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In der Forschung und Entwicklung von Lithium-Ionen-Batterien ist das Verständnis der dynamischen Veränderungen der Mikrostruktur von Elektrodenmaterialien während Lade- und Entladevorgängen von entscheidender Bedeutung. Herkömmliche Offline-Erkennungsmethoden können diese Veränderungen nicht in Echtzeit erfassen, während die Entwicklung von In-situ-Charakterisierungstechniken den Forschern ein leistungsstarkes Werkzeug bietet. Dandong Tongda Technology Co., Ltd. nutzt seine Expertise in der Röntgenbeugungstechnologie (XRD) und hat ein In-situ-Batteriezubehör für die Batterieforschung entwickelt, das ein effizientes Fenster zur Erforschung der Reaktionsprozesse in der „Black Box“ von Batterien bietet. Technisches Prinzip: Dynamische Überwachung mikroskaliger Veränderungen in Batteriematerialien Das zentrale Designziel des ursprünglichen Batteriezubehörs von Dandong Tongda besteht darin, die Entwicklung der Kristallstruktur von Elektrodenmaterialien mithilfe der Röntgenbeugungstechnologie (XRD) in Echtzeit zu überwachen, während die Batterie normal funktioniert (während des Ladens und Entladens). Dieses Zubehör muss typischerweise mit einem elektrochemischen Testsystem (wie dem LAND-Batterietestsystem) und einem Röntgendiffraktometer (wie dem Modell TD-3500 von Tongda Tech) zusammenarbeiten. Es bildet eine spezielle Batteriekammer, die es Röntgenstrahlen ermöglicht, die Elektrodenmaterialien der Batterie während des Betriebs zu durchdringen und zu prüfen. Der Schlüssel liegt in der Gestaltung von Fenstermaterialien (wie Berylliumfenstern) mit extrem geringer Röntgenabsorptionsrate auf den Batteriekomponenten, um eine effektive Einstrahlung und Emission der Röntgenstrahlen zu gewährleisten. Gleichzeitig integriert das Zubehör die notwendigen Elektroden, Isolierungen und Dichtungskomponenten, um normale elektrochemische Reaktionen zu gewährleisten und während des Tests eine hervorragende Abdichtung aufrechtzuerhalten. Schlüsselfunktionen und Anwendungswert Der Wert dieses In-situ-Batteriezubehörs liegt in seiner Fähigkeit, Forschern dabei zu helfen, eine Reihe mikroskopischer Veränderungen in Elektrodenmaterialien während Lade- und Entladevorgängen der Batterie intuitiv und dynamisch zu beobachten: Echtzeitbeobachtung von Phasenübergangsprozessen: Viele Elektrodenmaterialien durchlaufen während der Interkalation und Deinterkalation von Lithiumionen Phasenübergänge. In-situ-XRD kann die Bildung, das Verschwinden und die Transformation dieser Phasen in Echtzeit erfassen, was für das Verständnis der Reaktionsmechanismen der Batterie von entscheidender Bedeutung ist. Überwachung von Gitterparameteränderungen: Durch die genaue Verfolgung der Verschiebungen der XRD-Beugungsspitzen können subtile Änderungen der Gitterparameter berechnet werden, die die Ausdehnung und Kontraktion des Gitters widerspiegeln. Dies steht in engem Zusammenhang mit Batterieleistungskennzahlen wie Spannungsplattformen und Zykluslebensdauer. Mechanismen des Kapazitätsabfalls aufdecken: Kapazitätsabfall während des Batteriezyklus ist häufig auf strukturellen Abbau von Elektrodenmaterialien, Nebenreaktionen und andere Faktoren zurückzuführen. In-situ-Überwachung kann den elektrochemischen Leistungsabfall mit strukturellen Veränderungen korrelieren und so direkte Erkenntnisse zur Verbesserung von Batteriematerialien und zur Optimierung des Designs liefern. Beschleunigung der Entwicklung neuer Materialien: Zur Bewertung neuartiger Elektrodenmaterialien kann die In-situ-XRD-Technologie schnell wichtige Informationen zur strukturellen Stabilität und zu Reaktionswegen liefern und so den F&E-Prozess beschleunigen.

