Die Röntgenbeugungstechnologie wird häufig in der Forschung an Lithium-Ionen-Batterien eingesetzt. XRD ist eine konventionelle Methode zur qualitativen und quantitativen Analyse von Phasen in Materialien.

Am Beispiel der Abscheidungsskalierung stellt dieser Artikel vor, wie man Röntgendiffraktometer für die qualitative Phasen- und quantitative Analyse verwendet.

Totalreflexions-Röntgenfluoreszenz (TXRF) ist eine Technik zur Analyse von Oberflächenelementen, die üblicherweise zur Analyse von Partikeln, Rückständen und Verunreinigungen auf glatten Oberflächen verwendet wird.

Röntgenbeugung (XRD) ist derzeit eine leistungsstarke Methode zur Untersuchung der Kristallstruktur (z. B. der Art und Ortsverteilung von Atomen oder Ionen und ihrer Gruppen, Zellform und -größe usw.).

Der Röntgenkristallanalysator ist eine Art großes Analysegerät zur Untersuchung der inneren Mikrostruktur von Substanzen, das hauptsächlich zur Einkristallorientierung, Defekterkennung, Eigenspannungsbestimmung, Einkristallversetzung usw. verwendet wird.

Bei diesem Verfahren handelt es sich um ein selbst entwickeltes Verfahren. Es enthält eine Vielzahl von von uns entwickelten quantitativen Analysefunktionen, die der Beugungstheorie entsprechen und anhand der Integralintensität berechnet werden.

In diesem Artikel werden hauptsächlich einige relevante Themen zur „JADE-Softwareanalyse und Verarbeitung von XRD-Daten“ behandelt.

Röntgendiffraktometer werden hauptsächlich zur Phasencharakterisierung, quantitativen Analyse, Kristallstrukturanalyse, Materialstrukturanalyse und Kristallorientierungsanalyse von Pulver-, Block- oder Dünnfilmproben verwendet.

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Röntgendiffraktometer, auch bekannt als Röntgenkristalldiffraktometer, abgekürzt XPD oder XRD, ist ein Instrument zur Untersuchung der inneren Mikrostruktur von Materie. Das Röntgendiffraktometer zeichnet sich durch hohe Präzision, hohe Stabilität und komfortable Bedienung aus.