Angetrieben durch einen importierten Schrittmotor und gesteuert durch eine importierte speicherprogrammierbare Steuerung (SPS) von Siemens ist kein manueller Probenwechsel erforderlich. Das System misst Proben automatisch kontinuierlich und speichert Daten automatisch. Für eine kontinuierliche Messung können sechs Proben gleichzeitig geladen werden. Insgesamt spielen automatische Probenwechsler als effizientes experimentelles Hilfsgerät in vielen Bereichen eine wichtige Rolle. Mit der kontinuierlichen Weiterentwicklung der Technologie und der steigenden Nachfrage nach Anwendungen werden auch die Leistung und Funktionalität automatischer Probenwechsler weiter verbessert und perfektioniert.

Das multifunktionale integrierte Messzubehör wird zur Analyse von Filmen auf Platten, Blöcken und Substraten verwendet und kann Tests wie Kristallphasenerkennung, Orientierung, Textur, Spannung und In-Plane-Struktur von Dünnfilmen durchführen. Multifunktionales integriertes Messzubehör ist typischerweise darauf ausgelegt, die Funktionalität von Röntgendiffraktometern zu erweitern, damit sie an vielfältigere Testanforderungen angepasst werden können. Es besteht eine enge Beziehung zwischen multifunktionalem integriertem Messzubehör und Röntgendiffraktometern. Dieses Zubehör verbessert nicht nur die Funktionalität und Leistung von Röntgendiffraktometern, sondern verbessert auch dessen Bedienkomfort und Sicherheit. In praktischen Anwendungen können Benutzer geeignetes Zubehör entsprechend ihren spezifischen Anforderungen auswählen, um die Anwendungsszenarien von Röntgendiffraktometern zu erweitern und die Messeffizienz zu verbessern.

Das In-situ-Zubehör für mittlere und niedrige Temperaturen dient dazu, die Änderungen in der Kristallstruktur während des Niedertemperatur-Kühlprozesses zu verstehen. Es soll eine Probenumgebung mit mittlerer und niedriger Temperatur (normalerweise unter Raumtemperatur, aber nicht extrem niedrige Temperatur, wie etwa ein Bereich zwischen -100 ℃ und Raumtemperatur) für Mikroskope und andere Instrumente bereitstellen. Vakuumumgebung: -196 ~ 500 ℃ Genauigkeit der Temperaturregelung: ±0,5℃ Kühlmethode: flüssiger Stickstoff (Verbrauch weniger als 4 l/h) Fenstermaterial: Polyesterfolie Kühlmethode: deionisierte Wasserzirkulationskühlung

Das Hochtemperaturzubehör dient dazu, die Änderungen in der Kristallstruktur von Proben während der Hochtemperaturerhitzung sowie die Änderungen bei der gegenseitigen Auflösung verschiedener Substanzen während der Hochtemperaturerhitzung zu verstehen.  Hochtemperaturzubehör spielt als wichtiges experimentelles und industrielles Gerät in vielen Bereichen eine entscheidende Rolle. Seine breite Palette an Anwendungsbereichen, präzisen technischen Parametern und vielfältigen Produkttypen machen Hochtemperaturzubehör zu einem unverzichtbaren Bestandteil der wissenschaftlichen Forschung und der industriellen Produktion. Technische Parameter Temperatureinstellung: Inertgasumgebung von Raumtemperatur bis 1200 ℃ Vakuumumgebung mit hoher Temperatur von 1600 ℃ Genauigkeit der Temperaturregelung: ± 0,5 ℃ Fenstermaterial: Polyesterfolie

Speziell für Analysegeräte entwickelte Röntgenröhren: gewellte Keramikröhren, Cermet-Röhren und Glasröhren, geeignet für verschiedene Modelle von XRD-, XRF-, Kristallanalysatoren und Orientierungsgeräten im In- und Ausland. Technische Parameter der Röntgenröhren: 1. Optionale Zielmaterialtypen: Cu, Co, Fe, Cr, Mo, Ti, W usw. 2. Fokustyp: 0,2 × 12mm² oder 1 × 10mm² oder 0,4 × 14mm² (Feinfokus)

Original-Batteriezubehör, Testbereich: 0,5–160 Grad, Temperaturbeständigkeit: 400 °C, Berylliumfenster (Polyesterfolie) Größe: Durchmesser 15 mm (anpassbar); Dicke 0,1 mm (anpassbar). Sie werden häufig als Zubehör für Röntgendiffraktometer in elektrochemischen Systemen verwendet, die Kohlenstoff, Sauerstoff, Stickstoff, Schwefel, Metallkomplexe usw. enthalten. Original-Batteriezubehör wird verwendet, um den gesamten Original-Batterie-Probentisch am Winkelmessgerät des Röntgendiffraktometers zu befestigen und dient als Verbindung und Halterung.

