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Als eines der wichtigsten Mittel zur Charakterisierung der Materialstruktur wird XRD in großem Umfang in den Bereichen Materialien, Physik, Chemie, Medizin und anderen Bereichen eingesetzt.

Röntgendiffraktometer werden hauptsächlich zur Phasencharakterisierung, quantitativen Analyse, Kristallstrukturanalyse, Materialstrukturanalyse, Kristallorientierungsanalyse von Pulver-, Block- oder Dünnschichtproben usw. verwendet.

Aufgrund der unterschiedlichen Kristallisationsbedingungen weisen die Partikel pulverförmiger Arzneimittelproben unterschiedliche Morphologien auf.

Forscher der Synchrotronstrahlungsanlage SPring-8 am RIKEN Research Institute in Japan und ihre Mitarbeiter haben eine schnellere und einfachere Methode zur Durchführung der Segmentierungsanalyse entwickelt, einem wichtigen Prozess in der Materialwissenschaft.

Bei der Röntgenanalyse ein Instrument zur Messung des Winkels zwischen einem einfallenden Röntgenstrahl und einem gebeugten Röntgenstrahl. Das Diffraktometer bildet automatisch die Variation der Beugungsintensität mit dem 2θ-Winkel ab.

Forscher haben eine Röntgenbildgebungstechnik entwickelt, die detaillierte Bilder von Organismen mit viel geringeren Röntgenstrahlendosen als bisher ermöglicht.

Polykristallines Röntgendiffraktometer, auch Pulverdiffraktometer genannt, wird üblicherweise zur Messung von Pulver-, polykristallinen Metall- oder Polymer-Massenmaterialien verwendet.

XRD als qualitatives Analysemittel ist nicht blind, mit Hilfe von Analysesoftware ist der Einfachheit halber grundsätzlich das XRD-Muster selbst das Wichtigste.

Als neue Materialcharakterisierungstechnologie eignet sich PDF (Pair Distribution Function) für die Untersuchung der lokalen Struktur sowohl von Kristallen als auch von amorphen Materialien.

Die strukturelle Stabilität von SBA-15 hängt eng mit seiner Porengröße und seinen Eigenschaften zusammen, und XRD ist eine der effektivsten Methoden zur Charakterisierung seiner Struktur.