Anorganische Materialien machen den Großteil aller festen Materialien aus, von denen es nur wenige Einkristalle gibt, und die überwiegende Mehrheit der Materialien wird in polykristalliner Form verwendet; In polykristallinen Materialien ist die kristallographische Ausrichtung jedes Korns theoretisch völlig ungeordnet und zufällig verteilt. Allerdings zeigen viele Materialien durch Walzen, Extrudieren und andere Verformungsprozesse oder auch ohne Verformung die Körner im Polykristall mehr oder weniger statistisch ungleichmäßig verteilt, dieses Phänomen wird als Vorzugsorientierung bezeichnetorganisatorische Strukturheißt Textur.
1. Studieren Sie die Texturgründe
A. Das Vorhandensein einer Textur führt zu einer Anisotropie der Materialeigenschaften;
b.das Vorhandensein einer Textur, die manchmal schädlich ist, wie z. B. das Aussehen von"Ohr"während der Verarbeitung;
C. Das Vorhandensein einer Textur ist manchmal von Vorteil. Wenn beispielsweise eine große Anzahl von {111}-Oberflächentexturen in der Stahlplatte gebildet wird, wird die Tiefprägeleistung des Materials erheblich verbessert.
Daher ist die eingehende Texturforschung von großer leitender Bedeutung für die Forschung und Entwicklung neuer Materialien und die Produktprozesskontrolle.
2. Methoden der Texturforschung
Hauptsächlich aktuelle Methoden zur TexturanalyseXRDund EBSD haben beide Vor- und Nachteile, und oft werden beide kombiniert:
Die XRD-Probe ist einfach und die Messergebnisse sind makroskopisch.
Die EBSD-Methode ist komplex und die Messergebnisse sind mikroskopisch, aber EBSD kann die Verteilung der Kristallorientierung direkt liefern.
3. Prinzip der XRD-Texturanalyse
Wenn die Körner in der Kristallprobe eine völlig zufällige Orientierung aufweisen, ist die Festigkeit gleichmäßig verteilt:
Wenn im Kristall eine Textur vorhanden ist, führt dies unweigerlich zu Schwankungen der Beugungsintensität, und diese Intensitätsänderungen spiegeln die ungleichmäßige Verteilung der Kornorientierung im Raum wider:
Daher solange dieBeugungWenn die Intensität in jedem Winkel a und b gemessen wird, kann die Polarkarte durch die Projektion der roten Ebene der Polarstrahlung erhalten werden. Berechnen Sie anhand des gemessenen Polardiagramms, Sie können das inverse Polardiagramm, das ODF-Diagramm, die Texturquantifizierung und andere Informationen erhalten:
