Röntgenbeugung, durch dieRöntgenbeugungeines Materials, die Analyse seines Beugungsmusters, um die Zusammensetzung des Materials, die Struktur oder Form der Atome oder Moleküle im Inneren des Materials und andere Forschungsmethoden zu ermitteln. Aufgrund der Vorteile der Synchrotronstrahlungslichtquelle selbst mit hohem Photonenfluss und höherer Kollimation werden häufig mehr und stärkere Beugungssignale erhalten, was mehr Möglichkeiten für die anschließende Datenanalyse bietet.
Technologischer Vorteil:
1. In-situ-XRD kann in Echtzeit Strukturänderungsinformationen im Materialreaktionsprozess erhalten, die die Reaktion des Materials im Lade- und Entladeprozess tiefgreifend verstehen können und auch eine große richtungsweisende Bedeutung für die Verbesserung des Materials haben; Nicht vor OrtXRDDas Testen ist oft keine gute Rückkehr zum tatsächlichen Zustand. Wenn der Zustand des getesteten Materials außerdem luftempfindlich ist, muss das Material einem Luftisoliergerättest unterzogen werden, um den tatsächlichen Zustand des Materials widerzuspiegeln.
2. In-situ-XRD-Tests können in kurzer Zeit viele vergleichbare Informationen erhalten, da der gesamte Prozess des In-situ-Tests am selben Ort erfolgtMaterialtestDaher sind die erhaltenen Informationen (sei es Zellparameter, Peakstärke oder andere Parameter) relativ vergleichbar.
Die durch Nicht-in-situ-XRD gewonnenen Informationen sind jedoch relativ schlecht vergleichbar und erfordern einen höheren Aufwand während des Testprozesses. Befindet sich das Elektrodenblatt beispielsweise nach dem Zerlegen und Waschen in einem gefalteten Zustand, ändert sich der Gehalt des getesteten Materials, der Gipfel des gemessenen XRD verschiebt sich und die entsprechenden durch die Verfeinerung erhaltenen Zellparameter ändern sich ebenfalls. Qualität und Verteilung der aktiven Materialien in verschiedenen Elektrodenplatten sind jedoch zwangsläufig unterschiedlich, was zwangsläufig zu einer schlechten Vergleichbarkeit der Spitzenstärke bei verschiedenen Lade- und Entladezuständen führt.