Hintergrund

Röntgenabsorptions-Feinstruktur

1.XAFS ist ein leistungsfähiges Werkzeug zum Studium der lokalen atomaren oder elektronischen Struktur von Materialien.
2.XAFS-Anwendungsfelder: industrielle Katalyse, Nanomaterialien, auch Qualitätsanalyse, Schwerelementanalyse usw.
3.XAFS-Produktvorteil: Ultrahohe Auflösung (bis zu 0,5 eV), Fluoreszenzmuster (niedriger Inhalt, hohe Rückbasis), ultrahoher Lichtstrom, ultraniedrige Nachweisgrenzen (bis zu 0,3–0,5 %, 10.1039/D2CC05081A)

  • Tongda
  • Liaoning, China
  • 1–2 Monate
  • 100 Nächte pro Jahr
  • Information

Die Röntgenabsorptionsfeinstrukturanalyse (XAFS), auch Röntgenabsorptionsspektroskopie (XAS) genannt, ist ein leistungsfähiges Werkzeug zur Untersuchung der lokalen atomaren oder elektronischen Struktur von Materialien auf der Basis von Synchrotronstrahlungslichtquellen und wird häufig in wichtigen Bereichen wie Katalyse, Energie und Nano eingesetzt. 

Technische Parameter

 

 




Umfassende Leistung

Parameter

Anweisungen

Energiebereich

5-19 keV

Spektralmodus

Übertragungsmodus

Lichtstrom bei Probe

> 1.000.000 Photonen /s/ev

Energieauflösung

XANES:0,5–1,5 eV EXAFS:1,5–10 eV

Röntgenstrahl

Heliumzugang reduziert Luftaufnahme

Wiederholbarkeit

Wiederholte Erfassungsenergiedrift <50 meV


Röntgenquelle

Leistung

1,6 kW, Hochspannung 10–40 kV, Strom 1–40 mA

Zielmaterial

W/Mo-Ziel, andere Ziele können ausgewählt werden

Monochromator

Typ

Sphärischer analytischer Kristall mit 500 mm Krümmungsradius, Größe 100 mm

Detektor

Typ

SDD mit großer Fläche, 150 mm2 effektive Fläche



Andere Konfiguration

Musterrad

18-Bit-Sample-Rad, kontinuierliches automatisiertes Testen mit mehreren Samples

In-situ-Probenpool

Elektrokatalyse, variable Temperatur, andere Mehrfeld-, mechanische Bedingungen in situ-Zelle

Analytischer Kristall

Kundenspezifischer Analysekristallmonochromator für spezielle Elemente



Hauptvorteil:

1.Produkte mit dem höchsten Lichtstrom

Der Photonenfluss liegt über 1.000.000 Photonen/Sek./eV und die Effizienz der spektralen Erfassung ist um ein Vielfaches höher als bei anderen Produkten. Erhalten Sie die gleiche Datenqualität wie bei Synchrotronstrahlungichation.

2. Ausgezeichnete Stabilität

Die monochromatische Lichtintensitätsstabilität der Lichtquelle ist besser als 0,1 % und die wiederholte Erfassungsenergiedrift beträgt < 50 meV.

3,1 % Nachweisgrenze

Hoher Lichtstrom, hervorragende Optimierung des optischen Pfads und hervorragende Stabilität der Lichtquelle gewährleisten hochwertige EXAFS-Daten mit einem gemessenen Elementgehalt von >1 %.


Prinzip des Instruments

Die Röntgenabsorptionsfeinstrukturanalyse (XAFS) ist ein leistungsfähiges Werkzeug zur Untersuchung der lokalen atomaren oder elektronischen Struktur von Materialien, das in der Katalyse, Energie, Nanotechnologie und anderen wichtigen Bereichen breite Anwendung findet.

X-ray Absorption Fine Structure

                                                                          Der Labormonochromator XES prüft geometrische Strukturen

XAFS

                                                                 Mn-Daten, Mn-K-Kanten-XAFS-Daten, Daten, die mit der Synchrotronstrahlungsquelle übereinstimmen

X-ray Absorption Fine Structure Spectrum

                                                        Emissionsspektrumdaten der Fe-Probe Kβ: Kern-zu-Kern-XES und Valenz-zu-Kern-XES



Testdaten

Folien-EXAFS-Daten

X-ray Absorption Fine Structure


Messbare Elemente: Der grüne Teil kann die K-Seite messen, der gelbe Teil kann die L-Seite messen

XAFS


Anwendungsgebiete: Industrielle Katalyse, Energiespeichermaterialien, Nanomaterialien, Umwelttoxikologie, auch Qualitätsanalyse, Schwerelementanalyse usw.

X-ray Absorption Fine Structure Spectrum

Holen Sie sich den neuesten Preis? Wir werden so schnell wie möglich antworten (innerhalb von 12 Stunden)
This field is required
This field is required
Required and valid email address
This field is required
This field is required