Ein leistungsstarker Assistent für präzise Materialanalysen

Das Hochleistungs-Röntgendiffraktometer TDM-20 (Benchtop XRD) wird hauptsächlich zur Phasenanalyse von Pulvern, Feststoffen und ähnlichen Pastenmaterialien eingesetzt. Das Prinzip der Röntgenbeugung kann für qualitative und quantitative Analysen, Kristallstrukturanalysen und andere polykristalline Materialien wie Pulver- und Metallproben genutzt werden. Benchtop XRD findet breite Anwendung in Branchen wie Industrie, Landwirtschaft, Landesverteidigung, Pharmazie, Mineralien, Lebensmittelsicherheit, Erdöl, Bildung und wissenschaftlicher Forschung. 1. Kernfunktionen des TDM-20-Tischröntgendiffraktometers (Benchtop XRD): Durch die Beladung mit dem neuen Hochleistungs-Array-Detektor wurde die Gesamtleistung des Geräts bei kleiner Größe und geringem Gewicht erheblich verbessert; Die gesamte Maschine ist in eine Tischgröße (normalerweise ≤ 1 m³) integriert, wodurch Platz gespart wird und sie für kleine Labore oder Unterrichtsumgebungen geeignet ist; Die Arbeitsleistung der Hochfrequenz- und Hochspannungsstromversorgung kann 1600 W erreichen; Schnelle Analyse, ermöglicht schnelles Kalibrieren und Testen von Proben; Durch die Verwendung von Hochleistungsdetektoren (wie z. B. zweidimensionalen Detektoren) und die Optimierung des optischen Pfads kann das Scannen von Proben in wenigen Minuten abgeschlossen werden; Einfache Schaltungssteuerung, leicht zu debuggen und zu installieren; Die Winkelwiederholgenauigkeit kann 0,0001 erreichen; Niedriger Stromverbrauch und Sicherheit durch Verwendung von Röntgenröhren mit geringer Leistung (z. B. ≤ 50 W), ausgestattet mit mehrfachem Strahlenschutz, keine speziellen Abschirmräume erforderlich; Benutzerfreundlich, ausgestattet mit Automatisierungssoftware, unterstützt Ein-Klick-Bedienung, Echtzeit-Datenvisualisierung und Vergleich von Standarddatenbanken (wie z. B. ICDD PDF). 2. Typische Anwendungsszenarien des TDM-20-Tischröntgendiffraktometers (Benchtop XRD): Materialwissenschaft des Röntgendiffraktometers (Benchtop XRD): Schnelle Identifizierung der Kristallstruktur und Phasenzusammensetzung (wie Metalle, Keramik, Polymere). Materialwissenschaft des Röntgendiffraktometers (Benchtop XRD): Prüfung der Kristallreinheit von Rohstoffen oder Fertigprodukten (wie Arzneimitteln und Batteriematerialien) an Industriestandorten. Materialwissenschaft des Röntgendiffraktometers (Benchtop XRD): Experimenteller Unterricht für Studenten, visuelle Demonstration des Bragg-Beugungsprinzips. Materialwissenschaft des Röntgendiffraktometers (Benchtop XRD): Analyse der Mineralzusammensetzung von Kulturdenkmälern oder vorläufige Untersuchung von Feldproben. 3. Technische Parameter des TDM-20-Tischröntgendiffraktometers (Benchtop XRD): Projekt: Parameterbereich Röntgenquelle: Cu-Target (λ=1,54 Å), Mo-Target optional Spannung/Strom: 10–50 kV/0,1–2 mA Winkelmessgerätbereich: 0-90 ° 2θ (einige Modelle können erweitert werden) Winkelauflösung: ≤ 0,01 ° Detektortyp: eindimensionaler linearer oder zweidimensionaler Oberflächendetektor Probengröße: Pulver (Milligramm), Film oder Block 4.Vorteile und Einschränkungen des TDM-20-Tischröntgendiffraktometers (Benchtop XRD): Vorteile: Niedrige Kosten (etwa 1/3–1/2 eines großen XRD), einfache Wartung. Unterstützt zerstörungsfreie Analysen und einfache Probenvorbereitung (z. B. direktes Platzieren von Pulver). Einschränkungen: Die Auflösung und Empfindlichkeit sind etwas geringer als bei High-End-Geräten und sind möglicherweise nicht für die ultrafeine Strukturanalyse geeignet. Tests unter extremen Bedingungen (wie etwa In-situ-Experimente bei hohen Temperaturen/hohen Drücken) sind normalerweise nicht durchführbar.

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