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Der „Superdetektor“ der mikroskopischen Welt

2025-03-27

Röntgenabsorptions-FeinstrukturSBrust(XAFS) ist ein leistungsfähiges Werkzeug zum Studium der lokalen atomaren oder elektronischen Struktur von Materialien, das in gängigen Bereichen wie Katalyse, Energie und Nanotechnologie weit verbreitet ist.

Das Prinzip derRöntgenabsorptions-Feinstrukturspektrum (XAFS):

Röntgenabsorptions-Feinstrukturspektrum Bezieht sich auf hochauflösende Spektren nahe den charakteristischen Kanten der Elektronen im Atomkern, die Röntgenstrahlen absorbieren. Entspricht die Energie der Röntgenstrahlen der Anregungsenergie der Elektronen in der inneren Schale des gemessenen Elements, werden diese stark absorbiert, was zu einer Absorptionsgrenze (oder Absorptionskante) führt. In der Nähe der Absorptionskante weist der Absorptionskoeffizient der Röntgenstrahlen aufgrund von Mehrfachstreuung und anderen Gründen oszillierende Phänomene, d. h. eine Feinstruktur, auf.

2. Kernvorteile vonRöntgenabsorptions-Feinstrukturspektrum (XAFS):

(1) Das Produkt mit dem höchsten Lichtstrom, mit einem Photonenfluss von über 1.000.000 Photonen/Sekunde/eV und einer spektralen Effizienz, die um ein Vielfaches höher ist als bei anderen Produkten; Erzielung einer Datenqualität, die der von Synchrotronstrahlung entspricht

(2) Ausgezeichnete Stabilität, die monochromatische Lichtintensitätsstabilität der Lichtquelle ist besser als 0,1% und die wiederholte Energiedrift beträgt weniger als 50 meV

(3) Eine Nachweisgrenze von 1 %, ein hoher Lichtstrom, eine hervorragende Optimierung des optischen Pfads und eine hervorragende Stabilität der Lichtquelle gewährleisten, dass auch dann noch qualitativ hochwertige EXAFS-Daten gewonnen werden können, wenn der gemessene Elementgehalt 1 % beträgt.

3. Anwendungsgebiete von  XAFS:

Industrielle Katalyse, Energiespeichermaterialien, Nanomaterialien, Umwelttoxikologie, qualitative Analyse, Schwerelementanalyse usw.

4. Hauptmerkmale von XAFS:

(1) Nahbereichsordnung: EXAFS ist auf Nahbereichswechselwirkungen angewiesen und nicht auf Fernbereichsordnung.XAFS kann verwendet werden, um die Struktur ungeordneter Systeme wie amorpher, flüssiger, geschmolzener und katalysatoraktiver Zentren zu untersuchen.

(2) Elementspezifität: Mit der Fluoreszenzmethode können Elementproben mit Konzentrationen von nur einem Millionstel gemessen werden. Durch Anpassung der einfallenden Röntgenenergie können die benachbarten Strukturen von Atomen verschiedener Elemente in derselben Verbindung untersucht werden.

(3) Polarisationseigenschaften: Mit polarisierten Röntgenstrahlen können atomare Bindungswinkel und Oberflächenstrukturen in orientierten Proben gemessen werden.

DerRöntgenabsorptions-Feinstrukturspektrumist mit seinen einzigartigen Prinzipien, bedeutenden Eigenschaften und breiten Anwendungsfeldern zu einem unverzichtbaren und wichtigen Werkzeug in vielen Bereichen wie Materialwissenschaft, katalytischer Chemie und Energieforschung geworden und bietet eine starke Unterstützung für die eingehende Erforschung von Materialmikrostrukturen und elektronischen Zuständen.


X-ray Absorption Fine Structure

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