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  • Einkristall-Röntgenstrukturanalyse
    Einkristall-Röntgenstrukturanalyse
    1. Die Einkristallmaschine verwendet SPS-Steuerungstechnik. 2. Modulares Design, Zubehör einfach per Plug & Play anschließen. 3. Elektronische Türverriegelung mit doppeltem Schutz. 4. Einkristall-Röntgenröhre: Es können verschiedene Targets ausgewählt werden, z. B. Cu, Mo usw. 5. Der Einkristall verwendet eine Vierkreis-Konzentrizitätstechnologie, um sicherzustellen, dass der Mittelpunkt des Goniometers unverändert bleibt.
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  • Diffraktometer
    Diffraktometer
    1. Die Genauigkeit des Diffraktometers ist hoch. 2. Das Anwendungsgebiet des Diffraktometers ist breit. 3. Das Diffraktometer ist einfach zu bedienen, komfortabel und effizient.
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  • Serien-Röntgenkristallanalysator
    Serien-Röntgenkristallanalysator
    1. Das Röntgengerät ist einfach zu bedienen und liefert schnelle Ergebnisse. 2. Das Röntgengerät ist präzise und zuverlässig und zeichnet sich durch hervorragende Leistung aus. 3. Das Röntgengerät verfügt über verschiedene funktionelle Zubehörteile, um den Anforderungen unterschiedlicher Testzwecke gerecht zu werden.
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  • Pulverdiffraktometer
    Pulverdiffraktometer
    1. Detektortyp: Array-Detektor oder SDD-Detektor; 2. Automatische Steuerungsberechnung der SPS, Konvertierung des Integrationsmodus, SPS führt automatisch PHA und Totzeitkorrektur durch 3. Probenmesstyp: Pulverprobe, Flüssigkeitsproben, Schmelzproben, viskose Proben, lose Pulver, Schüttgutproben 4.Erhältlich mit einer Vielzahl von Diffraktometer-Zubehör 5.Maximale Leistung Pulver: 3kW
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Röntgenbeugungsanalyse von Graphitanodenmaterialien

2024-04-15

Wenn Graphitmaterialien in den negativen Elektrodenmaterialien von Lithiumbatterien verwendet werden, gibt es neben der Analyse und Erkennung ihres Elementgehalts, ihrer Partikelgröße und ihrer Partikelgrößenverteilung einen sehr wichtigen Indikator dafür, dass der Graphitisierungsgrad gemessen werden muss.


Das häufigste Anodenmaterial in Lithium-Ionen-Batterien ist ein kristallines, graphitähnliches Kohlenstoffmaterial mit Schichtstruktur.

X-ray diffraction

Röntgenbeugungist eine Standardmethode zur Kristallstrukturbestimmung und kann daher auch zur Messung des Graphitisierungsgrads von Graphitanodenmaterialien verwendet werden.

diffraction

Nach der Herstellung der Graphitelektrodenfolie hat auch die Ausrichtung (Orientierung) der Graphitschichtstruktur einen großen Einfluss auf die Lithiumionenmigration.

X-ray diffraction

Die Röntgenbeugungsmethode wird auch zur Prüfung der Orientierung von Graphitelektroden eingesetzt. Wenn der Beugungsmustertest an der horizontal angeordneten Elektrodenplattenprobe durchgeführt wird, kann das Beugungssignal der (110)-Kristallebene vom Graphit erfasst werden, dessen Schichtstruktur senkrecht zur Elektrodenplatte verläuftBeugungDas Signal der (002)- und (004)-Kristallebene stammt vom Graphit, dessen Schichtstruktur parallel zur Elektrodenplatte verläuft. Die Ausrichtung der Graphitelektrode kann als Verhältnis der (002)- oder (004)-Beugungspeakintensität (oder Integralfläche) zur (110)-Beugungspeakintensität beschrieben werden.




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