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  • Einkristall-Röntgenstrukturanalyse
    Einkristall-Röntgenstrukturanalyse
    1. Die Einkristallmaschine verwendet SPS-Steuerungstechnik. 2. Modulares Design, Zubehör einfach per Plug & Play anschließen. 3. Elektronische Türverriegelung mit doppeltem Schutz. 4. Einkristall-Röntgenröhre: Es können verschiedene Targets ausgewählt werden, z. B. Cu, Mo usw. 5. Der Einkristall verwendet eine Vierkreis-Konzentrizitätstechnologie, um sicherzustellen, dass der Mittelpunkt des Goniometers unverändert bleibt.
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  • Diffraktometer
    Diffraktometer
    1. Die Genauigkeit des Diffraktometers ist hoch. 2. Das Anwendungsgebiet des Diffraktometers ist breit. 3. Das Diffraktometer ist einfach zu bedienen, komfortabel und effizient.
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  • Serien-Röntgenkristallanalysator
    Serien-Röntgenkristallanalysator
    1. Das Röntgengerät ist einfach zu bedienen und liefert schnelle Ergebnisse. 2. Das Röntgengerät ist präzise und zuverlässig und zeichnet sich durch hervorragende Leistung aus. 3. Das Röntgengerät verfügt über verschiedene funktionelle Zubehörteile, um den Anforderungen unterschiedlicher Testzwecke gerecht zu werden.
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  • Pulverdiffraktometer
    Pulverdiffraktometer
    1. Detektortyp: Array-Detektor oder SDD-Detektor; 2. Automatische Steuerungsberechnung der SPS, Konvertierung des Integrationsmodus, SPS führt automatisch PHA und Totzeitkorrektur durch 3. Probenmesstyp: Pulverprobe, Flüssigkeitsproben, Schmelzproben, viskose Proben, lose Pulver, Schüttgutproben 4.Erhältlich mit einer Vielzahl von Diffraktometer-Zubehör 5.Maximale Leistung Pulver: 3kW
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Prinzipien und Anwendungen von XRD

2024-04-05

Röntgenbeugung, durch dieRöntgenbeugung eines Materials, die Analyse seines Beugungsmusters, um die Zusammensetzung des Materials, die Struktur oder Form der Atome oder Moleküle im Inneren des Materials und andere Forschungsmethoden zu ermitteln.


Schritte der XRD-Analyse

1. Materialvorbereitung: Eine Probe des zu analysierenden Materials wird vorbereitet und in einen Behälter gegebenRöntgendiffraktometerzur Analyse.

2. XRD-Musterzeichnung: Zum Zeichnen des erhaltenen Musters wird eine XRD-Analysesoftware verwendetBeugungMuster, um die Zusammensetzung, Struktur und Morphologie des Materials zu erhalten.

3.Peak-Analyse: Durch die Analyse des Höhen- und Intensitätsverhältnisses von Peak A und Peak B im XRD-Muster können Informationen wie relative Atommasse, Struktur und chemische Bindungen im Material bestimmt werden.

4. Analyse des Kristallgehalts: Durch die Analyse des Kristallgehalts verschiedener Atomprozente können Informationen wie die Reinheit und Kristallinität des Materials bestimmt werden.

X-ray diffraction

XRD-Analysesoftware:

Einschließlich Searchmatch, Highscore, XRDFind und anderer Software können Benutzer je nach Bedarf wählen, ob sie diese verwenden möchten. Searchmatch ist beispielsweise ein leistungsstarkes ToolXRDAnalysesoftware, die eine direkte Verbindung zu den ursprünglichen experimentellen Daten herstellen und die Position von Beugungspeaks automatisch oder manuell kalibrieren kann. Highscore kann mehr Datenformate und benutzerfreundlichere Fenstereinstellungen aufrufen und verfügt über die Funktion, automatisch Experimentberichte zu erstellen. xrdfind ist schnell und einfach zu verwenden und kann zur Datenverarbeitung und visuellen Analyse verwendet werden.

diffraction



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