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Das Röntgendiffraktometer TDM-20 (Benchtop XRD) wird hauptsächlich zur Phasenanalyse von Pulvern, Feststoffen und pastösen Substanzen eingesetzt. Basierend auf dem Prinzip der Röntgenbeugung ermöglicht es qualitative und quantitative Analysen sowie die Kristallstrukturanalyse polykristalliner Materialien wie Pulver- und Metallproben. Es findet breite Anwendung in Branchen wie Industrie, Landwirtschaft, Landesverteidigung, Pharmazie, Mineralogie, Lebensmittelsicherheit, Erdöl sowie Bildung/Forschung. Kernprinzip: Röntgenbeugung, der Schlüssel zur mikroskopischen Welt Das Röntgendiffraktometer TDM-20 arbeitet nach dem Prinzip der Röntgenbeugung. Wenn Röntgenstrahlen eine Probe beleuchten, interagieren sie mit den Atomen in der Probe und beugen diese. Unterschiedliche Kristallstrukturen erzeugen einzigartige Beugungsmuster, ähnlich einem individuellen Fingerabdruck. Durch die Analyse dieser Muster liefert das Gerät präzise Informationen über die Kristallstruktur, die Phasenzusammensetzung und vieles mehr der Probe und enthüllt so die auf mikroskopischer Ebene verborgenen Geheimnisse. Leistungsdurchbruch Das Röntgendiffraktometer TDM-20 (Benchtop XRD) übertrifft den bisherigen internationalen Standard von 600 W und wird umfassend auf 1200 W aufgerüstet. Das Gerät zeichnet sich durch einfache Bedienung, stabile Leistung und geringen Energieverbrauch aus. Es kann entweder mit einem Proportionaldetektor oder einem neuen Hochgeschwindigkeits-Arraydetektor ausgestattet werden, was zu einem deutlichen Leistungssprung führt. Gerätefunktionen Kompakte Größe und leichtes Design Hochfrequenz- und Hochspannungs-Stromversorgungsdesign für geringeren Gesamtenergieverbrauch Unterstützt schnelle Probenkalibrierung und -prüfung Vereinfachte Schaltkreissteuerung für einfaches Debuggen und Installieren Die lineare Genauigkeit des Beugungswinkels im gesamten Spektrum erreicht ±0,01° Reichhaltiges Zubehör Das TDM-20 kann mit verschiedenen Zubehörteilen kombiniert werden, darunter ein 1D-Array-Detektor, ein Proportionaldetektor, ein automatischer Probenwechsler mit 6 Positionen und ein rotierender Probentisch. Abschluss Das Röntgendiffraktometer TDM-20 (Benchtop XRD) hat sich mit seiner herausragenden Leistung, der benutzerfreundlichen Bedienung und dem breiten Anwendungsspektrum zu einem unverzichtbaren Werkzeug in zahlreichen Branchen und Forschungsbereichen entwickelt. Es fungiert als „Detektiv“ der mikroskopischen Welt, hilft uns, die Geheimnisse der Materialstruktur zu lüften und den Fortschritt in verschiedenen Bereichen voranzutreiben. Wenn auch Sie tiefer in die mikroskopischen Geheimnisse der Materie eintauchen möchten, ist das TDM-20 der richtige Weg zu präziser und effizienter Forschung und Produktion.