Die zerstörungsfreie Prüfung (ZfP) ist eine unverzichtbare Qualitätssicherungstechnologie in der modernen Industrie. Sie ermöglicht die Erkennung innerer Defekte, Strukturen und Materialeigenschaften durch die Nutzung akustischer, optischer, magnetischer und elektrischer Eigenschaften – und das alles, ohne das Prüfobjekt zu beschädigen oder seine Leistung zu beeinträchtigen. Im Vergleich zur zerstörenden Prüfung weist die zerstörungsfreie Prüfung folgende Merkmale auf: Erstens ist es zerstörungsfrei, da es die Leistung des Testobjekts nicht beeinträchtigt. Zweitens ist es umfassend. Da die Prüfung zerstörungsfrei erfolgt, ermöglicht sie bei Bedarf eine 100%ige Inspektion des Testobjekts, was bei zerstörenden Prüfungen nicht möglich ist. Drittens ist es prozessübergreifend anwendbar. Zerstörende Prüfungen eignen sich im Allgemeinen nur für Rohmaterialien, wie z. B. Zug-, Druck- und Biegeprüfungen, die im Maschinenbau häufig verwendet werden. Zerstörende Prüfungen werden nur an Rohmaterialien für die Fertigung durchgeführt. An Fertigprodukten und im Einsatz befindlichen Geräten können zerstörende Prüfungen nur durchgeführt werden, wenn diese nicht mehr verwendet werden sollen. Im Gegensatz dazu beeinträchtigt die zerstörungsfreie Prüfung die Leistung des Prüfobjekts nicht und eignet sich daher für die Prüfung des gesamten Prozesses – von den Rohmaterialien und Zwischenstufen der Fertigung bis hin zum Endprodukt – sowie für im Einsatz befindliche Geräte. Unter den vielen Herstellern von Geräten zur zerstörungsfreien Prüfung hat Dandong Tongda Technology Co., Ltd. dank seiner soliden technischen Fachkompetenz und Innovationskraft eine Vielzahl von NDT-Instrumenten entwickelt, die sich dem international höchsten Niveau nähern oder dieses sogar erreichen. Technische Merkmale: Portabilität, Sicherheit und Intelligenz Das tragbare Röntgenschweißprüfgerät NDT von Tongda Technology weist mehrere herausragende Eigenschaften auf. Die Röntgengeneratoren verfügen über eine Anodenerdung und ein Lüfterkühlungsdesign, wodurch sie kompakt, leicht, tragbar und einfach zu bedienen sind. Zur Gewährleistung der Sicherheit ist das Gerät mit einer Funktion zur verzögerten Belichtung ausgestattet, die die Sicherheit des Bedieners effektiv gewährleistet. Die Geräte arbeiten in einem 1:1-Arbeits-Ruhe-Zyklus mit einem rationalen Arbeitszyklusdesign, das die Erkennungseffizienz gewährleistet und gleichzeitig die Lebensdauer des Geräts verlängert. Die Produkte des Unternehmens basieren auf der Technologie speicherprogrammierbarer Steuerungen (SPS) und einem modularen Designkonzept, wodurch die Automatisierung verbessert, die Entstörungsfähigkeiten verbessert und eine extrem niedrige Ausfallrate sichergestellt werden. Anwendungsbereiche: Breite Akzeptanz in zahlreichen Branchen Die tragbaren NDT-Röntgenschweißprüfgeräte von Tongda Technology eignen sich für verschiedene Industriezweige, darunter Landesverteidigung, Schiffbau, Erdöl, Chemie, Maschinenbau, Luft- und Raumfahrt und Bauwesen. Mit diesen Instrumenten wird die Schweißqualität von Materialien und Komponenten wie Schiffsrümpfen, Rohrleitungen, Hochdruckbehältern, Kesseln, Flugzeugen, Fahrzeugen und Brücken sowie die innere Qualität verschiedener Leichtmetalle, Gummi, Keramik und anderer Materialien geprüft.

Dandong Tongda XAFS-Spektrometer: Ein Werkzeug zur Materialstrukturanalyse für das Labor Präzise Analyse der atomaren Materialstruktur ohne Abhängigkeit von Synchrotronstrahlungsquellen. Die Röntgenabsorptionsfeinstrukturspektroskopie (XAFS) ist eine wichtige Technik zur Untersuchung der lokalen atomaren und elektronischen Strukturen von Materialien und findet breite Anwendung in der Katalyse, Energieforschung und Materialwissenschaft. Die konventionelle XAFS-Methode basiert hauptsächlich auf Synchrotronstrahlungsquellen. Dies bringt Herausforderungen mit sich, darunter eine begrenzte Strahlverfügbarkeit, komplexe Anwendungsverfahren und die Notwendigkeit, Proben zur Analyse zu großen wissenschaftlichen Einrichtungen zu transportieren. Die von Dandong Tongda Technology Co., Ltd. entwickelte Röntgenabsorptions-Feinstruktur zielt darauf