Das TD-3700hochauflösendes Röntgendiffraktometerist ein neues Mitglied der TD-Serie und verfügt über eine Vielzahl leistungsstarker Detektoren wie schnelle eindimensionale Array-Detektoren, zweidimensionale Detektoren, SDD-Detektoren usw. Es vereint schnelle Analyse, komfortable Bedienung und Anwendersicherheit. Die modulare Hardwarearchitektur und das maßgeschneiderte Softwaresystem bilden eine perfekte Kombination, die eine extrem niedrige Ausfallrate, eine hohe Entstörungsleistung und einen langfristig stabilen Betrieb der Hochspannungsversorgung gewährleistet.

Das TD-3700hochauflösendes RöntgendiffraktometerUnterstützt nicht nur die konventionelle Beugungsdatenerfassung, sondern auch die Transmissionsdatenerfassung. Die Auflösung des Transmissionsmodus ist deutlich höher als die des Beugungsmodus und eignet sich daher für Strukturanalysen und andere Bereiche. Der Beugungsmodus weist starke Beugungssignale auf und eignet sich besser für die routinemäßige Phasenidentifikation im Labor. Darüber hinaus kann die Pulverprobe im Transmissionsmodus nur in Spuren vorliegen, was die Datenerfassung bei relativ kleinen Probenmengen erleichtert, die den Anforderungen der Beugungsmethode zur Probenvorbereitung nicht genügen.

Der Array-Detektor nutzt die Mixed-Photon-Counting-Technologie voll aus und arbeitet rauschfrei, mit schneller Datenerfassung und mehr als zehnmal schneller als Szintillationsdetektoren. Er verfügt über eine exzellente Energieauflösung und kann Fluoreszenzeffekte effektiv eliminieren. Mehrkanaldetektoren haben schnellere Auslesezeiten und erzielen bessere Signal-Rausch-Verhältnisse. Ein Detektorsteuerungssystem mit elektronischer Gating-Funktion und externer Triggerung vervollständigt die Systemsynchronisation.

Das Funktionsprinzip des TD-3700hochauflösendes Röntgendiffraktometer:

Durch die Nutzung der Röntgenstrahlungsfluktuation wirken Atome oder Ionen im Kristall beim Auftreffen auf einen Kristall als Streuzentren und streuen die Röntgenstrahlen in alle Richtungen. Aufgrund der regelmäßigen Atomanordnung im Kristall interferieren diese Streuwellen miteinander und verstärken sich in bestimmten Richtungen, wodurch Beugung entsteht. Durch Messung des Beugungswinkels und der Beugungsintensität können Strukturinformationen zum Kristall gewonnen werden.

Die Hauptmerkmale des TD-3700hochauflösendes RöntgendiffraktometerSind:

(1) Einfach zu bedienendes Ein-Klick-Sammelsystem;    

(2) Modularer Aufbau, Plug-and-Play-Instrumentenzubehör, keine Kalibrierung erforderlich;

(3) Online-Überwachung in Echtzeit über einen Touchscreen zur Anzeige des Gerätestatus;

(4) Elektronische Türverriegelung mit doppeltem Schutz, die die Sicherheit des Benutzers gewährleistet;

(5) Hochfrequenz- und Hochspannungs-Röntgengenerator mit stabiler und zuverlässiger Leistung;

(6) Fortschrittliche Aufnahmesteuereinheit mit starker Entstörungsfähigkeit.

Die hohe Präzision des TD-3700hochauflösendes Röntgendiffraktometerermöglicht hochpräzise Analysen der Kristallstruktur von Materialien, wie z. B. die präzise Bestimmung von Gitterkonstanten, Zellparametern usw. Die Winkelmessgenauigkeit kann erreichen±0,0001°.

Die hohe Auflösung des TD-3700hochauflösendes Röntgendiffraktometerkann benachbarte Beugungsspitzen klar unterscheiden, Beugungsinformationen verschiedener Kristallebenen für komplexe Kristallstrukturen genau analysieren und die Mikrostruktureigenschaften von Materialien aufdecken.

Die zerstörungsfreie Natur des TD-3700hochauflösendes Röntgendiffraktometer: Während des Testvorgangs wird die Probe nicht beschädigt und kann für mehrere Tests in ihrem ursprünglichen Zustand belassen werden, was besonders bei wertvollen oder schwer zu beschaffenden Proben wichtig ist.

Schnelle Analyse von TD-3700hochauflösendes Röntgendiffraktometer: Moderne hochauflösende Röntgendiffraktometer verfügen über schnelle Erkennungsfunktionen und können Probentests in kurzer Zeit abschließen, wodurch die Arbeitseffizienz verbessert wird.

3. Anwendungsbereiche des TD-3700hochauflösendes Röntgendiffraktometer:

Halbleitermaterialien: Wird verwendet, um die Kristallqualität von Halbleiter-Einkristallmaterialien und epitaktischen Dünnfilmen zu erkennen, Gitterfehlanpassungen, Defekte und andere Informationen zu analysieren, was zur Optimierung der Leistung von Halbleiterbauelementen beiträgt.

Supraleitende Materialien: Untersuchen Sie die Kristallstruktur und den Phasenübergangsprozess supraleitender Materialien, um eine Grundlage für die Optimierung supraleitender Eigenschaften zu schaffen.

Nanomaterialien: Durch die Analyse der Korngröße, Kristallstruktur, mikroskopischen Spannung usw. von Nanomaterialien können Forscher deren Eigenschaften und Anwendungen besser verstehen.

Andere Bereiche: Es wird auch häufig in der Forschung und Qualitätskontrolle von Metallmaterialien, Keramikmaterialien, Polymermaterialien, Biomaterialien und anderen Bereichen eingesetzt. Das hochauflösende Röntgendiffraktometer ist ein hochpräzises, hochauflösendes, zerstörungsfreies und schnelles Analyseinstrument mit wichtigem Anwendungswert in vielen Bereichen.