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Der multifunktionale integrierte Messaufsatz ermöglicht präzise Textur-, Spannungs- und Dünnschichtanalysen. Er unterstützt Polfigurenabbildung, biaxiale Spannungsmessung und Rotation in der Ebene. Ideal für Metalle, Keramik, Beschichtungen und Polymere. Er zeichnet sich durch eine Schrittgenauigkeit von 0,001° und einen Probendurchmesser von 100 mm aus.

Das Röntgenabsorptions-Feinstrukturspektrometer (XAFS) ist ein leistungsfähiges Werkzeug zur Untersuchung der lokalen atomaren oder elektronischen Struktur von Materialien und wird häufig in gängigen Bereichen wie Katalyse, Energie und Nanotechnologie eingesetzt. Das Grundprinzip eines Röntgen-Absorptions-Feinstrukturspektrometers (XAFS) besteht darin, dass bei Resonanz der Energie der Röntgenstrahlen mit der Energie einer inneren Elektronenschale eines Elements in der Probe ein plötzlicher Anstieg der Elektronenanzahl angeregt wird und ein kontinuierliches Spektrum entsteht, das als Absorptionskante bezeichnet wird. Nahe der Absorptionskante nimmt mit zunehmender Röntgenenergie und zunehmender Eindringtiefe der Röntgenstrahlen die Absorptionsrate monoton ab. Wird das Spektrum über eine bestimmte Kante hinaus erweitert, lassen sich Feinstrukturen beobachten. XANES-Bereiche (X-ray Absorption Near Edge Structures) erscheinen, sobald Spitzen und Schultern mit einer Breite von über 20 bis 30 Elektronenvolt den Anfangspunkt der Kante passieren. Die Feinstruktur auf der energiereichen Seite der Kante, wo die Energie auf mehrere Hundert Elektronenvolt abfällt, wird als Röntgen-Absorptions-Feinstruktur (XAFS) bezeichnet. Die Hauptmerkmale des Röntgenabsorptions-Feinstrukturspektrometers (XAFS) sind: Empfindlichkeit gegenüber Nahordnung: Die Methode ist von der Nahordnung abhängig und nicht von der Fernordnung. Dadurch können Messungen an einer breiten Palette von Proben durchgeführt werden. Sie kann für amorphe, flüssige und geschmolzene Proben, aktive Katalysatorzentren, Metallproteine ​​usw. sowie für Strukturuntersuchungen von Fremdatomen in Kristallen verwendet werden. Starke Elementeigenschaften: Die Röntgenabsorptionskante weist Elementeigenschaften auf, und für Atome verschiedener Elemente in der Probe kann die atomare Nachbarstruktur verschiedener Elemente in derselben Verbindung durch Anpassen der einfallenden Röntgenenergie untersucht werden. Hohe Empfindlichkeit: Mit der Fluoreszenzmethode können Elementproben mit Konzentrationen von nur einem Millionstel gemessen werden. Umfassende Erfassung struktureller Informationen: Bereitstellung von Parametern, die die lokale Struktur bestimmen, wie etwa der Abstand zwischen absorbierenden Atomen und benachbarten Atomen, die Anzahl und Art dieser Atome sowie der Oxidationszustand absorbierender Elemente. Die Probenvorbereitung ist einfach: Es wird kein Einkristall benötigt, und unter den experimentellen Bedingungen ist die Datenerfassungszeit relativ kurz. Mit einer Synchrotron-Röntgenquelle dauert die Messung einer Spektrallinie in der Regel nur wenige Minuten. Die Hauptvorteile des Röntgenabsorptions-Feinstrukturspektrometers (XAFS) sind: Hauptvorteil: höchstes Lichtstromprodukt Photonenfluss von über 1.000.000 Photonen/Sekunde/eV, mit einer spektralen Effizienz, die um ein Vielfaches höher ist als bei anderen Produkten; Erzielung einer Datenqualität, die der von Synchrotronstrahlung entspricht Hervorragende Stabilität: Die Stabilität der monochromatischen Lichtintensität der Lichtquelle ist besser als 0,1 %, und die Energiedrift bei wiederholter Sammlung beträgt weniger als 50 meV 1% Nachweisgrenze: Hoher Lichtstrom, hervorragende Optimierung des optischen Pfads und hervorragende Stabilität der Lichtquelle gewährleisten, dass auch dann noch hochwertige EXAFS-Daten gewonnen werden können, wenn der gemessene Elementgehalt über 1 % liegt. 4. Anwendungsbereiche des Röntgenabsorptions-Feinstrukturspektrometers (XAFS): Energiebereich: beispielsweise Forschung zu Lithiumbatterien und anderen Sekundärbatteriematerialien, Brennstoffzellenforschung, Forschung zu Wasserstoffspeichermaterialien usw. Mithilfe von XAFS können Konzentration, Valenzzustand, Koordinationsumgebung und dynamische Änderungen von Kernatomen während Lade-Entlade-Zyklen und elektrochemischen Reaktionen ermittelt werden. Katalysebereich: Wird für die Forschung zur Nanopartikelkatalyse, Einzelatomkatalyse usw. verwendet. Erhalten Sie die Morphologie des Katalysators auf dem Träger, die Interaktionsform mit dem Träger und ihre Änderungen während des katalytischen Prozesses durch XAFS sowie die benachbarten Strukturen von Metallionen mit extrem niedrigem Gehalt. Im Bereich der Materialwissenschaften wird das Röntgenabsorptions-Feinstrukturspektrometer (XAFS) zur Charakterisierung verschiedener Materialien, zur Untersuchung komplexer Systeme und ungeordneter Strukturmaterialien, zur Erforschung radioaktiver Isotope, zur Untersuchung verwandter Eigenschaften von Oberflächen- und Grenzflächenmaterialien und zur Untersuchung dynamischer Materialänderungen eingesetzt. Im Bereich der Geologie kann das Röntgenabsorptions-Feinstrukturspektrometer (XAFS) zur Analyse der Elementvalenzzustände von Erzmaterialien in der geologischen Forschung eingesetzt werden. Umweltbereich: XES kann zur Valenzzustandsanalyse von Cr/As-Elementen usw. verwendet werden. Im Bereich der Radiochemie kann ein Röntgenabsorptions-Feinstrukturspektrometer (XAFS) zur Valenzzustandsanalyse von Ce- und U-Elementen usw. verwendet werden. Das Röntgenabsorptions-Feinstrukturspektrometer (XAFS) spielt aufgrund seines einzigartigen Funktionsprinzips, seiner signifikanten Eigenschaften und seiner breiten Anwendungsgebiete eine wichtige Rolle in der modernen wissenschaftlichen Forschung. Es bietet ein leistungsstarkes Mittel, um ein tieferes Verständnis der Mikrostruktur und des chemischen Zustands von Materie zu erlangen und fördert so die Entwicklung und den Fortschritt in zahlreichen Disziplinen.

