Hintergrund

Röntgenorientierungsanalysator

1. Der Probentisch ist mit einer Tragschiene ausgestattet, die bis zu 1 kg tragen kann und einen Durchmesser von 6 Zoll (bis zu 8 Zoll) hat.
2. Auf dem Probentisch ist eine Vakuumsaugnapfvorrichtung installiert.
3. Anwendung: Präzise und schnelle Bestimmung des Schnittwinkels natürlicher und künstlicher Einkristalle.

  • Tongda
  • Liaoning, China
  • 1–2 Monate
  • 100 Einheiten pro Jahr
  • Information

Einführung in den Röntgenorientierungsanalysator: 

Das automatische Röntgenorientierungsinstrument nutzt das Prinzip der Röntgenbeugung, um den Schnittwinkel natürlicher und künstlicher Einkristalle (piezoelektrische Kristalle, optische Kristalle, Laserkristalle, Halbleiterkristalle) genau und schnell zu bestimmen. Passend zur Schneidemaschine, die zum gerichteten Schneiden der oben genannten Kristalle verwendet werden kann.Automatisches Röntgenorientierungsinstrumentist ein unverzichtbares Instrument für die Präzisionsverarbeitung und Herstellung von Kristallgeräten.Automatisches Röntgenorientierungsinstrumentwird häufig in der Forschung, Verarbeitung und Herstellung von Kristallmaterialien eingesetzt.

Automatic X-ray orientation instrument




Vorteile des Röntgenorientierungsanalysators:


Probentabelle des Röntgenorientierungsanalysators TA:

Der Probentisch ist nach dem Vorbild des runden Stabkristalls konzipiert und verfügt über eine Tragschiene, die 1 bis 30 kg wiegen kann, einen Durchmesser von 2 bis 6 Zoll (kann auf 8 Zoll erhöht werden) und eine Vakuumsaugvorrichtung auf dem Probentisch . Dieser Goniometertyp misst die Referenzoberfläche eines stabförmigen Kristalls und misst auch die Oberfläche eines Wafers.

Probentabelle des Röntgenorientierungsanalysators TB: 

Der Probentisch ist nach dem Vorbild des Rundstabkristalls gestaltet und mit einer tragenden Schiene sowie einer V-förmigen Stützschiene ausgestattet. Es kann einen Barren mit einem Gewicht von 1 bis 30 kg, einem Durchmesser von 2 bis 6 Zoll (kann auf 8 Zoll vergrößert werden) und einer Länge von 500 mm messen. Am Probentisch ist eine Vakuumsaugvorrichtung angebracht. Dieser Goniometertyp misst die Endfläche des Stabkristalls und misst auch die Oberfläche des Wafers.

Probentabelle des Röntgenorientierungsanalysators TC:

Es wird hauptsächlich zur Erkennung der äußeren kreisförmigen Referenzfläche einzelner Wafer wie Silizium und Saphir verwendet. Die Position der Röntgenaufnahme auf der Saugscheibe ist offen gestaltet, wodurch das Problem, dass die Saugscheibe Röntgenstrahlen und Fehlausrichtungen blockiert, überwunden wird und unterschiedliche Spezifikationen erfüllt werden. Mit der Referenzkantenerkennung kann die Saugpumpe des Probentischs den 2 bis 8 Zoll großen Wafer ansaugen, um die Erkennung genauer zu machen.

Probentabelle des Röntgenorientierungsanalysators TD:

Wird hauptsächlich zur Mehrpunktmessung von Wafern wie Silizium und Saphir verwendet. Der Wafer kann auf dem Probentisch manuell gedreht werden, z. B. 0%, 90%, 180%, 270% usw., um den speziellen Messanforderungen der Kunden gerecht zu werden.

Desktop X-ray Orientation Analyzer


Tongda-Kanal

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x-ray orientation instrument for sapphire wafer

 Tongda verfügt über ein starkes Forschungs- und Entwicklungsteam, das umfassende technische Lösungen für Röntgenbeugungsanwendungen bereitstellen kann.

Automatic X-ray orientation instrument


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