Der multifunktionaler integrierter Messaufsatz Ist Wird zur Analyse von Filmen auf Platten, Blöcken und Substraten verwendet und kann Tests wie Kristallphasenerkennung, Ausrichtung, Textur, Spannung und In-Plane-Struktur von Dünnfilmen durchführen.

Funktionale Eigenschaften vonmultifunktionales integriertes Messzubehör:

Führen Sie Polardiagrammtests mithilfe von Transmissions- oder Reflexionsmethoden durch.

Belastungstests können entweder mit der Parallel-Neigungsmethode oder der Gleich-Neigungsmethode durchgeführt werden.

Dünnschichtprüfung (Rotation der Proben in der Ebene)

Anwendungsgebiete vonmultifunktionales integriertes Messzubehör:

Bewertung von Metallbaugruppenstrukturen wie beispielsweise gewalzten Platten;

Bewertung der Keramikorientierung;

Bewertung der Kristallprioritätsorientierung in Dünnschichtproben;

Eigenspannungsprüfung verschiedener metallischer und keramischer Werkstoffe (Bewertung der Verschleißfestigkeit, Schnittfestigkeit etc.);

Eigenspannungsprüfung von Mehrschichtfolien (Beurteilung von Folienablösungen etc.);

Analyse von Oberflächenoxidation und Nitridfilmen auf Hochtemperatur-Supraleitermaterialien wie dünnen Filmen und Metallplatten;

Glas-Si. Analyse von Mehrschichtfilmen auf Metallsubstraten (magnetische Dünnfilme, Filme zur Härtung von Metalloberflächen usw.);

Analyse von galvanischen Materialien wie makromolekularen Materialien, Papier und Linsen.

Technische Daten fürmultifunktionales integriertes Messzubehör:

Alpha-Achse (Neigung) Mindestschrittweite: 0,001 °/Schritt, Dynamikbereich: -45°-90°      

Minimale Schrittweite der β-Achse (Rotation): 0,001 °/Schritt, Dynamikbereich: 0 ° -360 °

Minimaler Schrittabstand auf der Z-Achse: 0,001 °/Schritt, Dynamikbereich: 0-10mm

Probengröße: maximaler Durchmesser von 100 mm, einstellbare Dicke