



Unter der zerstörungsfreien industriellen CT-Prüfung versteht man die Beurteilung interner Defekte, struktureller Defekte, der Physik und der Zusammensetzung des Produkts im Originalzustand und der Leistung des Werkstücks, ohne die Rohmaterialien zu zerstören oder zu verändern.
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Die Mikro-CT-Technologie bietet erhebliche Vorteile bei der Charakterisierung von Keramik, da sie die Verbundstruktur im Inneren des Materials ohne Beschädigung sichtbar machen und die Schlüsseltechnologie bei der Herstellung von Keramik wiederherstellen kann.
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Aufgrund der unterschiedlichen Kristallisationsbedingungen weisen die Partikel pulverförmiger Arzneimittelproben unterschiedliche Morphologien auf.
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Forscher der Synchrotronstrahlungsanlage SPring-8 am RIKEN Research Institute in Japan und ihre Mitarbeiter haben eine schnellere und einfachere Methode zur Durchführung der Segmentierungsanalyse entwickelt, einem wichtigen Prozess in der Materialwissenschaft.
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Forscher haben eine Röntgenbildgebungstechnik entwickelt, die detaillierte Bilder von Organismen mit viel geringeren Röntgenstrahlendosen als bisher ermöglicht.
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XRD als qualitatives Analysemittel ist nicht blind, mit Hilfe von Analysesoftware ist der Einfachheit halber grundsätzlich das XRD-Muster selbst das Wichtigste.
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Als neue Materialcharakterisierungstechnologie eignet sich PDF (Pair Distribution Function) für die Untersuchung der lokalen Struktur sowohl von Kristallen als auch von amorphen Materialien.
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Die strukturelle Stabilität von SBA-15 hängt eng mit seiner Porengröße und seinen Eigenschaften zusammen, und XRD ist eine der effektivsten Methoden zur Charakterisierung seiner Struktur.
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Um festzustellen, ob Talk Asbest enthält, ist in der Regel eine Kombination aus Polarisations- oder Elektronenmikroskopie und Röntgenbeugung erforderlich. Bei der quantitativen Analyse von Asbest kommt hauptsächlich die Röntgenbeugungsmethode zum Einsatz.
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Die Kleinwinkel-Röntgenstreuung (SAXS) ist eine Technologie, die Streusignale sammelt, die von Röntgenstrahlen erzeugt werden, die eine Probe durchdringen, um die Strukturinformationen einer Probe im Bereich von 1 bis 100 nm zu untersuchen.
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