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Der multifunktionale Probentisch ist ein hochintegriertes Versuchsgerät, das vorwiegend in den Bereichen Materialwissenschaften, Halbleiterherstellung, Elektronenmikroskopieanalyse usw. eingesetzt wird. Seine Hauptmerkmale sind modulares Design, multifunktionale Integration und hochpräzise Steuerung. Die Kernfunktionen und strukturellen Merkmale der multifunktionalen Probenbühne 1. Modularer Aufbau des multifunktionalen Probentisches: Durch verschiedene Modulkombinationen werden mehrere Funktionen erreicht, wie etwa ein selbstdrehendes Kupplungsmodul (Geschwindigkeit 0–20 Umdrehungen pro Minute, mit Nullbegrenzung), ein Hubmodul (Standardhub 50 mm/100 mm, anpassbar), ein Heizmodul (Maximaltemperatur bis zu 1100 °C) usw. Unterstützt den Anschluss einer DC/RF-Stromversorgung, um den Anforderungen des Dünnschichtwachstums, der Probenreinigung oder der Bildung von Hilfsfilmen gerecht zu werden. 2. Hochpräzise Steuerung und Sensoren für multifunktionalen Probentisch: Ausgestattet mit Temperatur-, Druck- und anderen Sensoren, Echtzeitüberwachung der Umgebungsparameter der Probe und Anpassung von Heizung, Kühlung und anderen Vorgängen über das Steuerungssystem. Einige Modelle verfügen über integrierte pneumatische Prallmodule zur einfachen Bedienung. 3. Kompatibilität und Anpassungsfähigkeit des multifunktionalen Probentisches: Geeignet zum Testen unregelmäßiger Proben wie Spurenpulver, Plattenmaterialien und großformatiger Proben, wobei die durch herkömmliches Schneiden oder Schleifen verursachten Schäden vermieden werden. Unterstützt Probengrößen unter 6 Zoll und anpassbare Flanschschnittstellen. Hauptanwendungsbereiche des multifunktionalen Probenständers 1. Dünnschichttechnologie für multifunktionale Probenbühne: Wird für fortschrittliche Dünnschichtwachstumstechnologien wie MBE (Molekularstrahlepitaxie), PLD (gepulste Laserabscheidung), Magnetronsputtern sowie Substratglühen, Hochtemperaturentgasung und andere Prozesse verwendet. 2. Elektronenmikroskopische Analyse der multifunktionalen Probenbühne: Kaltfeld-Rasterelektronenmikroskop: Befestigen Sie die Probe mit langen Schrauben und stellen Sie die Leitfähigkeit mit kompatiblen Messingscheiben ein. TEM/FIB-System: integriert In-situ-Delamination, Nanosondentests und TEM-Analyse, um Verunreinigungen oder Schäden durch Probentransfer zu vermeiden. 3. Fehleranalyse der multifunktionalen Probenbühne: Integration von Atomstellenentfernung, elektrischen Tests und Analyseprozessen in FIB- und TEM-Systemen zur Verbesserung der Erfolgsrate und Effizienz. 1. Technische Vorteile des multifunktionalen Probentisches 1. Integration und Automatisierung eines multifunktionalen Probentisches: reduziert die Komplexität manueller Bedienung durch modulares Design, unterstützt die Gesamtbewegung und präzise Positionierung in einer Vakuumumgebung. 2. Hohe Zuverlässigkeit des multifunktionalen Probentisches: Verwendung von Standardflanschschnittstellen (wie CF50/CF40), um Abdichtung und Kompatibilität zu gewährleisten. 3. Anpassung des multifunktionalen Probentisches: Heizmaterial, Hublänge und Probenhaltertyp (z. B. 3-Backen-Bajonetttyp, Bodengabeltyp) können je nach Bedarf ausgewählt werden. Der multifunktionale Probentisch ist ein Schlüsselinstrument für die Materialforschung und Mikroanalyse und wird häufig in Röntgenbeugungsinstrumenten eingesetzt. Sein Wert liegt in der Funktionsintegration, der Flexibilität im Betrieb und der Anpassungsfähigkeit an komplexe experimentelle Anforderungen. Die spezifische Auswahl muss die entsprechenden Module und Leistungsparameter an die jeweiligen Anwendungsszenarien (z. B. Dünnschichttechnologie, Elektronenmikroskopie oder Fehleranalyse) anpassen.