ab, diese anspruchsvolle Analysefunktion in Standardlaborumgebungen zu integrieren. Kernvorteile und praktischer Wert Das Design dieses Instruments geht auf mehrere kritische Herausforderungen ein, denen sich Forscher gegenübersehen: Laborbasierte Alternative zur Synchrotronstrahlung: Eliminiert die traditionelle Abhängigkeit von Synchrotronstrahlungsquellen und ermöglicht es Forschern, routinemäßige XAFS-Tests effizient in ihren eigenen Laborumgebungen durchzuführen, wodurch die Forschungsproduktivität erheblich gesteigert wird. In-situ-Testfunktionen: Unterstützt die Integration verschiedener In-situ-Probenkammern (z. B. elektrochemisch, temperaturvariabel), wodurch die Echtzeitüberwachung dynamischer Änderungen der lokalen Atomstruktur von Materialien unter simulierten Betriebsbedingungen (wie katalytischen Reaktionen oder Lade-/Entladevorgängen von Batterien) ermöglicht wird, was wertvolle Einblicke in Reaktionsmechanismen liefert. Automatisierter Betrieb für verbesserte Effizienz: Ein Probenrevolver mit 18 Positionen ermöglicht den automatischen Probenwechsel und erleichtert so die kontinuierliche automatisierte Messung mehrerer Proben sowie den unbemannten Betrieb. Dadurch werden die Chargenprobenprüfung und erweiterte In-situ-Experimente optimiert. Breiter Anwendungsbereich Das TD-XAFS-Spektrometer findet Anwendung in zahlreichen Bereichen, in denen eine detaillierte Untersuchung lokaler Materialstrukturen erforderlich ist: Neue Energiematerialien: Analyse von Valenzzustandsänderungen und struktureller Stabilität in Elektrodenmaterialien von Lithium-Ionen-Batterien während Lade-/Entladevorgängen; Untersuchung von Koordinationsumgebungen an katalytisch aktiven Stellen in Brennstoffzellen. Katalysewissenschaft: Besonders geeignet für die Untersuchung präziser Koordinationsstrukturen von Nanokatalysatoren und Einzelatomkatalysatoren, der Eigenschaften aktiver Zentren und ihrer Wechselwirkungen mit Trägermaterialien, selbst bei geringen Metallbeladungen (<1%). Materialwissenschaft: Untersuchung ungeordneter Strukturen, amorpher Materialien, Oberflächen-/Grenzflächeneffekte und dynamischer Phasenübergangsprozesse. Umweltwissenschaften: Analyse der Valenzzustände und Koordinationsstrukturen von Schwermetallelementen in Umweltproben (z. B. Boden, Wasser), entscheidend für die Beurteilung von Toxizität und Mobilität. Biologische Makromoleküle: Untersuchung der elektronischen Strukturen und geometrischen Konfigurationen von metallischen aktiven Zentren in Metalloproteinen und Enzymen. Zusammenfassung Das TD-XAFS-Spektrometer von Dandong Tongda ist eine leistungsstarke Testplattform für den heimischen Tischgebrauch, die für Universitäten, Forschungseinrichtungen und Forschungs- und Entwicklungszentren von Unternehmen entwickelt wurde. Es integriert erfolgreich Synchrotron-Funktionen in konventionelle Labore und reduziert so die Zugangsbarriere zur XAFS-Technologie erheblich. Das Instrument bietet Forschern praktische, effiziente und flexible Werkzeuge für die mikroskopische Materialstrukturanalyse und stellt eine praktische Lösung für Wissenschaftler dar, die die mikroskopische Welt der Materie erforschen.

Das multifunktionale integrierte Messzubehör des Röntgendiffraktometers (XRD) ist eine Schlüsselkomponente für die Durchführung von Multi-Szenen- und Multi-Skalen-Analysen. Durch den modularen Aufbau kann es die Anforderungen von Pulverbeugung, Kleinwinkelstreuung, Eigenspannungsanalyse, In-situ-Tests usw. erfüllen. Im Folgenden sind gängige multifunktionale integrierte Messzubehörteile und ihre Kernfunktionen aufgeführt: 1. Das multifunktionale integrierte Messzubehör ist ein Temperatur- und Umgebungskontrollzubehör (1) Funktion: Unterstützt Probentests bei hohen Temperaturen, niedrigen Temperaturen und kontrollierter Luftfeuchtigkeit und wird verwendet, um die Veränderungen der Kristallstruktur von Materialien unter unterschiedlichen Temperatur- oder Luftfeuchtigkeitsbedingungen zu untersuchen. (2) Merkmale: Temperaturbereich: von Raumtemperatur bis 1500 °C; Automatische Temperaturregelung und Feuchtigkeitsregulierung, geeignet für In-situ-Katalyse, Phasenwechselanalyse und andere Experimente. (3) Anwendung: Phasenübergang metallischer Werkstoffe, Analyse der Polymerkristallinität, Forschung zur thermischen Stabilität anorganischer Werkstoffe. 