Hintergrund

Patentierte Gleichlichttechnologie eliminiert Messfehler

2025-04-28 11:15

Pandereoptisch FilmMesszubehör ist eine spezielle Komponente, die in Röntgendiffraktometern hauptsächlich zur Verbesserung der Signalintensität und Erkennungsgenauigkeit von Dünnschichtproben verwendet wird.

1.Kernfunktionen vonZubehör für parallele optische FilmmessungIst

Unterdrückung von Streuinterferenzen: Durch die Vergrößerung der Gitterlänge werden mehr Streustrahlen herausgefiltert, die Interferenzen des Substratsignals mit den Beugungsergebnissen des Dünnfilms verringert und somit die Signalstärke des Dünnfilms verbessert.

Verbesserung der Genauigkeit der Dünnschichtanalyse: Geeignet für Dickenprüfungen und andere Szenarien von Nano-Mehrschicht-Dünnschichten, kombiniert mit Kleinwinkel-Beugungsaufsätzen, Kleinwinkel-Beugungsanalyse im Bereich von 0°~5°erreicht werden.

2. Strukturelle MerkmalevonZubehör für parallele optische FilmmessungIst

Gitterdesign: Durch die Verlängerung der Gitterlänge wird der Röntgenstrahlenweg optimiert, die Filterfähigkeit gestreuter Strahlen verbessert und die Reinheit des Dünnschicht-Beugungssignals sichergestellt.

3. Anwendungsbereich vonPandereoptisch FilmMesszubehör

Forschung zu Dünnschichtmaterialien: Kristallstrukturanalyse von Nano-Mehrschichtfilmen und ultradünnen Filmen.

Halbleiter- und Beschichtungsprüfung: Wird verwendet, um die Gleichmäßigkeit, Kristallqualität und andere Eigenschaften dünner Filme zu bewerten.

4. Kompatible Geräte fürPandereoptisch FilmMesszubehör

Dieser Aufsatz kann an verschiedene Röntgendiffraktometermodelle angepasst werden, darunter:

TD-3500 Röntgendiffraktometer

TD-5000 Röntgen-Einkristall-Diffraktometer

TD-3700 hochauflösendes Röntgendiffraktometer

TDM-20 Desktop-Röntgendiffraktometer

Insgesamt ist diePandereoptisch FilmMesszubehör verbessert die Beugungssignalqualität von Dünnschichtproben durch Strukturoptimierung und Streuungsunterdrückung erheblich und wird häufig in der Materialwissenschaft, der Halbleiterherstellung und anderen Bereichen eingesetzt, insbesondere für die Anforderungen hochpräziser Analysen von Nanodünnschichten.

parallel optical film measuring accessory

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