GIWAXS ist eine Technik zur Charakterisierung der inneren Mikrostruktur von Dünnschichtproben. Die entsprechende Strukturgröße liegt zwischen 10 nm und 1 µm und wird daher häufig zur Charakterisierung der Kristallisation in Solar-Dünnschichtzellen verwendet.

Für organische Solarzellenfolien, die kein festes Gitter habenStrukturGIWAXS konzentriert sich auf die Charakterisierung der Ausrichtung und des Verhältnisses der Kristalle innerhalb der Filme. Beispiel: Abbildung 3

Die GIWAXS-Technologie zeichnet sich durch zwei weitere Vorteile von Dünnschichtsolarzellen aus: Man kann die Eindringtiefe der Probe durch Steuerung des Winkels des einfallenden Strahls anpassen, um so den Zweck der Schichtcharakterisierung zu erreichen. Zweitens eignet sich GIWAXS für die In-situ-Prüfung von Dünnschichtbatterien und die Prüfzeit ist kurz.

Zusammenfassend lässt sich sagen, dass GIWAXS ein breites Anwendungsspektrum bei der Charakterisierung der Morphologie von Dünnschichtsolarzellen bietet und zur In-situ-Charakterisierung des Kristallbildungsprozesses innerhalb des Dünnfilms sowie der Kristallorientierung, Gittergröße usw. verwendet werden kannKristallAnteil und bietet technische Unterstützung für die Optimierung der inneren Struktur von Dünnschichtzellen.