Hintergrund

Röntgenorientierungsanalysator

1. Der Probentisch ist mit einer Tragschiene ausgestattet, die bis zu 1 kg tragen kann und einen Durchmesser von 6 Zoll (bis zu 8 Zoll) hat.
2. Auf dem Probentisch wird eine Vakuumsaugvorrichtung installiert.
3. Anwendung: Präzise und schnelle Bestimmung des Schnittwinkels von natürlichen und künstlichen Einkristallen.

  • Tongda
  • Liaoning, China
  • 1–2 Monate
  • 100 Einheiten pro Jahr
  • Information

Einführung in den Röntgenorientierungsanalysator: 

Das automatische Röntgenorientierungsinstrument nutzt das Prinzip der Röntgenbeugung, um den Schnittwinkel natürlicher und künstlicher Einkristalle (piezoelektrische Kristalle, optische Kristalle, Laserkristalle, Halbleiterkristalle) präzise und schnell zu bestimmen. In Kombination mit der Schneidemaschine ermöglicht es das gerichtete Schneiden dieser Kristalle.Automatisches Röntgenorientierungsinstrumentist ein unverzichtbares Instrument für die Präzisionsbearbeitung und Herstellung von Kristallbauteilen.Automatisches Röntgenorientierungsinstrumentwird in der Forschung, Verarbeitung und Herstellung von Kristallmaterialien weit verbreitet eingesetzt.

Automatic X-ray orientation instrument




Vorteile des Röntgenorientierungsanalysators:


Probentabelle für den Röntgenorientierungsanalysator (TA):

Der Probentisch, der für runde Stabkristalle konzipiert ist, verfügt über eine lasttragende Schiene, die Lasten von 1 bis 30 kg und Durchmesser von 2 bis 6 Zoll (erweiterbar auf 8 Zoll) messen kann, sowie über eine Vakuumsaugvorrichtung. Dieses Goniometer misst die Referenzfläche eines stabförmigen Kristalls und auch die Oberfläche eines Wafers.

Röntgenorientierungsanalysator TB-Probentabelle: 

Der für runde Stabkristalle konzipierte Probentisch ist mit einer lasttragenden Schiene und einer V-förmigen Stützschiene ausgestattet. Er kann Barren mit einem Gewicht von 1–30 kg, einem Durchmesser von 2–6 Zoll (erweiterbar auf 8 Zoll) und einer Länge von 500 mm messen. Eine Vakuumsaugvorrichtung ist am Probentisch angebracht. Dieses Goniometer misst sowohl die Stirnfläche des Stabkristalls als auch die Oberfläche des Wafers.

Probentisch für den Röntgenorientierungsanalysator TC:

Es dient hauptsächlich der Detektion der äußeren kreisförmigen Referenzfläche einzelner Wafer, beispielsweise aus Silizium oder Saphir. Die offene Anordnung des Röntgenempfängers auf der Saugscheibe vermeidet Probleme wie Strahlenblockaden und Fehlausrichtung und ermöglicht die Bearbeitung unterschiedlicher Spezifikationen. Dank der Referenzkantendetektion kann die Saugpumpe des Probentisches Wafer mit einem Durchmesser von 2 bis 8 Zoll ansaugen und so eine präzisere Detektion gewährleisten.

Probentabelle für den Röntgenorientierungsanalysator TD:

Hauptsächlich verwendet für Mehrpunktmessungen an Wafern wie Silizium- und Saphirwafern. Der Wafer kann manuell auf dem Probentisch gedreht werden, z. B. um 0°, 90°, 180°, 270° usw., um den speziellen Messanforderungen der Kunden gerecht zu werden.

Desktop X-ray Orientation Analyzer

 Tongda verfügt über ein starkes Forschungs- und Entwicklungsteam, das umfassende technische Lösungen für Röntgenbeugungsanwendungen anbietet.

x-ray orientation instrument for sapphire wafer

BeiDandong TongdaWir sind überzeugt, dass Transparenz mit den Details beginnt. Deshalb bietet unsere offizielle Website umfassende technische Spezifikationen – von Abmessungen und Gewicht bis hin zur Materialzusammensetzung – und ermöglicht Ihnen so ein vollständiges Verständnis der Leistungsfähigkeit unserer Geräte.

Über die technischen Daten hinaus sprechen Zertifizierungen Bände über Qualität und Sicherheit. Wir sind stolz darauf, die Zertifizierung nach ISO 9001 für Qualitätsmanagementsysteme zu besitzen (siehe unten). Dies belegt unser Engagement für internationale Standards im gesamten Prozess, von der Forschung und Entwicklung bis zur Produktion. Wir arbeiten außerdem aktiv an der CE- und RoHS-Konformität, sodass Sie sich mit Tongda absolut sicher fühlen können.

Automatic X-ray orientation instrument




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