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Röntgenbeugungscharakterisierung von Polymeren

2023-12-04

Konventionelle Röntgenbeugung von Polymeren

Konventionelle Röntgenstrahlen werden häufig zur Charakterisierung der Polymerkristallinität oder zur Information über die Materialgleichheit verwendet. DerKristallinitätdes Polymers ist ein Strukturparameter, der eng mit seinen physikalischen Eigenschaften zusammenhängt. Manchmal ist es möglich, die Ursache für unzureichende Steifigkeit, Risse, Weißgrad und andere Mängel durch die Bewertung der Kristallinität zu ermitteln. Die Methode zur Messung der Kristallinität durchRöntgenbeugungEs wird eine vollständige Spektrumanpassung beschrieben und es werden einige Beispiele gegeben.

X-ray diffraction

                        Verhältnis der kristallinen Beugungspeakfläche zur gesamten Streusignalfläche

X-ray diffractometer

Das XRD-Muster von PP-PP und die Ergebnisse der Berechnung der Kristallinität durch Trennung kristalliner und amorpher Peaks durch die Methode der Vollspektrumanpassung


Polymer 2D/Röntgenbeugung

Bei Polymermaterialien werden sie zu Fasern, Platten oder anderen Formen hinzugefügt. Der Unterschied in der Verarbeitungsmethode oder Verarbeitungstechnologie führt zu großen Unterschieden im Kristallisationszustand und in der Ausrichtung. Der herkömmliche Röntgenbeugungstest kann nicht alle Strukturmerkmale charakterisieren. Der 2D-Detektor (XRD)-Übertragungsmodus liefert intuitive und umfassende Strukturinformationen über Polymermaterialien. Im Folgenden wurden PP-Proben verschiedener Zustände zweidimensional getestetRöntgendiffraktometer, die die Vorteile der zweidimensionalen Beugung in der Polymeranalyse vollständig demonstrierte.

crystallinityX-ray diffraction

Zweidimensionale Röntgenkarte der PP-Probe PP1# – amorpher Zustand PP2# – nichtorientierter halbkristalliner Zustand


Orientierungsanalyse

Die (040)-Peaks der PP3#-Proben sind in der zweidimensionalen Karte nur in zwei Richtungen vorhanden. Durch Integration des (040)-Peaks der Probe mit 2Theta kann das Azimutdiagramm der (040)-Peakintensität erhalten werden, und die Ausrichtung kann unter Verwendung der halben Höhe und Breite des Peaks des Azimutdiagramms weiter berechnet werden.

X-ray diffractometer



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