Das Hochleistungs-Röntgendiffraktometer TDM-20 (Benchtop XRD) wird hauptsächlich zur Phasenanalyse von Pulvern, Feststoffen und ähnlichen Pastenmaterialien eingesetzt. Das Prinzip der Röntgenbeugung kann für qualitative und quantitative Analysen, Kristallstrukturanalysen und andere polykristalline Materialien wie Pulver- und Metallproben genutzt werden. Benchtop XRD findet breite Anwendung in Branchen wie Industrie, Landwirtschaft, Landesverteidigung, Pharmazie, Mineralien, Lebensmittelsicherheit, Erdöl, Bildung und wissenschaftlicher Forschung. 1. Kernfunktionen des TDM-20-Tischröntgendiffraktometers (Benchtop XRD): Durch die Beladung mit dem neuen Hochleistungs-Array-Detektor wurde die Gesamtleistung des Geräts bei kleiner Größe und geringem Gewicht erheblich verbessert; Die gesamte Maschine ist in eine Tischgröße (normalerweise ≤ 1 m³) integriert, wodurch Platz gespart wird und sie für kleine Labore oder Unterrichtsumgebungen geeignet ist; Die Arbeitsleistung der Hochfrequenz- und Hochspannungsstromversorgung kann 1600 W erreichen; Schnelle Analyse, ermöglicht schnelles Kalibrieren und Testen von Proben; Durch die Verwendung von Hochleistungsdetektoren (wie z. B. zweidimensionalen Detektoren) und die Optimierung des optischen Pfads kann das Scannen von Proben in wenigen Minuten abgeschlossen werden; Einfache Schaltungssteuerung, leicht zu debuggen und zu installieren; Die Winkelwiederholgenauigkeit kann 0,0001 erreichen; Niedriger Stromverbrauch und Sicherheit durch Verwendung von Röntgenröhren mit geringer Leistung (z. B. ≤ 50 W), ausgestattet mit mehrfachem Strahlenschutz, keine speziellen Abschirmräume erforderlich; Benutzerfreundlich, ausgestattet mit Automatisierungssoftware, unterstützt Ein-Klick-Bedienung, Echtzeit-Datenvisualisierung und Vergleich von Standarddatenbanken (wie z. B. ICDD PDF). 2. Typische Anwendungsszenarien des TDM-20-Tischröntgendiffraktometers (Benchtop XRD): Materialwissenschaft des Röntgendiffraktometers (Benchtop XRD): Schnelle Identifizierung der Kristallstruktur und Phasenzusammensetzung (wie Metalle, Keramik, Polymere). Materialwissenschaft des Röntgendiffraktometers (Benchtop XRD): Prüfung der Kristallreinheit von Rohstoffen oder Fertigprodukten (wie Arzneimitteln und Batteriematerialien) an Industriestandorten. Materialwissenschaft des Röntgendiffraktometers (Benchtop XRD): Experimenteller Unterricht für Studenten, visuelle Demonstration des Bragg-Beugungsprinzips. Materialwissenschaft des Röntgendiffraktometers (Benchtop XRD): Analyse der Mineralzusammensetzung von Kulturdenkmälern oder vorläufige Untersuchung von Feldproben. 3. Technische Parameter des TDM-20-Tischröntgendiffraktometers (Benchtop XRD): Projekt: Parameterbereich Röntgenquelle: Cu-Target (λ=1,54 Å), Mo-Target optional Spannung/Strom: 10–50 kV/0,1–2 mA Winkelmessgerätbereich: 0-90 ° 2θ (einige Modelle können erweitert werden) Winkelauflösung: ≤ 0,01 ° Detektortyp: eindimensionaler linearer oder zweidimensionaler Oberflächendetektor Probengröße: Pulver (Milligramm), Film oder Block 4.Vorteile und Einschränkungen des TDM-20-Tischröntgendiffraktometers (Benchtop XRD): Vorteile: Niedrige Kosten (etwa 1/3–1/2 eines großen XRD), einfache Wartung. Unterstützt zerstörungsfreie Analysen und einfache Probenvorbereitung (z. B. direktes Platzieren von Pulver). Einschränkungen: Die Auflösung und Empfindlichkeit sind etwas geringer als bei High-End-Geräten und sind möglicherweise nicht für die ultrafeine Strukturanalyse geeignet. Tests unter extremen Bedingungen (wie etwa In-situ-Experimente bei hohen Temperaturen/hohen Drücken) sind normalerweise nicht durchführbar.

