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Das Zubehör für parallele optische Filmmessungen ist eine optische Komponente, die verwendet wird, um die Signalintensität dünner Filme zu erhöhen und den Einfluss von Substratsignalen auf die Messergebnisse zu verringern. Wird normalerweise in optischen Experimenten oder Instrumenten verwendet, hauptsächlich zur Erzeugung paralleler Strahlen oder zur Durchführung optischer Messungen an Dünnschichtproben. Durch Erhöhen der Gitterlänge kann eine präzisere Steuerung und Filterung des Lichts erreicht werden. Wenn Licht durchdringt, kann die Gitterplatte mehr gestreute Linien herausfiltern, wodurch das durchgelassene Licht reiner und konzentrierter wird. Dadurch wird die Interferenz von gestreutem Licht auf das Dünnschichtsignal verringert und die Signalstärke der Dünnschicht selbst erhöht, wodurch die Genauigkeit und Zuverlässigkeit der Messung verbessert wird. 1. Hauptfunktion des parallelen optischen Filmmesszubehörs Verbesserung der Messgenauigkeit: Bei der Erkennung und Analyse dünner Filme, wie etwa der Messung der Filmdicke oder der Bestimmung optischer Konstanten, können parallele Lichtdünnfilmaufsätze den Einfluss von Substratsignalen wirksam reduzieren, sodass die Messergebnisse näher an den wahren Eigenschaften des dünnen Films liegen und dadurch die Messgenauigkeit und -präzision verbessert wird. Signalstärke verbessern: Hilft, die Intensität des vom Dünnfilm reflektierten oder übertragenen Lichtsignals zu erhöhen, was besonders bei einigen Dünnfilmproben mit schwächeren Signalen wichtig ist. Das verstärkte Signal kann vom Detektor deutlicher empfangen und erkannt werden, wodurch die Nachweisgrenze verringert und die Empfindlichkeit des Instruments zum Nachweis von Dünnfilmproben verbessert wird. Verbesserung der Bildqualität: Bei einigen Anwendungen, die eine bildgebende Beobachtung dünner Filme erfordern, wie z. B. bei der Beobachtung der Oberflächenmorphologie dünner Filme unter einem Mikroskop, können Dünnfilmaufsätze mit parallelem Licht Hintergrundrauschen und Unschärfe durch Streulicht reduzieren, wodurch das Bild des dünnen Films klarer und kontrastreicher wird und die detaillierte Struktur des dünnen Films leichter beobachtet und analysiert werden kann. 2. Hauptkomponenten des parallelen optischen Filmmesszubehörs Lichtquelle: Normalerweise werden Laser, LEDs oder andere monochromatische Lichtquellen verwendet. Kollimatorlinse: wandelt divergierende Lichtstrahlen in paralleles Licht um. Probenständer: dient zum Platzieren von Filmproben und ist in der Regel in Position und Winkel verstellbar. Detektor: dient zum Empfangen von gesendeten oder reflektierten Lichtsignalen zur Messung und Analyse. 3. Anwendungsgebiete des paralleloptischen Filmmesszubehörs Optische Forschung: dient der Untersuchung der optischen Eigenschaften dünner Filme, wie Interferenz, Beugung usw. Materialwissenschaft: Wird verwendet, um die Dicke und den Brechungsindex dünner Filme zu messen und Materialeigenschaften zu bewerten. Industrielle Prüfung: Wird zur Qualitätskontrolle und Prüfung bei der Filmproduktion verwendet. 4. Anleitung für das parallel-optische Filmmesszubehör Justieren Sie die Lichtquelle: Stellen Sie sicher, dass die Lichtquelle stabil ist und der Strahl gleichmäßig ist. Kollimierter Strahl: Passen Sie den Lichtstrahl durch eine Kollimationslinse an, um ihn parallel zu machen. Platzieren Sie die Probe: Platzieren Sie die Filmprobe auf dem Probentisch und passen Sie Position und Winkel an. Messung und Analyse: Verwenden Sie Detektoren, um Lichtsignale zu empfangen, Daten aufzuzeichnen und Analysen durchzuführen. 5. Vorsichtsmaßnahmen Stabilität der Lichtquelle: Stellen Sie die Stabilität der Lichtquelle sicher, um Messfehler zu vermeiden. Reinigung optischer Komponenten: Halten Sie die optischen Komponenten sauber, um zu vermeiden, dass Staub und Flecken die Messergebnisse beeinträchtigen. Probenvorbereitung: Stellen Sie sicher, dass die Filmprobe gleichmäßig und fehlerfrei ist, um genaue Messergebnisse zu erhalten. Zusammenfassend lässt sich sagen, dass das Zubehör für die parallele optische Filmmessung eine wichtige optische Komponente ist, die in vielen Bereichen eine entscheidende Rolle spielt und für die Förderung der wissenschaftlichen Forschung und des technologischen Fortschritts in verwandten Bereichen von großer Bedeutung ist.

