mehrfachem Strahlenschutz, keine speziellen Abschirmräume erforderlich; Benutzerfreundlich, ausgestattet mit Automatisierungssoftware, unterstützt Ein-Klick-Bedienung, Echtzeit-Datenvisualisierung und Vergleich von Standarddatenbanken (wie z. B. ICDD PDF).
2. Typische Anwendungsszenarien des TDM-20-TischgerätsRöntgendiffraktometer (Tisch-XRD):
Materialwissenschaft vonRöntgendiffraktometer (Tisch-XRD）: Schnelle Identifizierung der Kristallstruktur und Phasenzusammensetzung (z. B. Metalle, Keramik, Polymere).
Materialwissenschaft vonRöntgendiffraktometer (Tisch-XRD）: Prüfung der Kristallreinheit von Rohstoffen oder Fertigprodukten (wie Arzneimitteln und Batteriematerialien) vor Ort in der Industrie.
Materialwissenschaft vonRöntgendiffraktometer (Tisch-XRD）: Experimenteller Unterricht für Studenten, der das Bragg-Beugungsprinzip visuell demonstriert.
Materialwissenschaft vonRöntgendiffraktometer (Tisch-XRD）: Analyse der Mineralzusammensetzung von Kulturdenkmälern oder vorläufige Untersuchung von Feldproben.
3. Technische Parameter des TDM-20-TischgerätsRöntgendiffraktometer (Tisch-XRD）:
Projekt: Parameterbereich
Röntgenquelle: Cu-Target (λ=1,54 Å), Mo-Target optional
Spannung/Strom: 10–50 kV/0,1–2 mA
Winkelmessgerätbereich: 0-90 ° 2θ (einige Modelle können erweitert werden)
Winkelauflösung: ≤ 0,01 °
Detektortyp: eindimensionaler linearer oder zweidimensionaler Oberflächendetektor
Probengröße: Pulver (Milligramm), Film oder Block
4.Vorteile und Einschränkungen des TDM-20-TischgerätsRöntgendiffraktometer (Tisch-XRD）:
Vorteile: Niedrige Kosten (etwa 1/3–1/2 eines großen XRD), einfache Wartung.
Unterstützt zerstörungsfreie Analysen und einfache Probenvorbereitung (z. B. direktes Platzieren von Pulver).
Einschränkungen:
Die Auflösung und Empfindlichkeit sind etwas geringer als bei High-End-Geräten und sind möglicherweise nicht für die ultrafeine Strukturanalyse geeignet.
Tests unter extremen Bedingungen (wie etwa In-situ-Experimente bei hohen Temperaturen/hohen Drücken) sind normalerweise nicht durchführbar.