Der in Röntgendiffraktometern verwendete automatische Probenwechsler ist ein Gerät zum automatisierten Probenwechsel, das die Effizienz und Genauigkeit von Röntgenbeugungsexperimenten verbessern soll. Angetrieben von einem importierten Schrittmotor und gesteuert von einer importierten speicherprogrammierbaren Steuerung (SPS) von Siemens ist ein manueller Probenwechsel nicht erforderlich. Das System misst Proben kontinuierlich und speichert die Daten automatisch. Für eine kontinuierliche Messung können mehrere Proben gleichzeitig geladen werden. Die Hauptkomponenten eines automatischen Probenwechslers sind: Probentransfermechanismus: umfasst normalerweise ein Förderband, eine elastische Druckplatte und einen Antriebsmotor, der für den sequentiellen Transfer der Testprobenplatten zur Entnahmeposition verantwortlich ist. Mechanismus zum Austauschen der Proben: Er besteht im Allgemeinen aus Klemmkomponenten, Antriebskomponenten und einem Drehtisch und kann die Probenplatte automatisch zwischen der Aufnahmeposition des Förderbands und der Probenbühne des Beugungsinstruments austauschen. Sensormodul: z. B. ein fotoelektrisches Sensormodul und ein Fotowiderstandssensormodul, das zum Erkennen der Position der Probe und des Betriebsstatus des Diffraktometers verwendet wird, um das Schaltungsmodul zu steuern und entsprechende Steueraktionen auszuführen. Steuerkreismodul: Verbinden und steuern Sie die Zusammenarbeit der oben genannten Mechanismen und Module, um einen genauen und stabilen Betrieb des automatischen Probenwechselprozesses sicherzustellen. Stromversorgungsmodul: Bietet Stromversorgungsunterstützung für das gesamte automatische Probenwechselgerät. 2. Funktionsprinzip des automatischen Probenwechslers: Nachdem das Diffraktometer die Prüfung der aktuellen Probe abgeschlossen hat, erkennt das Sensormodul die Zustandsänderung des Diffraktometer-Verschlusslichts und überträgt das Signal an das Steuerschaltungsmodul. Nach dem Empfang des Signals aktiviert das Steuerschaltungsmodul den Probenaustauschmechanismus, um ihn zur Aufnahmeposition des Förderbands und zum Probentisch des Beugungsinstruments zu bewegen, und klemmt die Probenplatten jeweils an den beiden Positionen durch die Klemmteile fest. Anschließend tauscht der Probenaustauschmechanismus die Positionen der beiden Probenplatten, um den Probenaustauschvorgang abzuschließen. Anschließend startet das Förderband und transportiert die nächste Probentafel zur Aufnahmeposition, wo auf den nächsten Probenwechsel gewartet wird. 3. Vorteile und Eigenschaften automatischer Probenwechsler: • Verbessern Sie die Testeffizienz: Es kann Proben während des Testvorgangs des Beugungsinstruments automatisch und ohne manuelles Eingreifen austauschen, wodurch der Testzyklus erheblich verkürzt und die Arbeitseffizienz verbessert wird. • Reduzieren Sie menschliche Fehler: Vermeiden Sie Bedienungsfehler und Irrtümer, die beim manuellen Ersetzen von Proben auftreten können, und verbessern Sie die Genauigkeit und Zuverlässigkeit der Testergebnisse. • Instrumentenschutz: Reduziert die Möglichkeit eines Instrumentenausfalls durch häufiges manuelles Öffnen und Schließen