Das TDM-10-Desktop-Röntgenbeugungsgerät ist ein Gerät zur Analyse der Phasenstruktur von Materialien, das mit Szintillations-/Proportional-/Linear-Array-Detektoren ausgestattet werden kann. 1. Funktionsprinzip des TDM-10 Desktop-Röntgenbeugungsgeräts: Basierend auf dem Braggschen Gesetz werden Atome oder Moleküle im Kristall gestreut und interferieren mit dem Röntgenstrahl, wenn ein monochromatischer Röntgenstrahl auf einen Kristall trifft und die Bragg-Beugungsbedingung erfüllt ist (n λ = 2 dsin θ, wobei λ die Wellenlänge des Röntgenstrahls, d der Netzebenenabstand und θ der Einfallswinkel ist). Dadurch entsteht ein spezifisches Beugungsmuster. Durch Messung der Beugungsintensität unter verschiedenen Winkeln können Strukturinformationen zum Kristall gewonnen werden. 2. Eigenschaften des TDM-10 Desktop-Röntgenbeugungsgeräts: Die hohe Auflösung eines Desktop-Röntgenbeugungsgeräts ermöglicht eine präzise Messung der Kristallstruktur von Substanzen, was für die Untersuchung komplexer Gemische oder die Suche nach polykristallinen Phasen und Spurenphasen mit geringem Gehalt von entscheidender Bedeutung ist. Zerstörungsfreie Analyse mit Desktop-Röntgenbeugungsgeräten: Während des Testvorgangs wird die Probe nicht beschädigt und kann für weitere Tests oder die Verwendung in ihrem ursprünglichen Zustand verbleiben. Die Bedienung von Desktop-Röntgenpulverbeugungsgeräten ist einfach: Moderne Desktop-Röntgenpulverbeugungsgeräte verfügen in der Regel über Automatisierungs- und Intelligenzfunktionen, die die Bedienung komfortabler machen und die Anforderungen an das Fachwissen und die Fähigkeiten des Bedieners verringern. Die Vielseitigkeit von Desktop-Röntgen-Pulverbeugungsgeräten: Mit Röntgen-Pulverbeugungsgeräten können verschiedene Analysen durchgeführt werden, z. B. qualitative und quantitative Phasenanalysen, Gitterkonstantenanalysen, Spannungsanalysen usw. 3. Technische Parameter des TDM-10 Desktop-Röntgenpulverbeugungsgeräts: Das Desktop-Röntgenbeugungsgerät hat ein kleines Volumen; die Hochfrequenz- und Hochspannungsstromversorgung reduziert den Gesamtstromverbrauch des Geräts; Kann Proben schnell kalibrieren und testen; Einfache Schaltungssteuerung, leicht zu debuggen und zu installieren; Die Messgenauigkeit der Beugungspeakposition beträgt 0,001 °; Detektor: Szintillationsdetektor, proportional, lineares Array; Bereich von 2 θ: - 10°~150° Leistung: 600 W; Maximale Spannung: 40 kV; Maximaler Strom: 15 mA; Röntgenröhren: gewellte Keramikröhren, Metallkeramikröhren, Glasröhren. 4. Anwendungsbereiche des Desktop-Röntgenbeugungsgeräts TDM-10: Materialwissenschaft: Wird verwendet, um die Kristallstruktur, Phasenzusammensetzung, Korngröße, Kristallinität usw. von Metallen, Keramiken, Halbleitern und anderen Materialien zu untersuchen und hilft Materialwissenschaftlern, die Eigenschaften und Merkmale von Materialien zu verstehen. Im Bereich der Chemie können Röntgenbeugungsgeräte in der Fertigungsindustrie für Katalysatoren, Zement, Pharmazeutika und andere Produkte eingesetzt werden, um Phasen in unbekannten Proben zu identifizieren und bekannte Phasen in gemischten Proben quantitativ zu analysieren. Geologie: Durchführen von Phasenanalysen an Erzen, Gesteinen usw., um deren mineralische Zusammensetzung und Struktur zu bestimmen. Umweltwissenschaften: werden zur Analyse der Mineralzusammensetzung und Schadstoffformen in Umweltproben wie Boden und Sediment verwendet. Lebensmittelindustrie: Nachweis von Kristallbestandteilen, Zusatzstoffen etc. in Lebensmitteln. Das Desktop-Röntgenbeugungsgerät TDM-10 ist ein leistungsstarkes Analyseinstrument mit wichtigem Anwendungswert in vielen Bereichen.

