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Das hochauflösende Röntgendiffraktometer TD-3700 ist ein neues Mitglied der TD-Serie und verfügt über eine Vielzahl leistungsstarker Detektoren wie schnelle eindimensionale Array-Detektoren, zweidimensionale Detektoren und SDD-Detektoren. Es vereint schnelle Analyse, komfortable Bedienung und Anwendersicherheit. Die modulare Hardwarearchitektur und das maßgeschneiderte Softwaresystem bilden eine perfekte Kombination, die eine extrem niedrige Ausfallrate, eine hohe Entstörungsleistung und einen langfristig stabilen Betrieb der Hochspannungsversorgung gewährleistet. Das hochauflösende Röntgendiffraktometer TD-3700 unterstützt neben der konventionellen Beugungsdatenerfassung auch die Transmissionsdatenerfassung. Die Auflösung im Transmissionsmodus ist deutlich höher als im Beugungsmodus und eignet sich daher für die Strukturanalyse und andere Bereiche. Der Beugungsmodus weist starke Beugungssignale auf und eignet sich besser für die routinemäßige Phasenidentifikation im Labor. Darüber hinaus kann die Pulverprobe im Transmissionsmodus nur in Spuren vorliegen, was die Datenerfassung bei relativ kleinen Probenmengen erleichtert, die den Anforderungen der Beugungsmethode zur Probenvorbereitung nicht genügen. Der Array-Detektor nutzt die Mixed-Photon-Counting-Technologie voll aus und arbeitet rauschfrei, mit schneller Datenerfassung und mehr als zehnmal schneller als Szintillationsdetektoren. Er verfügt über eine exzellente Energieauflösung und kann Fluoreszenzeffekte effektiv eliminieren. Mehrkanaldetektoren haben schnellere Auslesezeiten und erzielen bessere Signal-Rausch-Verhältnisse. Ein Detektorsteuerungssystem mit elektronischer Gating-Funktion und externer Triggerung vervollständigt die Systemsynchronisation. Das Funktionsprinzip des hochauflösenden Röntgendiffraktometers TD-3700: Durch die Nutzung der Röntgenstrahlungsfluktuation wirken Atome oder Ionen im Kristall beim Auftreffen auf einen Kristall als Streuzentren und streuen die Röntgenstrahlen in alle Richtungen. Aufgrund der regelmäßigen Atomanordnung im Kristall interferieren diese Streuwellen miteinander und verstärken sich in bestimmten Richtungen, wodurch Beugung entsteht. Durch Messung des Beugungswinkels und der Beugungsintensität können Strukturinformationen zum Kristall gewonnen werden. Die Hauptmerkmale des hochauflösenden Röntgendiffraktometers TD-3700 sind: (1) Einfach zu bedienendes Ein-Klick-Sammelsystem; (2) Modularer Aufbau, Plug-and-Play-Instrumentenzubehör, keine Kalibrierung erforderlich; (3) Online-Überwachung in Echtzeit über einen Touchscreen zur Anzeige des Gerätestatus; (4) Elektronische Türverriegelung mit doppeltem Schutz, die die Sicherheit des Benutzers gewährleistet; (5) Hochfrequenz- und Hochspannungs-Röntgengenerator mit stabiler und zuverlässiger Leistung; (6) Fortschrittliche Aufnahmesteuereinheit mit starker Entstörungsfähigkeit. Die hohe Präzision des hochauflösenden Röntgendiffraktometers TD-3700 ermöglicht eine hochpräzise Analyse der Kristallstruktur von Materialien, wie beispielsweise die genaue Bestimmung von Gitterkonstanten, Zellparametern usw. Die Winkelmessgenauigkeit kann ±0,0001° erreichen. Die hohe Auflösung des hochauflösenden Röntgendiffraktometers TD-3700 ermöglicht eine klare Unterscheidung benachbarter Beugungsspitzen, eine genaue Analyse der Beugungsinformationen verschiedener Kristallebenen für komplexe Kristallstrukturen und die Offenlegung der Mikrostruktureigenschaften von Materialien. Die zerstörungsfreie Natur des hochauflösenden Röntgendiffraktometers TD-3700: Es verursacht während des Testvorgangs keine Schäden an der Probe und die Probe kann für mehrere Tests in ihrem ursprünglichen Zustand belassen werden, was besonders bei wertvollen oder schwer zu beschaffenden Proben wichtig ist. Schnelle Analyse des hochauflösenden Röntgendiffraktometers TD-3700: Moderne hochauflösende Röntgendiffraktometer verfügen über schnelle Erkennungsfunktionen und können Probentests in kurzer Zeit abschließen, wodurch die Arbeitseffizienz verbessert wird. 3. Anwendungsbereiche des hochauflösenden Röntgendiffraktometers TD-3700: Halbleitermaterialien: Wird verwendet, um die Kristallqualität von Halbleiter-Einkristallmaterialien und epitaktischen Dünnfilmen zu erkennen, Gitterfehlanpassungen, Defekte und andere Informationen zu analysieren, was zur Optimierung der Leistung von Halbleiterbauelementen beiträgt. Supraleitende Materialien: Untersuchen Sie die Kristallstruktur und den Phasenübergangsprozess supraleitender Materialien, um eine Grundlage für die Optimierung supraleitender Eigenschaften zu schaffen. Nanomaterialien: Durch die Analyse der Korngröße, Kristallstruktur, mikroskopischen Spannung usw. von Nanomaterialien können Forscher deren Eigenschaften und Anwendungen besser verstehen. Andere Bereiche: Es wird auch häufig in der Forschung und Qualitätskontrolle von Metallmaterialien, Keramikmaterialien, Polymermaterialien, Biomaterialien und anderen Bereichen eingesetzt. Das hochauflösende Röntgendiffraktometer ist ein hochpräzises, hochauflösendes, zerstörungsfreies und schnelles Analyseinstrument mit wichtigem Anwendungswert in vielen Bereichen.
Das hochauflösende Röntgendiffraktometer TD-3700 bietet alle Vorteile des Röntgendiffraktometers TD-3500 und ist mit einem Hochleistungs-Array-Detektor ausgestattet. Im Vergleich zu Szintillationsdetektoren oder Proportionaldetektoren kann die Beugungsberechnungsintensität um ein Vielfaches erhöht werden, und in einer kürzeren Abtastperiode können vollständige hochempfindliche, hochauflösende Beugungsmuster und eine höhere Zählintensität erzielt werden. Das hochauflösende Röntgendiffraktometer TD-3700 unterstützt sowohl konventionelle Beugungsdaten-Scanning- als auch Transmissionsdaten-Scanning-Methoden. Die Auflösung des Transmissionsmodus ist viel höher als die des Beugungsmodus, was für Strukturanalysen und andere Bereiche geeignet ist. Der Beugungsmodus weist starke Beugungssignale auf und eignet sich besser für die routinemäßige Phasenidentifikation im Labor. Darüber hinaus kann die Pulverprobe im Transmissionsmodus in Spurenmengen vorliegen, was für die Datenerfassung in Fällen geeignet ist, in denen die Probengröße relativ klein ist und die Anforderungen der Beugungsmethode zur Probenvorbereitung nicht erfüllt.