der Diffraktometertür und verlängert die Lebensdauer des Diffraktometers. • Geeignet zum Testen einer großen Anzahl von Proben: Es kann mehrere Proben laden, um den Anforderungen des kontinuierlichen Testens einer großen Anzahl von Proben gerecht zu werden, und eignet sich für die Hochdurchsatzerkennung in Bereichen wie wissenschaftlicher Forschung und Produktion. Zusammenfassend lässt sich sagen, dass der in Röntgenbeugungsinstrumenten verwendete automatische Probenwechsler eine effiziente und präzise automatisierte Ausrüstung ist, die viele Annehmlichkeiten und Vorteile für Röntgenbeugungsexperimente mit sich bringt und zur Verbesserung der experimentellen Effizienz und Qualität beiträgt.

Das Zubehör für parallele optische Filmmessungen ist eine optische Komponente, die verwendet wird, um die Signalintensität dünner Filme zu erhöhen und den Einfluss von Substratsignalen auf die Messergebnisse zu verringern. Wird normalerweise in optischen Experimenten oder Instrumenten verwendet, hauptsächlich zur Erzeugung paralleler Strahlen oder zur Durchführung optischer Messungen an Dünnschichtproben. Durch Erhöhen der Gitterlänge kann eine präzisere Steuerung und Filterung des Lichts erreicht werden. Wenn Licht durchdringt, kann die Gitterplatte mehr gestreute Linien herausfiltern, wodurch das durchgelassene Licht reiner und konzentrierter wird. Dadurch wird die Interferenz von gestreutem Licht auf das Dünnschichtsignal verringert und die Signalstärke der Dünnschicht selbst erhöht, wodurch die Genauigkeit und Zuverlässigkeit der Messung verbessert wird. 1. Hauptfunktion des parallelen optischen Filmmesszubehörs Verbesserung der Messgenauigkeit: Bei der Erkennung und Analyse dünner Filme, wie etwa der Messung der Filmdicke oder der Bestimmung optischer Konstanten, können parallele Lichtdünnfilmaufsätze den Einfluss von Substratsignalen wirksam reduzieren, sodass die Messergebnisse näher an den wahren Eigenschaften des dünnen Films liegen und dadurch die Messgenauigkeit und -präzision verbessert wird. Signalstärke verbessern: Hilft, die Intensität des vom Dünnfilm reflektierten oder übertragenen Lichtsignals zu erhöhen, was besonders bei einigen Dünnfilmproben mit schwächeren Signalen wichtig ist. Das verstärkte Signal kann vom Detektor deutlicher empfangen und erkannt werden, wodurch die Nachweisgrenze verringert und die Empfindlichkeit des Instruments zum Nachweis von Dünnfilmproben verbessert wird. Verbesserung der Bildqualität: Bei einigen Anwendungen, die eine bildgebende Beobachtung dünner Filme erfordern, wie z. B. bei der Beobachtung der Oberflächenmorphologie dünner Filme unter einem Mikroskop, können Dünnfilmaufsätze mit parallelem Licht Hintergrundrauschen und Unschärfe durch Streulicht reduzieren, wodurch das Bild des dünnen Films klarer und kontrastreicher wird und die detaillierte Struktur des dünnen Films leichter beobachtet und analysiert werden kann. 2. Hauptkomponenten des parallelen optischen Filmmesszubehörs Lichtquelle: Normalerweise werden Laser, LEDs oder andere monochromatische Lichtquellen verwendet. Kollimatorlinse: wandelt divergierende Lichtstrahlen in paralleles Licht um. Probenständer: dient zum Platzieren von Filmproben und ist in der Regel in Position und Winkel verstellbar. Detektor: dient zum Empfangen von gesendeten oder reflektierten Lichtsignalen zur Messung und Analyse. 