XRD-Spektrogrammanalyse
2024-05-31 00:00Die Zusammensetzung des Beugungsmusters besteht hauptsächlich aus der Position und Intensität des Beugungspeaks. Die Analyse derRöntgenbeugungDas Muster basiert auf Intensitäts- und Positionsänderungen, um Materialtransformationen sowohl auf Mikro- als auch auf Makroebene zu verdeutlichen.
Jedes Material besitzt sein eigenes einzigartiges Beugungsmuster, das auch als Charakteristik bezeichnet wirdBeugungMuster. Die Zellgröße des Materials bestimmt die Position der Beugungslinie, dh die im Beugungsspektrum beobachtete Peakposition; während die Art und Anordnung der Atome innerhalb der Zelle die Intensität jedes Beugungspeaks bestimmen. Darüber hinaus bestimmt die Symmetrie der Kristallform die Anzahl der vorhandenen Beugungspeaks.
DerRöntgendiffraktometerist derzeit das fortschrittlichste System der Welt, das voll funktionsfähig und anpassbar für verschiedene Mikrostrukturbestimmungs-, Analyse- und Forschungsaufgaben von Pulvern, Filmen und vollständigen Kristallen ist. Jeder Stoff hat sein eigenes charakteristisches Beugungsspektrum im Röntgenbeugungsspektrum. In einem heterogenen Stoffgemisch stellt das XRD-Spektrum eine einfache Überlagerung jeder Phase dar.
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