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  • Einkristall-Röntgenstrukturanalyse
    Einkristall-Röntgenstrukturanalyse
    1. Die Einkristallmaschine verwendet SPS-Steuerungstechnik. 2. Modulares Design, Zubehör einfach per Plug & Play anschließen. 3. Elektronische Türverriegelung mit doppeltem Schutz. 4. Einkristall-Röntgenröhre: Es können verschiedene Targets ausgewählt werden, z. B. Cu, Mo usw. 5. Der Einkristall verwendet eine Vierkreis-Konzentrizitätstechnologie, um sicherzustellen, dass der Mittelpunkt des Goniometers unverändert bleibt.
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  • Diffraktometer
    Diffraktometer
    1. Die Genauigkeit des Diffraktometers ist hoch. 2. Das Anwendungsgebiet des Diffraktometers ist breit. 3. Das Diffraktometer ist einfach zu bedienen, komfortabel und effizient.
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    Serien-Röntgenkristallanalysator
    1. Das Röntgengerät ist einfach zu bedienen und liefert schnelle Ergebnisse. 2. Das Röntgengerät ist präzise und zuverlässig und zeichnet sich durch hervorragende Leistung aus. 3. Das Röntgengerät verfügt über verschiedene funktionelle Zubehörteile, um den Anforderungen unterschiedlicher Testzwecke gerecht zu werden.
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  • Pulverdiffraktometer
    Pulverdiffraktometer
    1. Detektortyp: Array-Detektor oder SDD-Detektor; 2. Automatische Steuerungsberechnung der SPS, Konvertierung des Integrationsmodus, SPS führt automatisch PHA und Totzeitkorrektur durch 3. Probenmesstyp: Pulverprobe, Flüssigkeitsproben, Schmelzproben, viskose Proben, lose Pulver, Schüttgutproben 4.Erhältlich mit einer Vielzahl von Diffraktometer-Zubehör 5.Maximale Leistung Pulver: 3kW
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Zur Berechnung der Korngröße und Versetzungsdichte wurden XRD-Daten verwendet

2024-02-23

1. Berechnung der Korngröße:

Die Korngröße ist ein Maß für die Korngröße in einem Material. Wir können die Korngröße mit der Scherrer-Formel berechnen. Die Formel basiert auf der Beziehung zwischen der Halbwertsbreite desBeugungPeak und die Korngröße. Die Korngröße kann durch Messung der Halbwertsbreite des Beugungspeaks berechnet werden.

Der übliche Ausdruck der Scherrer-Formel lautet: D= kλ /(βcosθ), wobei der Wert der Konstante K mit der Definition von β zusammenhängt. Wenn β die halbe Breite und Höhe ist, beträgt K 0,89; Wenn β die Integralbreite ist, beträgt K 1,0. Die erhaltenen Daten sind in der Abbildung dargestellt:

diffraction

Zu diesem Zeitpunkt ist die entsprechende Steigung die vom Material angezeigte Gitterverzerrung. Es ist ersichtlich, dass die Gitterverzerrung entsprechend Kurve 1 etwa 0,016 beträgt und die Gitterverzerrung entsprechend Kurve 2 etwa 0,008 beträgt. Verwenden Sie außerdem die Schnittpunktdaten, um die Korngröße des Materials zu berechnen:

materials

2.Berechnung der Versetzungsdichte:

Eine Versetzung ist ein häufiger KristalldefektMaterialien,und die Versetzungsdichte kann mit der Scherrer-Formel geschätzt werden. Die folgende Formel basiert auf der Beziehung zwischen der Stärke des Beugungspeaks und der Versetzungsdichte und berechnet die Versetzungsdichte des Materials durch Messung der Stärke des Beugungspeaks.

​XRD

Für amorphe Materialien ist es notwendig, mit der folgenden Formel umzugehen:

diffraction

XRDDaten liefern uns eine Fülle von Informationen bei der Untersuchung von Materialeigenschaften. Durch die Berechnung von Korngröße, Gitterverzerrung und Versetzungsdichte können Struktur und Eigenschaften des Materials besser verstanden werden.


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