3. Anwendungsgebiete des paralleloptischen Filmmesszubehörs Optische Forschung: dient der Untersuchung der optischen Eigenschaften dünner Filme, wie Interferenz, Beugung usw. Materialwissenschaft: Wird verwendet, um die Dicke und den Brechungsindex dünner Filme zu messen und Materialeigenschaften zu bewerten. Industrielle Prüfung: Wird zur Qualitätskontrolle und Prüfung bei der Filmproduktion verwendet. 4. Anleitung für das parallel-optische Filmmesszubehör Justieren Sie die Lichtquelle: Stellen Sie sicher, dass die Lichtquelle stabil ist und der Strahl gleichmäßig ist. Kollimierter Strahl: Passen Sie den Lichtstrahl durch eine Kollimationslinse an, um ihn parallel zu machen. Platzieren Sie die Probe: Platzieren Sie die Filmprobe auf dem Probentisch und passen Sie Position und Winkel an. Messung und Analyse: Verwenden Sie Detektoren, um Lichtsignale zu empfangen, Daten aufzuzeichnen und Analysen durchzuführen. 5. Vorsichtsmaßnahmen Stabilität der Lichtquelle: Stellen Sie die Stabilität der Lichtquelle sicher, um Messfehler zu vermeiden. Reinigung optischer Komponenten: Halten Sie die optischen Komponenten sauber, um zu vermeiden, dass Staub und Flecken die Messergebnisse beeinträchtigen. Probenvorbereitung: Stellen Sie sicher, dass die Filmprobe gleichmäßig und fehlerfrei ist, um genaue Messergebnisse zu erhalten. Zusammenfassend lässt sich sagen, dass das Zubehör für die parallele optische Filmmessung eine wichtige optische Komponente ist, die in vielen Bereichen eine entscheidende Rolle spielt und für die Förderung der wissenschaftlichen Forschung und des technologischen Fortschritts in verwandten Bereichen von großer Bedeutung ist.

Das TDM-20 Benchtop-Röntgendiffraktometer verwendet einen neuen Hochleistungs-Array-Detektor, und die Beladung dieses Detektors hat die Gesamtleistung der Maschine erheblich verbessert. Das TDM-20 Benchtop-XRD wird hauptsächlich zur Phasenanalyse von Pulvern, Feststoffen und ähnlichen pastösen Materialien verwendet. Das TDM-20 Benchtop-Röntgendiffraktometer verwendet das Prinzip der Röntgenbeugung, um qualitative oder quantitative Analysen, Kristallstrukturanalysen und andere polykristalline Materialien wie Pulverproben und Metallproben durchzuführen. Benchtop-XRD wird häufig in Branchen wie Industrie, Landwirtschaft, Landesverteidigung, Pharmazeutika, Mineralien, Lebensmittelsicherheit, Erdöl, Bildung und wissenschaftlicher Forschung eingesetzt.

Das Zubehör zur parallelen optischen Filmmessung vergrößert die Länge der Gitterplatte, um mehr Streulinien herauszufiltern. Dies trägt dazu bei, den Einfluss des Substratsignals auf die Ergebnisse zu verringern und die Signalintensität des Films zu verbessern.

Das Zubehör zur parallelen optischen Filmmessung vergrößert die Länge der Gitterplatte, um mehr Streulinien herauszufiltern. Dies trägt dazu bei, den Einfluss des Substratsignals auf die Ergebnisse zu verringern und die Signalintensität des Films zu verbessern.