1. Funktion des Einkristall-Diffraktometers: Das Röntgen-Einkristall-Diffraktometer TD-5000 wird hauptsächlich verwendet, um die dreidimensionale räumliche Struktur und Elektronenwolkendichte kristalliner Substanzen wie anorganischer, organischer und Metallkomplexe zu bestimmen und die Struktur spezieller Materialien wie Zwillingskristalle, nicht kommensurable Kristalle, Quasikristalle usw. zu analysieren. Bestimmen Sie den genauen dreidimensionalen Raum (einschließlich Bindungslänge, Bindungswinkel, Konfiguration, Konformation und sogar Bindungselektronendichte) neuer zusammengesetzter (kristalliner) Moleküle und die tatsächliche Anordnung der Moleküle im Gitter; das Röntgen-Einkristall-Diffraktometer kann Informationen zu den Kristallzellparametern, der Raumgruppe, der kristallinen Molekülstruktur, intermolekularen Wasserstoffbrücken und schwachen Wechselwirkungen sowie strukturellen Informationen wie der Molekülkonfiguration und -konformation liefern. Das Röntgen-Einkristall-Diffraktometer wird häufig in der analytischen Forschung in der chemischen Kristallographie, Molekularbiologie, Pharmakologie, Mineralogie und Materialwissenschaft verwendet. Das Röntgen-Einkristall-Diffraktometer ist ein Hightech-Produkt, das vom chinesischen Ministerium für Wissenschaft und Technologie im Rahmen des Nationalen Projekts zur Entwicklung bedeutender wissenschaftlicher Instrumente und Geräte finanziert und von Dandong Tongda Technology Co., Ltd. geleitet wird und die Lücke in der Entwicklung und Produktion von Einkristall-Diffraktometern in China schließt. 2. Eigenschaften des Einkristall-Diffraktometers: Die gesamte Maschine verfügt über eine speicherprogrammierbare Steuerungstechnologie (SPS). Sie ist einfach zu bedienen und verfügt über ein Ein-Klick-Sammelsystem. Modulares Design, Plug-and-Play-Zubehör, keine Kalibrierung erforderlich; Online-Überwachung in Echtzeit über Touchscreen, Anzeige des Instrumentenstatus; Hochleistungs-Röntgengenerator mit stabiler und zuverlässiger Leistung; Elektronische Türverriegelung, doppelter Schutz. 3. Genauigkeit des Einkristall-Diffraktometers: 2 θ Winkelwiederholgenauigkeit: 0,0001 °; Minimaler Schrittwinkel: 0,0001 ° Temperaturregelbereich: 100 K – 300 K; Regelgenauigkeit: ± 0,3 K 4. Winkelmessgerät für Einkristalldiffraktometer: Die Verwendung der Technik der vier konzentrischen Kreise stellt sicher, dass der Mittelpunkt des Winkelmessgeräts unabhängig von der Drehung unverändert bleibt. Dadurch werden die genauesten und vollständigsten Daten erzielt. Vier konzentrische Kreise sind eine notwendige Voraussetzung für das Scannen mit einem konventionellen Einkristall-Diffraktometer. 5. Hochgeschwindigkeits-Zweidimensionaldetektor, der in einem Röntgen-Einkristall-Diffraktometer verwendet wird: Der Detektor kombiniert die Schlüsseltechnologien Einzelphotonenzählung und Mixed-Pixel-Technologie, um höchste Datenqualität bei geringem Stromverbrauch und geringer Kühlung zu erzielen. Er findet Anwendung in verschiedenen Bereichen wie Synchrotronstrahlung und konventionellen Laborlichtquellen und eliminiert effektiv Störungen durch Ausleserauschen und Dunkelstrom. Die Mixed-Pixel-Technologie kann Röntgenstrahlen direkt erfassen, das Signal leichter unterscheiden und effizient hochwertige Daten liefern. 6. Im Röntgen-Einkristall-Diffraktometer verwendete Niedertemperaturausrüstung: Die mit Niedertemperaturgeräten gesammelten Daten liefern optimalere Ergebnisse. Mithilfe von Niedertemperaturgeräten können günstigere Bedingungen geschaffen werden, um unerwünschten Kristallen optimale Ergebnisse zu ermöglichen und idealen Kristallen optimalere Ergebnisse zu ermöglichen. Temperaturregelbereich: 100 K bis 300 K; Regelgenauigkeit: ± 0,3 K; Flüssigstickstoffverbrauch: 1,1 bis 2 Liter/Stunde; 7. Optionales Zubehör, Mehrschichtfilm-Fokussierlinse: Leistung der Röntgenröhre: 30 W oder 50 W usw.; Divergenz: 0,5–1 mrad; Röntgenröhren-Zielmaterial: Mo/Cu-Ziel; Brennfleck: 0,5–2 mm.