2. Automatischer Probengeber und Probentisch für multifunktionales integriertes Messzubehör (1) Funktion: Implementieren Sie automatisches Umschalten und präzises Positionieren mehrerer Proben, um die Testeffizienz zu verbessern. (2) Merkmale: Unterstützendes Zubehör wie Probenrotationstische und Mikrobeugungstische für die Richtungsprüfung komplexer Proben; Arbeiten Sie mit intelligenter Software zusammen, um Messparameter zu optimieren und Probenkonfigurationen automatisch zu identifizieren. (3) Anwendung: Prüfung von Chargenproben, Dünnschicht- oder Mikrobereichsanalyse. 3. Multifunktionales integriertes Messzubehör, geeignet für zweidimensionale Detektoren und schnelle eindimensionale Detektoren (1) Funktion: Unterstützt die mehrdimensionale Datenerfassung, um die Analysefähigkeit komplexer Proben zu verbessern. (2) Merkmale: Eindimensionaler Hochgeschwindigkeitsdetektor, geeignet für konventionelle Pulverbeugung; Zweidimensionaler Halbleiter-Array-Detektor, der zwischen nulldimensionalem, eindimensionalem oder zweidimensionalem Modus umschalten kann und so den Mikrobereich erweitert oder dynamische In-situ-Testmöglichkeiten bietet. (3) Anwendung: Analyse der 2D-Materialkristallorientierung, Überwachung der Reaktionsdynamik vor Ort. 4. Der multifunktionale integrierte Messaufsatz ist ein Eigenspannungs- und Mikrobereichsbeugungsaufsatz (1) Funktion: Führen Sie Richtungstests der Spannungsverteilung oder kleiner Bereiche auf der Oberfläche von Materialien durch. (2) Merkmale: Kombination des optischen θ/θ-Systems mit einer Mikrofokus-Röntgenquelle, um eine Mikrobeugung im Submillimeterbereich zu erreichen; zerstörungsfreie Messung, verwendet für die Spannungsanalyse von Metallwerkstücken und Halbleiterbauelementen. (3) Anwendung: Ermüdungsprüfung von Luft- und Raumfahrtkomponenten, Spannungscharakterisierung von Halbleiterdünnschichten. 5. Das multifunktionale integrierte Messzubehör ist ein intelligentes Kalibrierungs- und Automatisierungssteuerungszubehör (1) Funktion: Gewährleistung der Testgenauigkeit und -konsistenz durch Komponentenerkennung und automatische Kalibrierungstechnologie. (2) Funktionen: Automatische QR-Code-Erkennung, Konfiguration der Anhänge, softwaregesteuerte optimale Testbedingungen; Vollautomatisches Kalibrierungsprogramm zur Reduzierung menschlicher Bedienungsfehler. (3) Anwendung: Komplexes Umschalten von Anbaugeräten (z. B. Hochtemperatur-+AXS-Modus), anfängerfreundliche Bedienung. Das Zubehördesign moderner Röntgendiffraktometer legt Wert auf Modularität, Intelligenz und Automatisierung. Durch die Zusammenarbeit von Software und Hardware können Zubehörteile schnell gewechselt, Parameter optimiert und Daten standardisiert werden. Zukünftige Trends umfassen präzisere Mikroflächenanalysen, integrierte Lösungen für dynamische In-situ-Tests und intelligente, auf künstlicher Intelligenz basierende Zubehörmanagementsysteme.

Das Röntgen-Einkristall-Diffraktometer TD-5000 ist ein leistungsstarkes Analysegerät, das von Dandong Tongda Technology Co., Ltd. entwickelt und hergestellt wird. Im Folgenden finden Sie eine detaillierte Einführung in das Gerät: 1. Aufbau und technische Eigenschaften des Einkristall-Diffraktometers (1) Grundlegender technischer Support Die Verwendung der konzentrischen Vierkreis-Winkelmessinstrumententechnologie stellt sicher, dass die Mittelposition des Winkelmessgeräts während der Rotation konstant bleibt, was die Datenintegrität und -genauigkeit verbessert. Ausgestattet mit einem Hybrid-Pixel-Detektor, kombiniert mit Einzelphotonenzählung und Hybrid-Pixel-Technologie, erreicht es eine rauscharme Datenerfassung mit hohem Dynamikbereich, die für anspruchsvolle Probenanalysen geeignet ist. Hochleistungs-Röntgengenerator (3 kW oder 5 kW), der die Auswahl von Cu/Mo und anderen Zielmaterialien unterstützt, mit einer Brennweite von 1 × 1 mm und einer Divergenz von 0,5–1 mrad, der verschiedene experimentelle Anforderungen erfüllt. (2) Modularisierung und Betriebsoptimierung Die gesamte Maschine nutzt SPS-Steuerungstechnologie und modulares Design, um Plug-and-Play-Zubehör zu ermöglichen und den Kalibrierungsprozess zu verkürzen. Der Touchscreen überwacht den Gerätestatus in Echtzeit, und das Ein-Klick-Erfassungssystem vereinfacht die Bedienung. Die elektronische Bleitürverriegelung bietet doppelten Schutz mit einer Röntgenleckage von ≤ 0,12 µSv/h (bei maximaler Leistung). 