Der automatische Probenwechsler verwendet einen importierten Schrittmotorantrieb und eine speicherprogrammierbare Steuerung (SPS) als zentrales Steuerungssystem. Die Auswahl dieser beiden Schlüsselkomponenten gewährleistet maßgeblich die Präzision, Stabilität und langfristige Zuverlässigkeit des Gerätebetriebs. Der Arbeitsablauf des automatischen Probenwechslers ist einfach und effizient gestaltet: Der Bediener lädt bis zu sechs Proben nacheinander in die dafür vorgesehenen Positionen des Probenwechslers. Nach der Einstellung der Messparameter über die Steuerung nimmt der Probenwechsler seinen Betrieb auf. Gemäß den Programmanweisungen liefert es automatisch und präzise jede Probe der Reihe nach an die Messposition des Röntgendiffraktometers. Sobald die Messung einer Probe abgeschlossen ist, entfernt das Gerät diese automatisch und liefert schnell die nächste Probe, bis alle Proben gemessen sind. Die Messdaten werden automatisch gespeichert, was die spätere Überprüfung und Analyse erleichtert und gleichzeitig Aufzeichnungsfehler reduziert, die durch manuelle Vorgänge entstehen können. Der gesamte Prozess erfordert kein manuelles Eingreifen, sodass der Bediener Zeit für andere Aufgaben hat und mögliche ermüdungsbedingte Fehler durch längere Bedienung vermieden werden. Neben der grundlegenden Funktion zum automatischen Probenwechsel verfügt das Gerät über mehrere bemerkenswerte Funktionen: Effizienzsteigerung: Ermöglicht unbeaufsichtigte kontinuierliche automatische Messungen und eignet sich daher besonders für die schnelle Überprüfung von Chargenproben oder die sequenzielle Analyse über lange Zeiträume. Datenkonsistenz: Der automatisierte Prozess reduziert menschliche Eingriffe und trägt dazu bei, die Wiederholbarkeit und Vergleichbarkeit von Messdaten zu verbessern. Einfache Bedienung: Das SPS-basierte Steuerungssystem ist in der Regel stabil und benutzerfreundlich, wodurch die Bedienschwelle gesenkt wird. Flexible Anwendung: Wird hauptsächlich in Bereichen wie Umweltschutz, Elektronik/Batterien und anderen Bereichen verwendet, die Materialanalysetechnologien erfordern. Dieser automatische Probenwechsler dient hauptsächlich dem Anwendungsbereich der Röntgenbeugungsanalyse (XRD). Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. verfügt über langjährige Erfahrung im Bereich analytischer Instrumente. Die Analysegeräte und zerstörungsfreien Prüfgeräte der TD-Serie werden in verschiedenen Bereichen der Materialforschung eingesetzt. Dieser automatische Probenwechsler mit 6 (oder 12) Positionen spiegelt den Ansatz des Unternehmens wider, Automatisierungstechnologie in herkömmliche Prüfgeräte zu integrieren, um die Gesamteffizienz zu steigern. Als funktionales Zubehör arbeitet er mit Röntgendiffraktometern zusammen und erweitert so die Automatisierungsmöglichkeiten des Trägergeräts.

Das Hochleistungs-Röntgendiffraktometer TDM-20 (Tisch-XRD) wird hauptsächlich zur Phasenanalyse von Pulvern, Feststoffen und ähnlichen pastösen Materialien verwendet. Das Prinzip der Röntgenbeugung kann zur qualitativen oder quantitativen Analyse, zur Kristallstrukturanalyse und für andere polykristalline Materialien wie Pulverproben und Metallproben verwendet werden. Es wird häufig in Branchen wie Industrie, Landwirtschaft, Landesverteidigung, Pharmazeutika, Mineralien, Lebensmittelsicherheit, Erdöl, Bildung und wissenschaftlicher Forschung eingesetzt.