Das TDM-20 Benchtop-Röntgendiffraktometer verwendet einen neuen Hochleistungs-Array-Detektor, und die Beladung dieses Detektors hat die Gesamtleistung der Maschine erheblich verbessert. Das TDM-20 Benchtop-XRD wird hauptsächlich zur Phasenanalyse von Pulvern, Feststoffen und ähnlichen pastösen Materialien verwendet. Das TDM-20 Benchtop-Röntgendiffraktometer verwendet das Prinzip der Röntgenbeugung, um qualitative oder quantitative Analysen, Kristallstrukturanalysen und andere polykristalline Materialien wie Pulverproben und Metallproben durchzuführen. Benchtop-XRD wird häufig in Branchen wie Industrie, Landwirtschaft, Landesverteidigung, Pharmazeutika, Mineralien, Lebensmittelsicherheit, Erdöl, Bildung und wissenschaftlicher Forschung eingesetzt.

Das Zubehör zur parallelen optischen Filmmessung vergrößert die Länge der Gitterplatte, um mehr Streulinien herauszufiltern. Dies trägt dazu bei, den Einfluss des Substratsignals auf die Ergebnisse zu verringern und die Signalintensität des Films zu verbessern.

Das Zubehör zur parallelen optischen Filmmessung vergrößert die Länge der Gitterplatte, um mehr Streulinien herauszufiltern. Dies trägt dazu bei, den Einfluss des Substratsignals auf die Ergebnisse zu verringern und die Signalintensität des Films zu verbessern.

