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  • Einkristall-Röntgenstrukturanalyse
    Einkristall-Röntgenstrukturanalyse
    1. Die Einkristallmaschine verwendet SPS-Steuerungstechnik. 2. Modulares Design, Zubehör einfach per Plug & Play anschließen. 3. Elektronische Türverriegelung mit doppeltem Schutz. 4. Einkristall-Röntgenröhre: Es können verschiedene Targets ausgewählt werden, z. B. Cu, Mo usw. 5. Der Einkristall verwendet eine Vierkreis-Konzentrizitätstechnologie, um sicherzustellen, dass der Mittelpunkt des Goniometers unverändert bleibt.
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  • Diffraktometer
    Diffraktometer
    1. Die Genauigkeit des Diffraktometers ist hoch. 2. Das Anwendungsgebiet des Diffraktometers ist breit. 3. Das Diffraktometer ist einfach zu bedienen, komfortabel und effizient.
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  • Serien-Röntgenkristallanalysator
    Serien-Röntgenkristallanalysator
    1. Das Röntgengerät ist einfach zu bedienen und liefert schnelle Ergebnisse. 2. Das Röntgengerät ist präzise und zuverlässig und zeichnet sich durch hervorragende Leistung aus. 3. Das Röntgengerät verfügt über verschiedene funktionelle Zubehörteile, um den Anforderungen unterschiedlicher Testzwecke gerecht zu werden.
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  • Pulverdiffraktometer
    Pulverdiffraktometer
    1. Detektortyp: Array-Detektor oder SDD-Detektor; 2. Automatische Steuerungsberechnung der SPS, Konvertierung des Integrationsmodus, SPS führt automatisch PHA und Totzeitkorrektur durch 3. Probenmesstyp: Pulverprobe, Flüssigkeitsproben, Schmelzproben, viskose Proben, lose Pulver, Schüttgutproben 4.Erhältlich mit einer Vielzahl von Diffraktometer-Zubehör 5.Maximale Leistung Pulver: 3kW
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Anwendung von XRD – Strukturanalyse des mesoporösen Molekularsiebs SBA-15

2023-12-25

Das mesoporöse Molekularsieb SBA-15 hat eine zweidimensionale hexagonale Porenstruktur mit großen Zellen, größerer Porengröße, dickerer Porenwand und höherem Porenvolumen und verfügt über eine bessere hydrothermale Stabilität, die ein breites Anwendungsspektrum in der Katalyse, Trennung, Biologie und anderen Bereichen bietet Nanomaterialien. Die strukturelle Stabilität von SBA-15 hängt eng mit seiner Porengröße und seinen Eigenschaften zusammenXRDist eine der effektivsten Methoden zur Charakterisierung seiner Struktur. Derzeit mit der Entwicklung vonDiffraktometerDas Design eines dynamischen optischen Pfads löst diese Probleme gut.


Beispiel:

Das Kleinwinkel-XRD-Muster von SBA-15 ist in Abbildung 1 dargestellt. Die Kleinwinkelstreuung ist gut kontrolliert und dieBeugung Höhepunkt ist offensichtlich. Die fünf Beugungspeaks entsprechen (100), (110), (200), (300) und (220). Gemäß dem Strukturdiagramm von SBA-15 in Abb. 2 wird der durchschnittliche Lochabstand a0=12,27 nm berechnet.

XRD

                       Abb. 1 Kleinwinkel-XRD-Muster von SBA-15

diffraction

     Abbildung 2 Strukturdiagramm von L-SBA-15. Kristallstrukturdiagramm von rechts-SBA-15

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