2. Technische Parameter des Einkristalldiffraktometers (1) Genauigkeit und Wiederholbarkeit 2 θ Winkelwiederholgenauigkeit: 0,0001 ° Minimaler Schrittwinkel: 0,0001 ° Temperaturregelbereich: 100 K ~ 300 K, Regelgenauigkeit ± 0,3 K. (2) Detektorleistung Sensible Fläche: 83,8 × 70,0 mm² Pixelgröße: 172 × 172 μ m², Pixelabstandsfehler<0.03% Maximale Bildrate: 20 Hz, Auslesezeit von 7 ms, Energiebereich von 3,5~18 keV. (3) Weitere Schlüsselparameter Röntgenröhrenspannung: 10–60 kV (1 kV/Schritt), Stromstärke 2–50 mA oder 2–80 mA. Verbrauch von flüssigem Stickstoff: 1,1–2 l/Stunde (Niedertemperaturexperiment). 3. Anwendungsgebiete des Einkristalldiffraktometers (1) Hauptforschungsrichtung Kristallstrukturanalyse: Analysieren Sie die atomare Anordnung, Bindungslänge, Bindungswinkel, Molekülkonfiguration und Elektronenwolkendichte von Einkristallmaterialien. Arzneimittelkristallographie: Untersuchen Sie die Kristallmorphologie von Arzneimittelmolekülen, bewerten Sie Stabilität und biologische Aktivität. Entwicklung neuer Materialien: Analysieren Sie die dreidimensionale Struktur synthetisierter Verbindungen, um die Optimierung der Materialleistung zu unterstützen. Nanomaterialien und Phasenübergangsforschung: Untersuchung der Eigenschaften von Nanokristallen und des Mechanismus des Phasenübergangs von Materialien. (2) Typische Benutzer Fakultät für Materialwissenschaft und -technologie an der Huazhong University of Science and Technology, der Zhejiang University, der University of Science and Technology of China und anderen Universitäten. Forschungseinrichtungen wie die China Aerospace Science and Technology Corporation und die China Shipbuilding Industry Corporation. 4. Kundendienst für Einkristalldiffraktometer Bereitstellung von Originalersatzteilen, Hauswartung, Ferndiagnose und Software-Upgrade-Diensten. Regelmäßige Kalibrierungsdienste (unter Einhaltung internationaler Standards) und Bereitstellung von Betriebs- und Anwendungsschulungen für Benutzer. 5. Zubehör und erweiterte Funktionen für Einkristall-Diffraktometer (1) Optionale Anhänge Mehrschicht-Filmfokussierlinse (Divergenz von 0,5–1 mrad). Niedertemperaturgerät (Kühlung mit flüssigem Stickstoff). (2) Kompatible Geräte Es kann in Verbindung mit einem Röntgenfluoreszenzspektrometer (XRF), einem Rasterelektronenmikroskop (SEM) usw. verwendet werden, um eine mehrskalige Materialanalyse durchzuführen. Insgesamt erreicht die Leistung des TD-5000 als High-End-Einkristall-Diffraktometer internationale Standards und eignet sich daher besonders für Universitäten, Forschungsinstitute und die Entwicklung hochwertiger Materialien. Weitere Informationen finden Sie auf der offiziellen Website von Dandong Tongda Technology Co., Ltd.

Dandong Tongda Technology ist spezialisiert auf die Entwicklung von Kleinwinkel-Beugungsaufsätzen, die speziell für Röntgendiffraktometer entwickelt wurden. Mit einem Beugungswinkelbereich von 0° bis 5° ermöglichen diese Aufsätze die präzise Messung der Dicke nanometergroßer Mehrschichtfilme und unterstützen die Strukturanalyse von Nanomaterialien. Sie sind nahtlos mit den Diffraktometern der Serien TD-3500, TD-3700 und anderen kompatibel und werden häufig zur Charakterisierung nanometergroßer Materialien in Bereichen wie Materialwissenschaft, Chemieingenieurwesen, Geologie und Mineralogie eingesetzt. Durch die Integration importierter SPS-Steuerungstechnik und des modularen Aufbaus verbessern diese Aufsätze die Geräteautomatisierung und Betriebsstabilität erheblich. Die Geräte der TD-Serie erfüllen internationale Standards und wurden erfolgreich in Länder wie die USA und Aserbaidschan exportiert. Sie leisten einen wichtigen Beitrag zur globalen Nanomaterialforschung.

