Hintergrund

Instrument zur Kristallstrukturanalyse – Röntgenbeugungsspektrum

2024-01-24 00:00

Das Röntgenbeugungsspektrum analysiert hauptsächlich den kristallinen Zustand und die Mikrostruktur des Materials, da die Wellenlänge des Röntgenähnelt der Gitterkonstante des Kristalls, der auf das kristalline Material gestrahlt wird, und das durch die Analyse erzeugte Beugungsmuster kann die Atomstruktur und den Kristalltyp bestimmen. Es gibt zwei Röntgenbeugungsmessungen fürKristallanalyse.


1.Röntgenbeugungsspektrum-Methode,RöntgendiffraktometerDer Grundaufbau besteht aus drei Teilen: Röntgenquelle, Goniometer, Detektor.

X-ray irradiation

Normalerweise wird die Röntgenquelle erzeugt, indem ein Elektronenstrahl auf ein Kupfertarget trifft. Die Ka-charakteristische Röntgenstrahlung wird mit einem einzigen Frequenzwähler gemessen. Die optische Wellenlänge von Cu-KaX beträgt 1,542 A, was zu einem führtRöntgenbeugungSpektrum. Nehmen Sie das Einkristall-Beugungsmuster wie in der Abbildung rechts gezeigt. Die Produktebenenrichtung (400) ergibt sich aus dem Beugungsscheitelwinkel im Vergleich zum Pulverkristall-Beugungsstandarddiagramm. Je stärker die Scheitelintensität und je schmaler die Halbhöhenbreite, desto besser sind die Produkteigenschaften.


2. Röntgenrückreflexions-Laue-Methode

Die Röntgenreflexions-Laue-Methode ist ein Spektrum, das unter Verwendung von erhalten wirdRöntgenbestrahlung aus Kristallen. Röntgenbestrahlung auf einem festen Silizium-Einzelwafer erzeugt bei bestimmten Winkeln ein Beugungsphänomen gemäß dem Braggschen Gesetz, wie in der Abbildung links dargestellt, und das Beugungsmuster der (100)-Einkristallreflexion Laue ist in der Abbildung dargestellt Rechts. Mit dieser Methode kann die Kristallrichtung eines Einkristalls unterschieden werden.

X-ray diffraction


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