Die makroskopischen Eigenschaften eines Stoffes werden grundlegend durch seine mikroskopische Kristallstruktur bestimmt. Die Röntgenbeugung (XRD) ist das unverzichtbare „wissenschaftliche Auge“ zur Entschlüsselung dieses grundlegenden Geheimnisses. Ihr Kernprinzip ist das Braggsche Gesetz: Trifft ein monochromatischer Röntgenstrahl auf ein kristallines Material, kommt es unter bestimmten Winkeln zur Beugung. Dabei entsteht ein einzigartiges Beugungsmuster, das wie ein „Fingerabdruck“ des Materials wirkt. Dieses Muster ist der Schlüssel zur Bestimmung der Phasenzusammensetzung, der Kristallstruktur, des Spannungszustands und sogar der Korngröße eines Materials.

Grundprinzip: Röntgenbeugung an Kristallen

Röntgenstrahlen sind elektromagnetische Wellen mit sehr kurzen Wellenlängen (etwa 0,01–10 nm), vergleichbar mit dem Abstand zwischen Atomen in einem Kristallgitter (im Ångström-Bereich). Trifft ein monochromatischer Röntgenstrahl auf einen Kristall mit regelmäßiger Atomanordnung, schwingen die Elektronen jedes Atoms und werden zu sekundären Streuquellen. Diese Streuwellen löschen sich zwar größtenteils aus, interferieren aber konstruktiv – oder beugen sich – nur in bestimmten Richtungen, in denen der Gangunterschied zwischen den Wellen einem ganzzahligen Vielfachen der Wellenlänge entspricht. Dieses Phänomen, das erstmals 1912 von Laue nachgewiesen wurde, liefert einen direkten Beweis für die periodische Kristallstruktur.

Die Kerngleichung: Braggsches Gesetz

Sir W. H. Bragg und W. L. Bragg lieferten ein vereinfachtes, aber leistungsfähiges Modell, indem sie die Beugung als „Reflexion“ an parallelen Atomlagen innerhalb des Kristalls behandelten. Beugung tritt nur dann auf, wenn folgende Bedingung erfüllt ist:

2d sinθ = nλ

d ist der Netzebenenabstand, ein fester Parameter des Kristalls.

θ ist der Winkel zwischen dem einfallenden Röntgenstrahl und der Kristallebene (Bragg-Winkel).

λ ist die Wellenlänge der einfallenden Röntgenstrahlung.

n ist eine positive ganze Zahl (die Beugungsordnung).

Diese elegante Gleichung verknüpft direkt den messbaren Beugungswinkel (θ) mit dem atomaren Netzebenenabstand (d) und bildet damit die quantitative Grundlage für alle XRD-Analysen.

Vielseitiges Arbeitstier: DerTD-3500 Röntgendiffraktometer

DerTD-3500ist ein leistungsstarkes, universell einsetzbares Pulverdiffraktometer, das für seine außergewöhnliche Stabilität und Präzision bekannt ist und sich daher ideal für Universitäten, Forschungsinstitute und die industrielle Qualitätskontrolle eignet.

Unübertroffene Präzision:

 Das Goniometersystem, das mit importierten Hochpräzisionslagern und einem vollständig geschlossenen Servoantrieb ausgestattet ist, erreicht einen minimalen Schrittwinkel von 0,0001° und eine 2θ-Wiederholgenauigkeit von ≤0,0005° und gewährleistet so die für eine zuverlässige Analyse erforderlichen genauen Daten.

Robust und zuverlässig:

Das System nutzt eine importierte Siemens-SPS (Speicherprogrammierbare Steuerung) zur Bewegungssteuerung und bietet im Vergleich zu herkömmlichen Konstruktionen eine überlegene Stabilität und geringere Ausfallraten, wodurch ein langfristiger, störungsfreier Betrieb gewährleistet wird.

Breites Anwendungsspektrum:

Die vertikale Proben-horizontale (θ-θ) Goniometerkonstruktion ermöglicht die Analyse verschiedenster Probenarten – darunter Flüssigkeiten, Pasten, Pulver und Schüttgüter – bei minimalem Risiko einer Kontamination der Kernkomponenten des Instruments.

Modernste Forschungslösung: DieTD-3700 Hochauflösendes Röntgendiffraktometer

Entwickelt für fortgeschrittene Forschung und High-End-Charakterisierung, TD-3700 bietet überragende Leistung für die anspruchsvollsten Anwendungen.

Hochgeschwindigkeits-Datenerfassung:

Es verfügt über einen standardmäßigen, leistungsstarken eindimensionalen Array-Detektor, der die Datenerfassung im Vergleich zu herkömmlichen Punktdetektoren um das Zehn- bis Hundertfache beschleunigen und so die Forschungsproduktivität erheblich steigern kann.

Zwei Messmodi:

 Über die Standard-Reflexionsgeometrie hinaus, TD-3700Die Transmissionsanalyse wird in einzigartiger Weise unterstützt. Dieser Modus bietet eine höhere Auflösung für Kristallstrukturuntersuchungen und erfordert nur geringste Probenmengen.

Erweiterte Funktionen:

Die Plattform ist für die nahtlose Integration mit verschiedenen Zubehörteilen wie SDD-Detektoren, In-situ-Stufen (z. B. für die Batterieforschung oder Hochtemperaturstudien) und automatischen Probenwechslern ausgelegt und ermöglicht so alles vom Hochdurchsatz-Screening bis hin zu dynamischen In-situ-Experimenten.

Kompaktspezialist: DerTDM-20 Tisch-Röntgendiffraktometer

DerTDM-20Erfüllt den Bedarf an Komfort und Effizienz in industriellen Umgebungen, Lehrlaboren oder Einrichtungen mit begrenztem Platzangebot, ohne Kompromisse bei der analytischen Leistungsfähigkeit einzugehen.

Integriert und effizient: Dieses kompakte Tischgerät vereint Röntgenröhre, Generator, Goniometer und Detektor. Mit einer maximalen Leistung von 1200 W und einem breiten 2θ-Bereich von -3° bis 150° ermöglicht es professionelle qualitative, quantitative und Korngrößenanalysen.

Intelligent und stabil: Es nutzt außerdem eine fortschrittliche SPS-Steuerungstechnik für einen intelligenten Betrieb und eine zuverlässige Leistung und bietet so eine vollständige, platzsparende Analyselösung.

Vom vielseitigenTD-3500und die fortgeschrittenen TD-3700Tauf der kompakten TDM-20,Dandong Tongda Technology Co., Ltd.Wir bieten ein umfassendes Produktportfolio für unterschiedlichste Anforderungen – von der Ausbildung und Routineanalyse bis hin zu Spitzenforschung und industriellen Anwendungen. Jedes unserer Instrumente verkörpert unsere Expertise in Kerntechnologien und unser Engagement für höchste Ingenieurskunst. Wir liefern nicht nur Präzisionsinstrumente, sondern Komplettlösungen, die präzise Daten und tiefgreifende Erkenntnisse liefern und so Innovationen und Fortschritte in der Materialwissenschaft weltweit fördern.