Das Röntgenabsorptions-Feinstrukturspektrum (XAFS) ist ein leistungsfähiges Werkzeug zum Studium der lokalen atomaren oder elektronischen Struktur von Materialien und wird häufig in gängigen Bereichen wie Katalyse, Energie und Nanotechnologie eingesetzt. Das Prinzip des Röntgenabsorptions-Feinstrukturspektrums (XAFS): Das Röntgenabsorptions-Feinstrukturspektrum bezeichnet hochauflösende Spektren nahe den charakteristischen Kanten der Elektronen im Atomkern, die Röntgenstrahlen absorbieren. Entspricht die Energie der Röntgenstrahlen der Anregungsenergie der Elektronen in der inneren Schale des gemessenen Elements, werden diese stark absorbiert, was zu einer Absorptionsgrenze (oder Absorptionskante) führt. In der Nähe der Absorptionskante weist der Absorptionskoeffizient der Röntgenstrahlen aufgrund von Mehrfachstreuung und anderen Gründen oszillierende Phänomene, die sogenannte Feinstruktur, auf. 2. Hauptvorteile des Röntgenabsorptions-Feinstrukturspektrums (XAFS): (1) Das Produkt mit dem höchsten Lichtstrom, mit einem Photonenfluss von über 1.000.000 Photonen/Sekunde/eV und einer spektralen Effizienz, die um ein Vielfaches höher ist als bei anderen Produkten; Erzielung einer Datenqualität, die der von Synchrotronstrahlung entspricht (2) Ausgezeichnete Stabilität, die monochromatische Lichtintensitätsstabilität der Lichtquelle ist besser als 0,1% und die wiederholte Energiedrift beträgt weniger als 50 meV (3) Eine Nachweisgrenze von 1 %, ein hoher Lichtstrom, eine hervorragende Optimierung des optischen Pfads und eine hervorragende Stabilität der Lichtquelle gewährleisten, dass auch dann noch qualitativ hochwertige EXAFS-Daten gewonnen werden können, wenn der gemessene Elementgehalt über 1 % liegt. 3. Anwendungsgebiete von XAFS: Industrielle Katalyse, Energiespeichermaterialien, Nanomaterialien, Umwelttoxikologie, qualitative Analyse, Schwerelementanalyse usw. 4. Hauptfunktionen von XAFS: (1) Nahbereichsordnung: EXAFS basiert auf Nahbereichswechselwirkungen und nicht auf Fernbereichsordnung. XAFS kann zur Untersuchung der Struktur ungeordneter Systeme wie amorpher, flüssiger, geschmolzener und katalysatoraktiver Zentren verwendet werden. (2) Elementspezifität: Mit der Fluoreszenzmethode können Elementproben mit Konzentrationen von nur einem Millionstel gemessen werden. Durch Anpassung der einfallenden Röntgenenergie können die benachbarten Strukturen von Atomen verschiedener Elemente in derselben Verbindung untersucht werden. (3) Polarisationseigenschaften: Mit polarisierten Röntgenstrahlen können atomare Bindungswinkel und Oberflächenstrukturen in orientierten Proben gemessen werden. Das Röntgenabsorptions-Feinstrukturspektrum ist mit seinen einzigartigen Prinzipien, bedeutenden Eigenschaften und breiten Anwendungsfeldern zu einem unverzichtbaren und wichtigen Werkzeug in vielen Bereichen wie der Materialwissenschaft, der katalytischen Chemie und der Energieforschung geworden und bietet eine starke Unterstützung für die eingehende Erforschung von Materialmikrostrukturen und elektronischen Zuständen.