Zum Verständnis der Veränderungen der Kristallstruktur von Proben während der Hochtemperaturerhitzung und der Veränderungen der gegenseitigen Auflösung verschiedener Substanzen während der Hochtemperaturerhitzung. Die In-situ-Hochtemperaturbefestigung ist ein experimentelles Gerät zur In-situ-Charakterisierung von Materialien unter Hochtemperaturbedingungen, hauptsächlich zur Untersuchung dynamischer Prozesse wie Kristallstrukturänderungen, Phasenübergängen und chemischen Reaktionen von Materialien während der Hochtemperaturerhitzung. Im Folgenden finden Sie eine detaillierte Einführung hinsichtlich technischer Parameter, Anwendungsszenarien und Vorsichtsmaßnahmen: 1. Technische Parameter von In-situ-Hochtemperaturbefestigungen 1. Temperaturbereich von In-situ-Hochtemperaturbefestigungen Inertgas-/Vakuumumgebung: Die maximale Temperatur kann 1600 °C erreichen. Standardumgebung: Raumtemperatur bis 1200 °C (wie im TD-3500 XRD-Zubehör vorgesehen). 2. Temperaturkontrollgenauigkeit von In-situ-Hochtemperaturzubehör: normalerweise ± 0,5 °C (z. B. In-situ-Hochtemperaturzubehör), und die Genauigkeit einiger Geräte über 1000 °C beträgt ± 0,5 °C. 3. Fenstermaterialien und Kühlmethoden für In-situ-Hochtemperaturbefestigungen Fenstermaterial: Polyesterfolie (temperaturbeständig bis 400 °C) oder Berylliumblech (Dicke 0,1 mm), verwendet für die Röntgendurchdringung. Kühlmethode: Die Zirkulationskühlung mit deionisiertem Wasser gewährleistet einen stabilen Betrieb der Geräte unter Hochtemperaturbedingungen. 4. Atmosphären- und Druckkontrolle von In-situ-Hochtemperaturanbauteilen: Unterstützt Inertgase (wie Ar, N₂), Vakuum oder atmosphärische Umgebungen, und einige Modelle können Drücken von weniger als 10 Bar standhalten. Die Atmosphärengasdurchflussrate kann eingestellt werden (0,7–2,5 l/min), geeignet für Umgebungen mit korrosiven Gasen. Zwei Anwendungsszenarien für In-situ-Hochtemperaturbefestigungen 1. Materialforschung zu in-situ Hochtemperaturbefestigungen Analysieren Sie die Veränderungen der Kristallstruktur (z. B. den Phasenübergang von Platin) und Phasenübergangsprozesse (z. B. Schmelzen und Sublimation) bei hohen Temperaturen. Untersuchen Sie die chemischen Reaktionen von Materialien bei hohen Temperaturen, wie z. B. Auflösung und Oxidation. 2. Geräteadaption von In-situ-Hochtemperaturanbaugeräten Wird hauptsächlich in Röntgendiffraktometern (XRD) wie TD-3500, TD-3700 usw. verwendet. Es kann auch für In-situ-Zugversuche mittels Rasterelektronenmikroskopie (SEM) verwendet werden, wobei kundenspezifische Flanschverbindungen erforderlich sind. 1. Vorsichtsmaßnahmen bei der Verwendung von Hochtemperaturzubehör vor Ort 1. Beispielhafte Anforderungen an In-situ-Hochtemperaturbefestigungen Es ist notwendig, die chemische Stabilität der Probe im Zieltemperaturbereich vorab zu testen, um eine Zersetzung in starke Säuren/Basen oder eine keramische Bindung zu vermeiden. Die Probenform muss den Anforderungen der Befestigung entsprechen (z. B. Dicke 0,5–4,5 mm, Durchmesser 20 mm). 2. Experimentelle Betriebsverfahren für In-situ-Hochtemperaturbefestigungen Die Heizrate muss kontrolliert werden (z. B. maximal 200 °C/min bei 100 °C), um eine Überhitzung und Beschädigung des Geräts zu vermeiden. Nach dem Experiment muss die Probe auf Raumtemperatur abgekühlt werden, um strukturelle Schäden zu vermeiden.

Der multifunktionale integrierte Messaufsatz ermöglicht präzise Textur-, Spannungs- und Dünnschichtanalysen. Er unterstützt Polfigurenabbildung, biaxiale Spannungsmessung und Rotation in der Ebene. Ideal für Metalle, Keramik, Beschichtungen und Polymere. Er zeichnet sich durch eine Schrittgenauigkeit von 0,001° und einen Probendurchmesser von 100 mm aus.

