1. Was ist der Unterschied zwischen den Ergebnissen des XRD-Kupferzieltests und dem Bohrzieltest?

Antwort: Der d-Wert des Kristallebenenabstands ist ein inhärenter Orientierungsparameter der Kristallstruktur, also unabhängig von der Art des ZielsRöntgenröhreverwendet wird, ist der aus dem Zeilenbild erhaltene d-Wert des Kristallebenenabstands unabhängig vom Ziel fest. Allerdings unterscheidet sich die relative Intensität zwischen den Beugungspeaks, die von verschiedenen Targets für dieselbe Probe erhalten werden, geringfügig, was mit dem Targetmaterial zusammenhängt.

2. Was ist die Nachweisgrenze von XRD? Kann die Phase mit relativ geringem Gehalt in der Probe erkannt werden?

Antwort:Die Nachweisgrenze vonXRDhat eine tolle Beziehung zum Typ undKristallinitätder zu testenden Substanz, und es gibt keine eindeutige Nachweisgrenze. Im Allgemeinen ist ein Gehalt von weniger als 5 % der Phase nicht unbedingt nachweisbar. Wenn der Inhalt relativ niedrig ist und die herkömmliche Scangeschwindigkeit ein schwaches Spitzensignal erkennen kann, können Sie eine Reduzierung der Scanrate in Betracht ziehen. Der Effekt ist möglicherweise besser.