Der Multifunktionsprobenhalter gehört zum Röntgendiffraktometerzubehör (XRD-Zubehör), das fortschrittliche Designtechnologie und modulare Designideen verwendet und durch die Kombination verschiedener Module Funktionen wie Rotation, Hubdifferenz und Hochtemperaturoxidationsbeständigkeit erreicht. Der Multifunktionsprobenhalter eignet sich für verschiedene fortschrittliche Dünnschichtwachstums- und -abscheidungstechnologien, darunter MBE (Molekularstrahlepitaxie), PLD (gepulste Laserabscheidung), Magnetronsputtern und EB (Elektronenstrahlverdampfung) und kann auch zum Substratglühen, Hochtemperaturentgasen und zur Materialmodifizierung verwendet werden. Das Substrat des multifunktionalen Probenhalters kann eine maximale Heiztemperatur von 1100 °C erreichen und kann mit RF/DC verbunden werden, mit Selbstrotation und einer Geschwindigkeit von 0-20 Umdrehungen pro Minute. Es ist stufenlos einstellbar und bietet eine Nullpositionierung. Das modulare Design ermöglicht die Auswahl mehrerer Kombinationskonfigurationen und die Probengröße kann bis zu 8 Zoll betragen. Zusammenfassend lässt sich sagen, dass der multifunktionale Probenhalter ein leistungsstarkes und flexibles Versuchsgerät ist, das sich für verschiedene wissenschaftliche Forschungs- und Industrieanwendungen als Zubehör für Röntgendiffraktometer (XRD-Zubehör) eignet. Das modulare Design und die vielfältigen Funktionen des multifunktionalen Probentisches machen ihn zu einem unverzichtbaren Werkzeug in Laboren und der industriellen Produktion.

Das parallele optische Filmmesszubehör ist ein Spezialwerkzeug für die Röntgenbeugungsanalyse, das durch Vergrößerung der Gitterplattenlänge mehr Streulinien herausfiltert, wodurch der Einfluss des Substratsignals auf die Ergebnisse verringert und die Signalintensität des Dünnfilms erhöht wird. Im Bereich der Materialwissenschaften wird das parallele optische Filmmesszubehör häufig verwendet, um die Kristallstruktur, das Phasenübergangsverhalten und den Spannungszustand von Dünnfilmmaterialien zu untersuchen. Mit der Entwicklung der Nanotechnologie wird das parallele optische Filmmesszubehör auch häufig zur Dickenprüfung und Kleinwinkelbeugungsanalyse von Nano-Mehrschichtfilmen verwendet. Das Design und die Herstellung des parallelen optischen Filmmesszubehörs zielen auf hohe Präzision ab, um den Anforderungen der wissenschaftlichen Forschung und der industriellen Produktion an Datengenauigkeit gerecht zu werden. Während des Gebrauchs muss das parallele optische Filmmesszubehör ein hohes Maß an Stabilität aufrechterhalten, um die Zuverlässigkeit der Testergebnisse zu gewährleisten. Mit dem Fortschritt der Technologie und der Entwicklung der Industrie steigt die Nachfrage nach hochpräzisen und hochstabilen Analyseinstrumenten ständig. Parallele optische Filmmesszubehörteile als wichtige Komponenten verzeichnen ebenfalls ein anhaltendes Wachstum der Marktnachfrage. Um die Marktnachfrage zu erfüllen und die Produktleistung zu verbessern, wird die Technologie der parallelen optischen Filmmesszubehörteile ständig weiterentwickelt und verbessert. Beispielsweise können durch die Verbesserung des Materials und des Designs der Gitterplatten, die Optimierung des optischen Systems und andere Maßnahmen die Filterwirkung und die Signalverstärkungsfähigkeit verbessert werden. Zusammenfassend lässt sich sagen, dass parallele optische Filmmesszubehörteile eine entscheidende Rolle bei der Röntgenbeugungsanalyse spielen. Mit dem Fortschritt der Technologie und der Entwicklung der Industrie werden seine Anwendungsaussichten noch breiter.

Das Kleinwinkeldiffraktometerzubehör ist ein Spezialgerät, das bei Röntgenbeugungsexperimenten (XRD) verwendet wird, hauptsächlich zur Messung von Beugungsspitzen im kleinen Winkelbereich, um die Mikrostruktur und Eigenschaften von Materialien zu untersuchen. Das Kleinwinkeldiffraktometerzubehör ist ein Spezialgerät für Röntgendiffraktometer, das präzise Beugungsmessungen innerhalb eines unteren 2θ-Winkelbereichs (normalerweise von 0° bis 5° oder niedriger) ermöglicht. Diese Technologie ist von großer Bedeutung für die Untersuchung von Nanostrukturen, mesoporösen Materialien, Mehrschichtfilmen und anderen Materialien. Durch die Konfiguration des entsprechenden Kleinwinkeldiffraktometerzubehörs kann die Dicke von Nano-Mehrschichtfilmen genau gemessen werden. Insgesamt ist das Kleinwinkeldiffraktometerzubehör ein unverzichtbarer und wichtiger Bestandteil von Röntgendiffraktometern mit breiten Anwendungsaussichten in den Bereichen Materialwissenschaft, Chemie, Physik und anderen Bereichen.