Das Hochleistungs-Röntgendiffraktometer TDM-20 (Benchtop XRD) wird hauptsächlich zur Phasenanalyse von Pulvern, Feststoffen und ähnlichen Pastenmaterialien eingesetzt. Das Prinzip der Röntgenbeugung kann für qualitative und quantitative Analysen, Kristallstrukturanalysen und andere polykristalline Materialien wie Pulver- und Metallproben genutzt werden. Benchtop XRD findet breite Anwendung in Branchen wie Industrie, Landwirtschaft, Landesverteidigung, Pharmazie, Mineralien, Lebensmittelsicherheit, Erdöl, Bildung und wissenschaftlicher Forschung. 1. Kernfunktionen des TDM-20-Tischröntgendiffraktometers (Benchtop XRD): Durch die Beladung mit dem neuen Hochleistungs-Array-Detektor wurde die Gesamtleistung des Geräts bei kleiner Größe und geringem Gewicht erheblich verbessert; Die gesamte Maschine ist in eine Tischgröße (normalerweise ≤ 1 m³) integriert, wodurch Platz gespart wird und sie für kleine Labore oder Unterrichtsumgebungen geeignet ist; Die Arbeitsleistung der Hochfrequenz- und Hochspannungsstromversorgung kann 1600 W erreichen; Schnelle Analyse, ermöglicht schnelles Kalibrieren und Testen von Proben; Durch die Verwendung von Hochleistungsdetektoren (wie z. B. zweidimensionalen Detektoren) und die Optimierung des optischen Pfads kann das Scannen von Proben in wenigen Minuten abgeschlossen werden; Einfache Schaltungssteuerung, leicht zu debuggen und zu installieren; Die Winkelwiederholgenauigkeit kann 0,0001 erreichen; Niedriger Stromverbrauch und Sicherheit durch Verwendung von Röntgenröhren mit geringer Leistung (z. B. ≤ 50 W), ausgestattet mit mehrfachem Strahlenschutz, keine speziellen Abschirmräume erforderlich; Benutzerfreundlich, ausgestattet mit Automatisierungssoftware, unterstützt Ein-Klick-Bedienung, Echtzeit-Datenvisualisierung und Vergleich von Standarddatenbanken (wie z. B. ICDD PDF). 2. Typische Anwendungsszenarien des TDM-20-Tischröntgendiffraktometers (Benchtop XRD): Materialwissenschaft des Röntgendiffraktometers (Benchtop XRD): Schnelle Identifizierung der Kristallstruktur und Phasenzusammensetzung (wie Metalle, Keramik, Polymere). Materialwissenschaft des Röntgendiffraktometers (Benchtop XRD): Prüfung der Kristallreinheit von Rohstoffen oder Fertigprodukten (wie Arzneimitteln und Batteriematerialien) an Industriestandorten. Materialwissenschaft des Röntgendiffraktometers (Benchtop XRD): Experimenteller Unterricht für Studenten, visuelle Demonstration des Bragg-Beugungsprinzips. Materialwissenschaft des Röntgendiffraktometers (Benchtop XRD): Analyse der Mineralzusammensetzung von Kulturdenkmälern oder vorläufige Untersuchung von Feldproben. 3. Technische Parameter des TDM-20-Tischröntgendiffraktometers (Benchtop XRD): Projekt: Parameterbereich Röntgenquelle: Cu-Target (λ=1,54 Å), Mo-Target optional Spannung/Strom: 10–50 kV/0,1–2 mA Winkelmessgerätbereich: 0-90 ° 2θ (einige Modelle können erweitert werden) Winkelauflösung: ≤ 0,01 ° Detektortyp: eindimensionaler linearer oder zweidimensionaler Oberflächendetektor Probengröße: Pulver (Milligramm), Film oder Block 4.Vorteile und Einschränkungen des TDM-20-Tischröntgendiffraktometers (Benchtop XRD): Vorteile: Niedrige Kosten (etwa 1/3–1/2 eines großen XRD), einfache Wartung. Unterstützt zerstörungsfreie Analysen und einfache Probenvorbereitung (z. B. direktes Platzieren von Pulver). Einschränkungen: Die Auflösung und Empfindlichkeit sind etwas geringer als bei High-End-Geräten und sind möglicherweise nicht für die ultrafeine Strukturanalyse geeignet. Tests unter extremen Bedingungen (wie etwa In-situ-Experimente bei hohen Temperaturen/hohen Drücken) sind normalerweise nicht durchführbar.