Das Röntgenabsorptions-Feinstrukturspektrometer (XAFS) ist ein leistungsfähiges Werkzeug zur Untersuchung der lokalen atomaren oder elektronischen Struktur von Materialien und wird häufig in gängigen Bereichen wie Katalyse, Energie und Nanotechnologie eingesetzt. Das Grundprinzip eines Röntgen-Absorptions-Feinstrukturspektrometers (XAFS) besteht darin, dass bei Resonanz der Energie der Röntgenstrahlen mit der Energie einer inneren Elektronenschale eines Elements in der Probe ein plötzlicher Anstieg der Elektronenanzahl angeregt wird und ein kontinuierliches Spektrum entsteht, das als Absorptionskante bezeichnet wird. Nahe der Absorptionskante nimmt mit zunehmender Röntgenenergie und zunehmender Eindringtiefe der Röntgenstrahlen die Absorptionsrate monoton ab. Wird das Spektrum über eine bestimmte Kante hinaus erweitert, lassen sich Feinstrukturen beobachten. XANES-Bereiche (X-ray Absorption Near Edge Structures) erscheinen, sobald Spitzen und Schultern mit einer Breite von über 20 bis 30 Elektronenvolt den Anfangspunkt der Kante passieren. Die Feinstruktur auf der energiereichen Seite der Kante, wo die Energie auf mehrere Hundert Elektronenvolt abfällt, wird als Röntgen-Absorptions-Feinstruktur (XAFS) bezeichnet. Die Hauptmerkmale des Röntgenabsorptions-Feinstrukturspektrometers (XAFS) sind: Empfindlichkeit gegenüber Nahordnung: Die Methode ist von der Nahordnung abhängig und nicht von der Fernordnung. Dadurch können Messungen an einer breiten Palette von Proben durchgeführt werden. Sie kann für amorphe, flüssige und geschmolzene Proben, aktive Katalysatorzentren, Metallproteine ​​usw. sowie für Strukturuntersuchungen von Fremdatomen in Kristallen verwendet werden. Starke Elementeigenschaften: Die Röntgenabsorptionskante weist Elementeigenschaften auf, und für Atome verschiedener Elemente in der Probe kann die atomare Nachbarstruktur verschiedener Elemente in derselben Verbindung durch Anpassen der einfallenden Röntgenenergie untersucht werden. Hohe Empfindlichkeit: Mit der Fluoreszenzmethode können Elementproben mit Konzentrationen von nur einem Millionstel gemessen werden. Umfassende Erfassung struktureller Informationen: Bereitstellung von Parametern, die die lokale Struktur bestimmen, wie etwa der Abstand zwischen absorbierenden Atomen und benachbarten Atomen, die Anzahl und Art dieser Atome sowie der Oxidationszustand absorbierender Elemente. Die Probenvorbereitung ist einfach: Es wird kein Einkristall benötigt, und unter den experimentellen Bedingungen ist die Datenerfassungszeit relativ kurz. Mit einer Synchrotron-Röntgenquelle dauert die Messung einer Spektrallinie in der Regel nur wenige Minuten. Die Hauptvorteile des Röntgenabsorptions-Feinstrukturspektrometers (XAFS) sind: Hauptvorteil: höchstes Lichtstromprodukt Photonenfluss von über 1.000.000 Photonen/Sekunde/eV, mit einer spektralen Effizienz, die um ein Vielfaches höher ist als bei anderen Produkten; Erzielung einer Datenqualität, die der von Synchrotronstrahlung entspricht Hervorragende Stabilität: Die Stabilität der monochromatischen Lichtintensität der Lichtquelle ist besser als 0,1 %, und die Energiedrift bei wiederholter Sammlung beträgt weniger als 50 meV 1% Nachweisgrenze: Hoher Lichtstrom, hervorragende Optimierung des optischen Pfads und hervorragende Stabilität der Lichtquelle gewährleisten, dass auch dann noch hochwertige EXAFS-Daten gewonnen werden können, wenn der gemessene Elementgehalt über 1 % liegt. 4. Anwendungsbereiche des Röntgenabsorptions-Feinstrukturspektrometers (XAFS): Energiebereich: beispielsweise Forschung zu Lithiumbatterien und anderen Sekundärbatteriematerialien, Brennstoffzellenforschung, Forschung zu Wasserstoffspeichermaterialien usw. Mithilfe von XAFS können Konzentration, Valenzzustand, Koordinationsumgebung und dynamische Änderungen von Kernatomen während Lade-Entlade-Zyklen und elektrochemischen Reaktionen ermittelt werden. Katalysebereich: Wird für die Forschung zur Nanopartikelkatalyse, Einzelatomkatalyse usw. verwendet. Erhalten Sie die Morphologie des Katalysators auf dem Träger, die Interaktionsform mit dem Träger und ihre Änderungen während des katalytischen Prozesses durch XAFS sowie die benachbarten Strukturen von Metallionen mit extrem niedrigem Gehalt. Im Bereich der Materialwissenschaften wird das Röntgenabsorptions-Feinstrukturspektrometer (XAFS) zur Charakterisierung verschiedener Materialien, zur Untersuchung komplexer Systeme und ungeordneter Strukturmaterialien, zur Erforschung radioaktiver Isotope, zur Untersuchung verwandter Eigenschaften von Oberflächen- und Grenzflächenmaterialien und zur Untersuchung dynamischer Materialänderungen eingesetzt. Im Bereich der Geologie kann das Röntgenabsorptions-Feinstrukturspektrometer (XAFS) zur Analyse der Elementvalenzzustände von Erzmaterialien in der geologischen Forschung eingesetzt werden. Umweltbereich: XES kann zur Valenzzustandsanalyse von Cr/As-Elementen usw. verwendet werden. Im Bereich der Radiochemie kann ein Röntgenabsorptions-Feinstrukturspektrometer (XAFS) zur Valenzzustandsanalyse von Ce- und U-Elementen usw. verwendet werden. Das Röntgenabsorptions-Feinstrukturspektrometer (XAFS) spielt aufgrund seines einzigartigen Funktionsprinzips, seiner signifikanten Eigenschaften und seiner breiten Anwendungsgebiete eine wichtige Rolle in der modernen wissenschaftlichen Forschung. Es bietet ein leistungsstarkes Mittel, um ein tieferes Verständnis der Mikrostruktur und des chemischen Zustands von Materie zu erlangen und fördert so die Entwicklung und den Fortschritt in zahlreichen Disziplinen.