Faserzubehör wird mithilfe der Röntgenbeugungsmethode (Transmission) auf seine einzigartige Kristallstruktur getestet. Testen Sie die Ausrichtung der Probe anhand von Daten wie Faserkristallinität und Halbwertsbreite. Faserzubehör findet in zahlreichen Bereichen Anwendung, darunter Materialwissenschaften, Biomedizin, Chemieingenieurwesen, Nanotechnologie, geologische Erkundung, Umweltüberwachung und mehr.

Das Röntgenbestrahlungssystem im Schrank erzeugt hochenergetische Röntgenstrahlen, um Zellen oder kleine Tiere zu bestrahlen. Wird für verschiedene Grundlagen- und angewandte Forschungen verwendet. In der Vergangenheit wurde eine Bestrahlungsanlage für radioaktive Isotope verwendet, für die Proben zu einer Kernbestrahlungsanlage transportiert werden mussten. Heute können kleinere, sicherere, einfachere und kostengünstigere Röntgenbestrahlungsgeräte in Laboren installiert werden, um Zellen bequem und schnell zu bestrahlen. Verschiedene Proben können direkt im Labor bestrahlt werden, ohne die Fruchtbarkeit oder Sicherheit zu beeinträchtigen. Dieses biologische Röntgenbestrahlungsgerät ist für Personal ohne professionelle Röntgenschulung bequem zu verwenden, und es fallen keine teuren Lizenzanträge oder Wartungskosten für Sicherheit oder Strahlungsquellen an. Das Röntgenbestrahlungsinstrument ist einfach zu bedienen, sicher, zuverlässig und kostengünstig und kann radioaktive Isotopenquellen ersetzen.

Der Röntgenorientierungsanalysator ist ein Gerät, das das Prinzip der Röntgenbeugung zur Bestimmung der Kristallorientierung nutzt. Er wird häufig in Bereichen wie Materialwissenschaften, Geologie, Physik usw. zur Untersuchung von Kristallstrukturen, Gitterparametern, Kristalldefekten usw. eingesetzt. Das Funktionsprinzip eines Röntgenorientierungsanalysators besteht darin, einen monochromatischen Röntgenstrahl auf den zu prüfenden Kristall zu richten. Wenn der Röntgenstrahl mit Atomen im Kristall interagiert, kommt es zur Streuung. Gemäß dem Braggschen Gesetz interferiert das gestreute Licht, wenn die Wellenlänge der Röntgenstrahlen ein ganzzahliges Vielfaches des Atomabstands in einem Kristall ist, und bildet eine Reihe abwechselnd heller und dunkler Streifen, die als Bragg-Reflexion bezeichnet werden. Durch Messen der Winkel und Intensitäten dieser Bragg-Reflexionen können Informationen wie Kristallorientierung und Gitterparameter berechnet werden. Der Röntgenorientierungsanalysator besteht üblicherweise aus den folgenden Hauptteilen: 1. Röntgenquelle: Ein Gerät, das monochromatische Röntgenstrahlen erzeugt, normalerweise mithilfe einer Röntgenröhre oder einer Synchrotronstrahlungsquelle. 2. Probenbühne: eine Plattform zum Platzieren des zu testenden Kristalls, mit der die Position und der Winkel des Kristalls angepasst werden können. 3. Detektor: dient zum Empfangen gestreuter Röntgenstrahlen und deren Umwandlung in elektrische Signale. Zu den üblichen Detektoren gehören Szintillationszähler, Proportionalzähler usw. 4. Datenerfassungs- und -verarbeitungssystem: Wird verwendet, um von Detektoren ausgegebene Signale zu erfassen und Datenverarbeitung und -analyse durchzuführen. Enthält normalerweise Mehrkanalanalysatoren, Computer und andere Geräte. 5. Kontrollsystem: wird verwendet, um die Bewegung der Röntgenquelle, des Probentisches und des Detektors zu steuern, um eine Messung der Kristalle in verschiedene Richtungen zu ermöglichen. Mithilfe eines Röntgenorientierungsanalysators können Forscher die Orientierung und Gitterparameter von Kristallen genau bestimmen und so ein tieferes Verständnis ihrer Struktur und Eigenschaften gewinnen. Dies ist von großer Bedeutung für die Entwicklung neuer Materialien, geologische Erkundungen, Kristallwachstum und andere Bereiche.