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Dandong Tongda XAFS-Spektrometer: Ein Werkzeug zur Materialstrukturanalyse für das Labor Präzise Analyse der atomaren Materialstruktur ohne Abhängigkeit von Synchrotronstrahlungsquellen. Die Röntgenabsorptionsfeinstrukturspektroskopie (XAFS) ist eine wichtige Technik zur Untersuchung der lokalen atomaren und elektronischen Strukturen von Materialien und findet breite Anwendung in der Katalyse, Energieforschung und Materialwissenschaft. Die konventionelle XAFS-Methode basiert hauptsächlich auf Synchrotronstrahlungsquellen. Dies bringt Herausforderungen mit sich, darunter eine begrenzte Strahlverfügbarkeit, komplexe Anwendungsverfahren und die Notwendigkeit, Proben zur Analyse zu großen wissenschaftlichen Einrichtungen zu transportieren. Die von Dandong Tongda Technology Co., Ltd. entwickelte Röntgenabsorptions-Feinstruktur zielt darauf ab, diese anspruchsvolle Analysefunktion in Standardlaborumgebungen zu integrieren. Kernvorteile und praktischer Wert Das Design dieses Instruments geht auf mehrere kritische Herausforderungen ein, denen sich Forscher gegenübersehen: Laborbasierte Alternative zur Synchrotronstrahlung: Eliminiert die traditionelle Abhängigkeit von Synchrotronstrahlungsquellen und ermöglicht es Forschern, routinemäßige XAFS-Tests effizient in ihren eigenen Laborumgebungen durchzuführen, wodurch die Forschungsproduktivität erheblich gesteigert wird. In-situ-Testfunktionen: Unterstützt die Integration verschiedener In-situ-Probenkammern (z. B. elektrochemisch, temperaturvariabel), wodurch die Echtzeitüberwachung dynamischer Änderungen der lokalen Atomstruktur von Materialien unter simulierten Betriebsbedingungen (wie katalytischen Reaktionen oder Lade-/Entladevorgängen von Batterien) ermöglicht wird, was wertvolle Einblicke in Reaktionsmechanismen liefert. Automatisierter Betrieb für verbesserte Effizienz: Ein Probenrevolver mit 18 Positionen ermöglicht den automatischen Probenwechsel und erleichtert so die kontinuierliche automatisierte Messung mehrerer Proben sowie den unbemannten Betrieb. Dadurch werden die Chargenprobenprüfung und erweiterte In-situ-Experimente optimiert. Breiter Anwendungsbereich Das TD-XAFS-Spektrometer findet Anwendung in zahlreichen Bereichen, in denen eine detaillierte Untersuchung lokaler Materialstrukturen erforderlich ist: Neue Energiematerialien: Analyse von Valenzzustandsänderungen und struktureller Stabilität in Elektrodenmaterialien von Lithium-Ionen-Batterien während Lade-/Entladevorgängen; Untersuchung von Koordinationsumgebungen an katalytisch aktiven Stellen in Brennstoffzellen. Katalysewissenschaft: Besonders geeignet für die Untersuchung präziser Koordinationsstrukturen von Nanokatalysatoren und Einzelatomkatalysatoren, der Eigenschaften aktiver Zentren und ihrer Wechselwirkungen mit Trägermaterialien, selbst bei geringen Metallbeladungen (<1%). Materialwissenschaft: Untersuchung ungeordneter Strukturen, amorpher Materialien, Oberflächen-/Grenzflächeneffekte und dynamischer Phasenübergangsprozesse. Umweltwissenschaften: Analyse der Valenzzustände und Koordinationsstrukturen von Schwermetallelementen in Umweltproben (z. B. Boden, Wasser), entscheidend für die Beurteilung von Toxizität und Mobilität. Biologische Makromoleküle: Untersuchung der elektronischen Strukturen und geometrischen Konfigurationen von metallischen aktiven Zentren in Metalloproteinen und Enzymen. Zusammenfassung Das TD-XAFS-Spektrometer von Dandong Tongda ist eine leistungsstarke Testplattform für den heimischen Tischgebrauch, die für Universitäten, Forschungseinrichtungen und Forschungs- und Entwicklungszentren von Unternehmen entwickelt wurde. Es integriert erfolgreich Synchrotron-Funktionen in konventionelle Labore und reduziert so die Zugangsbarriere zur XAFS-Technologie erheblich. Das Instrument bietet Forschern praktische, effiziente und flexible Werkzeuge für die mikroskopische Materialstrukturanalyse und stellt eine praktische Lösung für Wissenschaftler dar, die die mikroskopische Welt der Materie erforschen.