Der automatische Probenwechsler verwendet einen importierten Schrittmotorantrieb und eine speicherprogrammierbare Steuerung (SPS) als zentrales Steuerungssystem. Die Auswahl dieser beiden Schlüsselkomponenten gewährleistet maßgeblich die Präzision, Stabilität und langfristige Zuverlässigkeit des Gerätebetriebs. Der Arbeitsablauf des automatischen Probenwechslers ist einfach und effizient gestaltet: Der Bediener lädt bis zu sechs Proben nacheinander in die dafür vorgesehenen Positionen des Probenwechslers. Nach der Einstellung der Messparameter über die Steuerung nimmt der Probenwechsler seinen Betrieb auf. Gemäß den Programmanweisungen liefert es automatisch und präzise jede Probe der Reihe nach an die Messposition des Röntgendiffraktometers. Sobald die Messung einer Probe abgeschlossen ist, entfernt das Gerät diese automatisch und liefert schnell die nächste Probe, bis alle Proben gemessen sind. Die Messdaten werden automatisch gespeichert, was die spätere Überprüfung und Analyse erleichtert und gleichzeitig Aufzeichnungsfehler reduziert, die durch manuelle Vorgänge entstehen können. Der gesamte Prozess erfordert kein manuelles Eingreifen, sodass der Bediener Zeit für andere Aufgaben hat und mögliche ermüdungsbedingte Fehler durch längere Bedienung vermieden werden. Neben der grundlegenden Funktion zum automatischen Probenwechsel verfügt das Gerät über mehrere bemerkenswerte Funktionen: Effizienzsteigerung: Ermöglicht unbeaufsichtigte kontinuierliche automatische Messungen und eignet sich daher besonders für die schnelle Überprüfung von Chargenproben oder die sequenzielle Analyse über lange Zeiträume. Datenkonsistenz: Der automatisierte Prozess reduziert menschliche Eingriffe und trägt dazu bei, die Wiederholbarkeit und Vergleichbarkeit von Messdaten zu verbessern. Einfache Bedienung: Das SPS-basierte Steuerungssystem ist in der Regel stabil und benutzerfreundlich, wodurch die Bedienschwelle gesenkt wird. Flexible Anwendung: Wird hauptsächlich in Bereichen wie Umweltschutz, Elektronik/Batterien und anderen Bereichen verwendet, die Materialanalysetechnologien erfordern. Dieser automatische Probenwechsler dient hauptsächlich dem Anwendungsbereich der Röntgenbeugungsanalyse (XRD). Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. verfügt über langjährige Erfahrung im Bereich analytischer Instrumente. Die Analysegeräte und zerstörungsfreien Prüfgeräte der TD-Serie werden in verschiedenen Bereichen der Materialforschung eingesetzt. Dieser automatische Probenwechsler mit 6 (oder 12) Positionen spiegelt den Ansatz des Unternehmens wider, Automatisierungstechnologie in herkömmliche Prüfgeräte zu integrieren, um die Gesamteffizienz zu steigern. Als funktionales Zubehör arbeitet er mit Röntgendiffraktometern zusammen und erweitert so die Automatisierungsmöglichkeiten des Trägergeräts.

Das Hochleistungs-Röntgendiffraktometer TDM-20 (Tisch-XRD) wird hauptsächlich zur Phasenanalyse von Pulvern, Feststoffen und ähnlichen pastösen Materialien verwendet. Das Prinzip der Röntgenbeugung kann zur qualitativen oder quantitativen Analyse, zur Kristallstrukturanalyse und für andere polykristalline Materialien wie Pulverproben und Metallproben verwendet werden. Es wird häufig in Branchen wie Industrie, Landwirtschaft, Landesverteidigung, Pharmazeutika, Mineralien, Lebensmittelsicherheit, Erdöl, Bildung und wissenschaftlicher Forschung eingesetzt.

Der automatische Probenwechsler wird von einem importierten Schrittmotor angetrieben und von einer importierten speicherprogrammierbaren Steuerung (SPS) von Siemens gesteuert, wodurch ein manueller Probenwechsel überflüssig wird. Das System misst Proben automatisch kontinuierlich und speichert Daten automatisch. Für eine kontinuierliche Messung können sechs Proben gleichzeitig geladen werden.

Das Zubehör für die parallele optische Filmmessung vergrößert die Länge der Gitterplatte, um mehr Streulinien herauszufiltern. Dies trägt dazu bei, den Einfluss des Substratsignals auf die Ergebnisse zu verringern und die Signalintensität des Films zu verbessern.

Das Röntgendiffraktometer TDM-20 wird hauptsächlich zur Phasenanalyse von Pulvern, Feststoffen und ähnlichen pastösen Materialien verwendet. Das Röntgendiffraktometer kann zur qualitativen oder quantitativen Analyse, zur Kristallstrukturanalyse und für andere polykristalline Materialien wie Pulverproben und Metallproben verwendet werden. Röntgendiffraktometer werden häufig in Branchen wie Industrie, Landwirtschaft, Landesverteidigung, Pharmazie, Mineralien, Lebensmittelsicherheit, Erdöl, Bildung und wissenschaftlicher Forschung eingesetzt. Benchtop XRD ist ein experimentelles Gerät zur Analyse der Kristallstruktur von Materialien. Benchtop XRD bestimmt die Kristallstruktur, Gitterparameter und Phasenzusammensetzung des Materials, indem es Röntgenstrahlen aussendet und den Beugungswinkel und die Intensität nach ihrer Interaktion mit der Probe misst.