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  • Einkristall-Röntgenstrukturanalyse
    Einkristall-Röntgenstrukturanalyse
    1. Die Einkristallmaschine verwendet SPS-Steuerungstechnik. 2. Modulares Design, Zubehör einfach per Plug & Play anschließen. 3. Elektronische Türverriegelung mit doppeltem Schutz. 4. Einkristall-Röntgenröhre: Es können verschiedene Targets ausgewählt werden, z. B. Cu, Mo usw. 5. Der Einkristall verwendet eine Vierkreis-Konzentrizitätstechnologie, um sicherzustellen, dass der Mittelpunkt des Goniometers unverändert bleibt.
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  • Diffraktometer
    Diffraktometer
    1. Die Genauigkeit des Diffraktometers ist hoch. 2. Das Anwendungsgebiet des Diffraktometers ist breit. 3. Das Diffraktometer ist einfach zu bedienen, komfortabel und effizient.
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  • Serien-Röntgenkristallanalysator
    Serien-Röntgenkristallanalysator
    1. Das Röntgengerät ist einfach zu bedienen und liefert schnelle Ergebnisse. 2. Das Röntgengerät ist präzise und zuverlässig und zeichnet sich durch hervorragende Leistung aus. 3. Das Röntgengerät verfügt über verschiedene funktionelle Zubehörteile, um den Anforderungen unterschiedlicher Testzwecke gerecht zu werden.
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  • Pulverdiffraktometer
    Pulverdiffraktometer
    1. Detektortyp: Array-Detektor oder SDD-Detektor; 2. Automatische Steuerungsberechnung der SPS, Konvertierung des Integrationsmodus, SPS führt automatisch PHA und Totzeitkorrektur durch 3. Probenmesstyp: Pulverprobe, Flüssigkeitsproben, Schmelzproben, viskose Proben, lose Pulver, Schüttgutproben 4.Erhältlich mit einer Vielzahl von Diffraktometer-Zubehör 5.Maximale Leistung Pulver: 3kW
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Die Eigenspannung wurde mittels XRD analysiert

2024-03-27

Eigenspannungen haben großen Einfluss auf die Dimensionsstabilität, Spannungskorrosionsbeständigkeit, Dauerfestigkeit, Phasenänderung und andere Eigenschaften von Materialien und Bauteilen. Seine Messung ist in Wissenschaft und Industrie weit verbreitet.

X-ray diffraction

Das Grundprinzip vonRöntgenbeugung Die Messung der Eigenspannung basiert auf der Messung der Abweichung des Beugungswinkels, der Ermittlung der Dehnung und der anschließenden Berechnung der Eigenspannung durch elastische Mechanik.


Im unbelasteten Zustand ist dieBeugungDer Winkel 2θ ändert sich nicht mit der Änderung des Azimuts ψ desKristallGesicht. Wenn in der Probe Restspannungen vorhanden sind, ändert sich der Abstand zwischen den Kristallflächen. Bei der Bragg-Beugung verschiebt sich auch der Beugungspeak, und die Bewegungsstrecke hängt von der Spannung ab.

diffraction

Im Zugspannungszustand ist der Kristallebenenabstand d umso größer und umso kleiner, je größer der Kristallebenenazimut ψ istBeugungWinkel 2θ nach dem Braggschen Gesetz. Im Gegensatz dazu ist im Zustand der Druckspannung der Kristallflächenabstand umso kleiner und dementsprechend der Beugungswinkel 2θ umso größer, je größer der Kristallflächenazimut ψ ist.

crystal

Nach dem Braggschen Gesetz und der Elastizitätstheorie lässt sich Folgendes ableiten:

X-ray diffraction

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