Dieser Dünnschichtaufsatz für Röntgendiffraktometer ermöglicht die hochpräzise Analyse von Schichten auf Substraten. Seine optimierte Optik unterdrückt Substratinterferenzen und verstärkt schwache Schichtsignale für zuverlässige Daten im Nanometer- bis Mikrometerbereich. Unverzichtbar für Forschung und Entwicklung in den Bereichen Elektronik, Halbleiter und neue Energien.

2025/12/10

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