



Das Kleinwinkelbeugungszubehör von Dandong Tongda misst präzise die Dicke von Nano-Multilayer-Filmen (0°–5°). Es ist vollständig kompatibel mit Diffraktometern der TD-Serie, bietet sofortigen Bedienkomfort und eine Reproduzierbarkeit von 0,0001° und unterstützt so die Forschung in den Bereichen neue Energien und Halbleiter.
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