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  • Diffraktometer
    Diffraktometer
    1. Die Genauigkeit des Diffraktometers ist hoch. 2. Das Anwendungsgebiet des Diffraktometers ist breit. 3. Das Diffraktometer ist einfach zu bedienen, komfortabel und effizient.
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  • Einkristall-Röntgenstrukturanalyse
    Einkristall-Röntgenstrukturanalyse
    1. Die Einkristallmaschine verwendet SPS-Steuerungstechnik. 2. Modulares Design, Zubehör einfach per Plug & Play anschließen. 3. Elektronische Türverriegelung mit doppeltem Schutz. 4. Einkristall-Röntgenröhre: Es können verschiedene Targets ausgewählt werden, z. B. Cu, Mo usw. 5. Der Einkristall verwendet eine Vierkreis-Konzentrizitätstechnologie, um sicherzustellen, dass der Mittelpunkt des Goniometers unverändert bleibt.
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  • Serien-Röntgenkristallanalysator
    Serien-Röntgenkristallanalysator
    1. Das Röntgengerät ist einfach zu bedienen und liefert schnelle Ergebnisse. 2. Das Röntgengerät ist präzise und zuverlässig und zeichnet sich durch hervorragende Leistung aus. 3. Das Röntgengerät verfügt über verschiedene funktionelle Zubehörteile, um den Anforderungen unterschiedlicher Testzwecke gerecht zu werden.
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  • Ein 2D-Röntgendiffraktometer
    Ein 2D-Röntgendiffraktometer
    Vorteile: Stufenlos einstellbare Röntgendurchdringungstiefe Fähigkeit zur Beobachtung der Verteilung von Kristallflächen mit unterschiedlichen Orientierungen Analyse der Orientierungsverteilung in Proben wie Fasern, Dünnschichten und Pulvern Untersuchung struktureller Merkmale wie Gitterverzerrung und Kristallitgröße
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Parallelstrahl-Röntgenbeugungsanalyse

2024-01-12

Im ParallelstrahlRöntgenbeugungAnalyse kann ein multikapillarer kollimierender optischer Kristall verwendet werden, um einen hochintensiven parallelen angeregten Röntgenstrahl zu erzeugen, der zu einer sehr hohen Röntgenintensität auf der Probenoberfläche führt. Die Definition der Röntgenbeugung lautet

X-ray

Bei der parallelen Strahlgeometrie kann sich die Probenposition ändern, und das XRD-System ist nicht mehr dadurch eingeschränkt, dass der Abstand zwischen der Röntgenquelle und der Probe dem Abstand zwischen der Probe und dem Detektor entspricht. Die Flexibilität der Geometrie lässt sich an bestehende Fertigungsbedingungen anpassen und für ein breiteres Spektrum an Probenformen und -größen nutzen. ParallelstrahlXRDist nicht nur unempfindlich gegenüber Fehlern im Zusammenhang mit der Probenverschiebung; Praktisch alle anderen bekannten instrumentellen Fehlerfunktionen werden ebenfalls eliminiert.


Parallelstrahl-XRD mitRöntgenOptische Kristalle wurden erfolgreich in der Dünnschichtanalyse und Probentexturbewertung eingesetzt.



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