Im Röntgendiffraktometer ist das multifunktionale integrierte Messzubehör eine entscheidende Komponente, die die Funktionalität und Flexibilität des Geräts erheblich verbessert. Es wird zur Analyse von Filmen auf Platten, Blöcken und Substraten verwendet und ermöglicht Tests wie Kristallphasenerkennung, Orientierung, Textur, Spannung und In-Plane-Struktur dünner Filme. Grundübersicht des multifunktionalen integrierten Messzubehörs: Definition: Dies ist ein allgemeiner Begriff für eine Reihe zusätzlicher Geräte oder Module, die in Röntgendiffraktometern verwendet werden, um die Instrumentenfunktionen zu erweitern und die Messgenauigkeit und -effizienz zu verbessern. Zweck: Diese Aufsätze sollen es dem Röntgendiffraktometer ermöglichen, ein breiteres Spektrum experimenteller Anforderungen abzudecken und umfassendere und genauere Informationen zur Materialstruktur bereitzustellen. Die Funktionsmerkmale des multifunktionalen integrierten Messzubehörs: Führen Sie Polardiagrammtests mithilfe von Transmissions- oder Reflexionsmethoden durch. Belastungstests können entweder mit der Parallel-Neigungsmethode oder der Gleich-Neigungsmethode durchgeführt werden. Dünnschichtprüfung (Rotation der Probe in der Ebene). Technische Eigenschaften des multifunktionalen integrierten Messzubehörs: Hohe Präzision: Sie verwenden typischerweise fortschrittliche Sensortechnologie und Steuerungssysteme, um eine hohe Präzision und Wiederholbarkeit der Messungen zu gewährleisten. Automatisierung: Viele Anhänge unterstützen automatisierte Vorgänge und können nahtlos in den Röntgendiffraktometer-Host integriert werden, um Messungen mit einem Klick zu ermöglichen. Modulares Design: Ermöglicht Benutzern die Auswahl und Kombination verschiedener Zubehörmodule entsprechend ihren tatsächlichen Anforderungen. Anwendungsgebiete des multifunktionalen integrierten Messzubehörs: Weit verbreitet in Bereichen wie Materialwissenschaft, Physik, Chemie, Biologie und Geologie; Bewertung von Metallbaugruppenstrukturen wie beispielsweise gewalzten Platten; Bewertung der Keramikorientierung; Bewertung der Kristallprioritätsorientierung in Dünnschichtproben; Eigenspannungsprüfung verschiedener metallischer und keramischer Werkstoffe (Bewertung der Verschleißfestigkeit, Schnittfestigkeit etc.); Eigenspannungsprüfung von Mehrschichtfolien (Beurteilung von Folienablösungen etc.); Analyse von Oberflächenoxidationen und Nitridfilmen auf Hochtemperatur-Supraleitermaterialien wie dünnen Filmen und Metallplatten; Glas-Si, Analyse von Mehrschichtfilmen auf Metallsubstraten (magnetische Dünnfilme, Filme zur Härtung von Metalloberflächen usw.); Analyse von galvanischen Materialien wie makromolekularen Materialien, Papier und Linsen. Das multifunktionale integrierte Messzubehör im Röntgendiffraktometer ist der Schlüssel zur Verbesserung der Geräteleistung. Es erweitert nicht nur die Funktionalität des Geräts, sondern verbessert auch die Genauigkeit und Effizienz der Messung und bietet Forschern umfassendere und tiefergehende Methoden zur Materialanalyse. Mit der kontinuierlichen Weiterentwicklung der Technologie werden diese Zubehörteile auch weiterhin eine wichtige Rolle bei der Förderung der wissenschaftlichen Forschung in verwandten Bereichen spielen und weitere Durchbrüche erzielen.