Das TDM-10-Desktop-Röntgenbeugungsgerät ist ein Gerät zur Analyse der Phasenstruktur von Materialien, das mit Szintillations-/Proportional-/Linear-Array-Detektoren ausgestattet werden kann. 1. Funktionsprinzip des TDM-10 Desktop-Röntgenbeugungsgeräts: Basierend auf dem Braggschen Gesetz werden Atome oder Moleküle im Kristall gestreut und interferieren mit dem Röntgenstrahl, wenn ein monochromatischer Röntgenstrahl auf einen Kristall trifft und die Bragg-Beugungsbedingung erfüllt ist (n λ = 2 dsin θ, wobei λ die Wellenlänge des Röntgenstrahls, d der Netzebenenabstand und θ der Einfallswinkel ist). Dadurch entsteht ein spezifisches Beugungsmuster. Durch Messung der Beugungsintensität unter verschiedenen Winkeln können Strukturinformationen zum Kristall gewonnen werden. 2. Eigenschaften des TDM-10 Desktop-Röntgenbeugungsgeräts: Die hohe Auflösung eines Desktop-Röntgenbeugungsgeräts ermöglicht eine präzise Messung der Kristallstruktur von Substanzen, was für die Untersuchung komplexer Gemische oder die Suche nach polykristallinen Phasen und Spurenphasen mit geringem Gehalt von entscheidender Bedeutung ist. Zerstörungsfreie Analyse mit Desktop-Röntgenbeugungsgeräten: Während des Testvorgangs wird die Probe nicht beschädigt und kann für weitere Tests oder die Verwendung in ihrem ursprünglichen Zustand verbleiben. Die Bedienung von Desktop-Röntgenpulverbeugungsgeräten ist einfach: Moderne Desktop-Röntgenpulverbeugungsgeräte verfügen in der Regel über Automatisierungs- und Intelligenzfunktionen, die die Bedienung komfortabler machen und die Anforderungen an das Fachwissen und die Fähigkeiten des Bedieners verringern. Die Vielseitigkeit von Desktop-Röntgen-Pulverbeugungsgeräten: Mit Röntgen-Pulverbeugungsgeräten können verschiedene Analysen durchgeführt werden, z. B. qualitative und quantitative Phasenanalysen, Gitterkonstantenanalysen, Spannungsanalysen usw. 3. Technische Parameter des TDM-10 Desktop-Röntgenpulverbeugungsgeräts: Das Desktop-Röntgenbeugungsgerät hat ein kleines Volumen; die Hochfrequenz- und Hochspannungsstromversorgung reduziert den Gesamtstromverbrauch des Geräts; Kann Proben schnell kalibrieren und testen; Einfache Schaltungssteuerung, leicht zu debuggen und zu installieren; Die Messgenauigkeit der Beugungspeakposition beträgt 0,001 °; Detektor: Szintillationsdetektor, proportional, lineares Array; Bereich von 2 θ: - 10°~150° Leistung: 600 W; Maximale Spannung: 40 kV; Maximaler Strom: 15 mA; Röntgenröhren: gewellte Keramikröhren, Metallkeramikröhren, Glasröhren. 4. Anwendungsbereiche des Desktop-Röntgenbeugungsgeräts TDM-10: Materialwissenschaft: Wird verwendet, um die Kristallstruktur, Phasenzusammensetzung, Korngröße, Kristallinität usw. von Metallen, Keramiken, Halbleitern und anderen Materialien zu untersuchen und hilft Materialwissenschaftlern, die Eigenschaften und Merkmale von Materialien zu verstehen. Im Bereich der Chemie können Röntgenbeugungsgeräte in der Fertigungsindustrie für Katalysatoren, Zement, Pharmazeutika und andere Produkte eingesetzt werden, um Phasen in unbekannten Proben zu identifizieren und bekannte Phasen in gemischten Proben quantitativ zu analysieren. Geologie: Durchführen von Phasenanalysen an Erzen, Gesteinen usw., um deren mineralische Zusammensetzung und Struktur zu bestimmen. Umweltwissenschaften: werden zur Analyse der Mineralzusammensetzung und Schadstoffformen in Umweltproben wie Boden und Sediment verwendet. Lebensmittelindustrie: Nachweis von Kristallbestandteilen, Zusatzstoffen etc. in Lebensmitteln. Das Desktop-Röntgenbeugungsgerät TDM-10 ist ein leistungsstarkes Analyseinstrument mit wichtigem Anwendungswert in vielen Bereichen.