Produktübersicht

DerMultifunktionaler integrierter Messaufsatzist ein hochpräzises Hilfsmesssystem, das für Weitwinkelgoniometer entwickelt wurde.Multifunktionaler integrierter MessaufsatzDas System dient primär der umfassenden Strukturanalyse von flächigen Materialien, Massenwerkstoffen und auf Substraten aufgebrachten Filmen. Es ermöglicht diverse anspruchsvolle Prüfaufgaben, darunter Phasenidentifizierung, Orientierungsgradmessung, Texturanalyse, Spannungsprüfung und Charakterisierung der Dünnschichtstruktur in der Ebene. Durch die Integration mehrerer Bewegungsachsen bietet dieses System eine leistungsstarke Plattform zur Untersuchung von Materialmikrostrukturen und mechanischen Eigenschaften.

Merkmale

Die Kernfunktionalitäten vonMultifunktionaler integrierter Messaufsatz spiegeln sich in den vielfältigen Testmodi und der hochpräzisen Bewegungssteuerung wider:

Polfigurenprüfung: Unterstützt die Polfigurenabbildung mittels Transmissions- oder Reflexionsmethode und ermöglicht so die vollständige Charakterisierung der bevorzugten Orientierungsverteilung der Körner in polykristallinen Materialien.

Spannungsprüfung: Umfasst sowohl die Seitneigungsmethode als auch die Isoneigungsmethode zur Spannungsmessung und bietet somit Flexibilität zur Anpassung an unterschiedliche Versuchsaufbauten und Probenbedingungen für eine genaue Messung von Oberflächen- und inneren Eigenspannungen in Werkstoffen.

Dünnschichtstrukturanalyse: Ausgestattet mit der Möglichkeit zur Rotation der Probe in der Ebene (β-Achse), eignet es sich besonders für die Untersuchung anisotroper Dünnschichtmaterialien und die Analyse von Kristallstrukturinformationen entlang verschiedener Richtungen in der Ebene.

Mehrachsige synchronisierte Präzisionssteuerung: Erreicht eine präzise Anpassung der räumlichen Lage und Positionierung der Probe für komplexe Scanpfade durch die koordinierte Bewegung der hochpräzisen Alpha- (Neigung), Beta- (Rotation) und Z-Achse (Heben).

Anwendungsgebiete

Multifunktionaler integrierter Messaufsatz besitzt ein breites Anwendungsgebiet, das nahezu alle Bereiche der fortgeschrittenen Werkstoffkunde abdeckt, die eine eingehende Analyse der Kristallstruktur und des Spannungszustands erfordern:

Metallische Werkstoffe: Werden verwendet, um die Gesamtstruktur (Textur) von gewalzten Blechen zu bewerten und deren Anisotropie nach der Umformung zu analysieren.

Keramik und Funktionskeramik: Führt Orientierungsbewertungen von Keramikwerkstoffen durch, die für das Verständnis ihrer piezoelektrischen, ferroelektrischen und anderer Eigenschaften von entscheidender Bedeutung sind.

Dünnschichten und Beschichtungen:

Bewertet die bevorzugte Orientierung von Kristallen in Dünnschichtproben.

Führt Eigenspannungsprüfungen an verschiedenen Metall- und Keramikwerkstoffen durch, um mechanische Eigenschaften wie Verschleißfestigkeit und Bearbeitbarkeit zu bewerten.

Führt Eigenspannungsprüfungen an Mehrschichtfolien durch, um das Ablösen der Folien vorherzusagen und zu verhindern.

Analysiert supraleitende Hochtemperatur-Dünnschichten, Oxid-/Nitrid-Schichten auf Metallblechen und Mehrschichtschichten auf Glas-, Silizium- und Metallsubstraten (z. B. magnetische Dünnschichten, gehärtete Metalloberflächenbeschichtungen).

Polymer- und Verbundwerkstoffe: Werden zur Struktur- und Leistungsanalyse von makromolekularen Materialien, Papier, Linsen und anderen Beschichtungsmaterialien verwendet.

Technische Spezifikationen

Die technischen Spezifikationen vonMultifunktionaler integrierter Messaufsatz spiegeln seine hohe Präzision und Flexibilität wider. Die wichtigsten Parameter sind wie folgt:

Alpha-Achse (Neigung):

Dynamikbereich: -45° bis 90°

Minimale Schrittweite: 0,001°/Schritt

Beta-Achse (Rotation / Rotation in der Ebene):

Dynamikbereich: 0° bis 360°

Minimale Schrittweite: 0,001°/Schritt

Z-Achse (Heben):

Dynamikbereich: 0 - 10 mm

Minimale Schrittweite: 0,001 mm/Schritt

Stichprobengröße:

Maximaler Probendurchmesser: Φ100 mm

Die Probendicke kann an unterschiedliche Testanforderungen angepasst werden.