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Einführung in XRD-Anwendungen – Datenqualität

2024-01-08

Als eines der wichtigen Mittel zur Charakterisierung der Materialstruktur istXRDwird häufig in den Bereichen Materialien, Physik, Chemie, Medizin und anderen Bereichen eingesetzt. Um genaue Analyseergebnisse zu erhalten oder weitere Strukturinformationen zu untersuchen, ist die Qualität der Röntgenbeugungsdaten die Grundlage, aber auch ein wichtiger Bestandteil der Analyse von XRD-Mustern. 

X-ray diffraction

                                               Abb. 1. Zusammensetzung vonXRDMuster

Komponenten des Röntgenbeugungsmusters und entsprechende physikalische Parameter:

1. Spitzenposition: (1) Genau. (2)Raumgruppe. (3) Zellparameter.

2. Spitzenfestigkeit: (1) Hohe Festigkeit. (2)Kristallstruktur.(3) Quantitative Analyse.

3. Peakform: (1)FWHM ist klein und die Peakform ist symmetrisch (Abb. 2). (2) Instrumentenverbreiterung. (3)Mikrostruktur der Probe.

4. Rückseite und Unterseite: (1) Niedrige Rückseite und Unterseite, sanfter niedriger Winkel, hohes Spitze-zu-Rücken-Verhältnis, hohes Signal-Rausch-Verhältnis. (2) Schwache Peak-Erkennungsgrenze (Abb. 3). (3) Amorpher diffuser Peak,"Kristallinität".

XRD

                                   Abb.2 XRD-Muster mit unterschiedlichen Auflösungen

Crystal structure

                      Abb. 3 Das Peak-to-Back-Verhältnis und das Signal-Rausch-Verhältnis weisen schwache Spitzen auf

RöntgenbeugungDatenqualität und Testeffizienz

1. Eine qualitativ hochwertige Datenerfassung ist oft umgekehrt proportional zur Testeffizienz und sehr zeitaufwändig. Feines Instrumenten-Debugging, vernünftige Hardware-Auswahl und lange Testzeit.

2. Nicht jede Anwendung erfordert eine sehr hohe Datenqualität. Entsprechend den unterschiedlichen Anwendungsanforderungen sollten geeignete Hardware- und Messbedingungen ausgewählt werden, um eine entsprechende Datenqualität zu erhalten und die Testeffizienz zu verbessern.





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