In der Materialforschung sind präzise Messungen der Schlüssel zur Erforschung von Materialeigenschaften. Das von Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. entwickelte multifunktionale integrierte Messzubehör ist ein hochpräzises Werkzeug zur Verbesserung der Möglichkeiten der Röntgenbeugungsanalyse.

Dasmultifunktionales integriertes Messzubehörist speziell für die Installation auf Weitwinkelgoniometern konzipiert. Seine Hauptaufgabe besteht in der genauen Analyse von Plattenmaterialien, Schüttgütern und auf Substraten abgeschiedenen Dünnschichten.

Das Zubehör kann verschiedene Messaufgaben durchführen, darunter Kristallphasenerkennung, Orientierungsgradanalyse und Spannungstests. Es unterstützt Texturanalyse, Eigenspannungsbestimmung und In-Plane-Strukturtests von Dünnschichten und bietet umfassende Datenunterstützung für die Materialforschung.

Die technischen Kernmerkmale dieses Zubehörs spiegeln sich in seinem mehrachsig koordinierten Präzisionsmechaniksystem und den hochflexiblen Messmethoden wider.

Das multifunktionale integrierte Messzubehör unterstützt Polfigurmessungen mit Transmissions- oder Reflexionsmethoden und bietet Flexibilität für unterschiedliche Proben und Testanforderungen.

Für Belastungstests kann sowohl die Seitenneigungsmethode als auch die Normalneigungsmethode verwendet werden. Für Dünnschichtproben ermöglicht das Zubehör auch Rotationstests in der Ebene, wodurch eine detaillierte Analyse der Schichtstrukturen möglich wird.

Sein präzises mechanisches System gewährleistet eine hohe Messgenauigkeit und Wiederholbarkeit mit minimalen Schrittweiten von 0,001° (für Rotationsachsen) und 0,001 mm (für Translationsachsen).

Der Anwendungsbereich des multifunktionalen integrierten Messzubehörs ist äußerst breit und deckt nahezu alle Bereiche der fortgeschrittenen Fertigung sowie Forschung und Entwicklung ab, in denen eine Materialstrukturanalyse erforderlich ist.

Im Bereich der metallischen Werkstoffe dient es der Bewertung der kollektiven Anordnung von Metallen, beispielsweise gewalzten Platten; in der Keramik konzentriert es sich auf die Beurteilung der keramischen Orientierung.

Bei Dünnschichtmaterialien kann das Zubehör die bevorzugte Kristallorientierung von Schichtproben analysieren und die Restspannung von Mehrschichtschichten testen (und dabei Eigenschaften wie das Ablösen der Schicht bewerten).

Es kann auch Oberflächenoxidations- und Nitrierungsfilme auf Hochtemperatur-Supraleitermaterialfilmen und Metallplatten sowie Mehrschichtfilme auf Glas-, Silizium- und Metallsubstraten analysieren.

Insbesondere kann es auch auf die Analyse von makromolekularen Materialien, Papier, Linsenbeschichtungsmaterialien und mehr angewendet werden, was sein interdisziplinäres Anwendungspotenzial demonstriert.