



XAFS kann als fortschrittliche Charakterisierungstechnik für die lokale Strukturanalyse von Materialien genauere Informationen zur atomaren Strukturkoordination im Nahbereich der Struktur liefern als die Röntgenkristallbeugung.
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Die Röntgenabsorptions-Feinstruktur (XAFS) ist ein leistungsstarkes Werkzeug zur Untersuchung der lokalen atomaren oder elektronischen Struktur von Materialien auf Basis einer Synchrotronstrahlungslichtquelle.
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