Das Kleinwinkeldiffraktometer-Zubehör ist ein wichtiges Zubehör für Röntgendiffraktometer. Kleinwinkeldiffraktometer-Zubehör ermöglicht Röntgenbeugungsmessungen in einem sehr kleinen Winkelbereich von 0° bis 5° zur Dickenprüfung von Nano-Mehrschichtfilmen. Spielt eine wichtige Rolle in Bereichen wie Materialwissenschaft, Physik, Chemie und Biologie. Gängige Typen und Merkmale: Zubehör für parallele Lichtdünnschichten: Dieses Zubehör kann parallele Röntgenstrahlen erzeugen und eignet sich für Kleinwinkelbeugungsmessungen von Dünnschichtproben. Es kann die Genauigkeit und Auflösung von Messungen verbessern, durch Strahldivergenz verursachte Messfehler reduzieren und sich besser an Dünnschichtproben unterschiedlicher Dicke und Eigenschaften anpassen. Multifunktionaler Probentisch: Ausgestattet mit Kleinwinkelbeugungszubehör kann der multifunktionale Probentisch verschiedene Testumgebungen für Proben bereitstellen, wie z. B. In-situ-Erhitzen, -Kühlen, -Dehnen usw. Dies erleichtert die Untersuchung der Strukturveränderungen von Materialien unter verschiedenen äußeren Bedingungen und ermöglicht die Echtzeitbeobachtung der Strukturreaktion von Materialien bei Temperatur-, Spannungs- und anderen Veränderungen. Das Kleinwinkeldiffraktometer-Zubehör spielt in vielen Bereichen, beispielsweise in der Materialwissenschaft, Physik, Chemie und Biologie, eine wichtige Rolle, da es Kleinwinkelbeugung und präzise Messungen der Dicke von Nano-Mehrschichtfilmen ermöglicht und Forschern damit ein leistungsstarkes Werkzeug zur eingehenden Untersuchung von Materialmikrostrukturen und -eigenschaften bietet.

Das TD-5000-Röntgen-Einkristall-Diffraktometer wird hauptsächlich verwendet, um die dreidimensionale räumliche Struktur und Elektronenwolkendichte von kristallinen Substanzen wie anorganischen, organischen und Metallkomplexen zu bestimmen und die Struktur von Spezialmaterialien wie Zwillingskristallen, nichtkommensurablen Kristallen, Quasikristallen usw. zu analysieren. Bestimmen Sie den genauen dreidimensionalen Raum (einschließlich Bindungslänge, Bindungswinkel, Konfiguration, Konformation und sogar Bindungselektronendichte) neuer zusammengesetzter (kristalliner) Moleküle und die tatsächliche Anordnung der Moleküle im Gitter. Es kann Informationen zu den Kristallzellparametern, der Raumgruppe, der kristallinen Molekülstruktur, intermolekularen Wasserstoffbrücken und schwachen Wechselwirkungen sowie Strukturinformationen wie Molekülkonfiguration und -konformation liefern. Das Röntgen-Einkristall-Diffraktometer wird häufig in der analytischen Forschung in der chemischen Kristallographie, Molekularbiologie, Pharmakologie, Mineralogie und Materialwissenschaft verwendet. Die Einkristall-XRD ist ein Hochtechnologieprodukt des Nationalen Projekts zur Entwicklung bedeutender wissenschaftlicher Instrumente und Geräte des Ministeriums für Wissenschaft und Technologie unter der Leitung von Dandong Tongda Technology Co., Ltd., das die Lücke in der Entwicklung und Produktion von Einkristall-Röntgendiffraktometern in China schließt.

Das Röntgenabsorptions-Feinstrukturspektrometer (XAFS) ist ein leistungsfähiges Werkzeug zum Studium der lokalen atomaren oder elektronischen Struktur von Materialien und wird häufig in Bereichen wie Katalyse, Energie und Nanotechnologie eingesetzt.

Das Röntgendiffraktometer TD-5000 durchbricht das internationale Monopol im Bereich der High-End-Wissenschaftsinstrumente. Diese chinesische Innovation bietet außergewöhnliche Präzision (0,0001° Genauigkeit) und fortschrittliche Detektionsmöglichkeiten und unterstützt Forscher in der Pharmazie, Materialwissenschaft und Chemie durch umfassende Strukturanalysen.