Das Röntgenabsorptions-Feinstrukturspektrum (XAFS) ist ein leistungsfähiges Werkzeug zum Studium der lokalen atomaren oder elektronischen Struktur von Materialien und wird häufig in gängigen Bereichen wie Katalyse, Energie und Nanotechnologie eingesetzt. Das Prinzip des Röntgenabsorptions-Feinstrukturspektrums (XAFS): Das Röntgenabsorptions-Feinstrukturspektrum bezeichnet hochauflösende Spektren nahe den charakteristischen Kanten der Elektronen im Atomkern, die Röntgenstrahlen absorbieren. Entspricht die Energie der Röntgenstrahlen der Anregungsenergie der Elektronen in der inneren Schale des gemessenen Elements, werden diese stark absorbiert, was zu einer Absorptionsgrenze (oder Absorptionskante) führt. In der Nähe der Absorptionskante weist der Absorptionskoeffizient der Röntgenstrahlen aufgrund von Mehrfachstreuung und anderen Gründen oszillierende Phänomene, die sogenannte Feinstruktur, auf. 2. Hauptvorteile des Röntgenabsorptions-Feinstrukturspektrums (XAFS): (1) Das Produkt mit dem höchsten Lichtstrom, mit einem Photonenfluss von über 1.000.000 Photonen/Sekunde/eV und einer spektralen Effizienz, die um ein Vielfaches höher ist als bei anderen Produkten; Erzielung einer Datenqualität, die der von Synchrotronstrahlung entspricht (2) Ausgezeichnete Stabilität, die monochromatische Lichtintensitätsstabilität der Lichtquelle ist besser als 0,1% und die wiederholte Energiedrift beträgt weniger als 50 meV (3) Eine Nachweisgrenze von 1 %, ein hoher Lichtstrom, eine hervorragende Optimierung des optischen Pfads und eine hervorragende Stabilität der Lichtquelle gewährleisten, dass auch dann noch qualitativ hochwertige EXAFS-Daten gewonnen werden können, wenn der gemessene Elementgehalt über 1 % liegt. 3. Anwendungsgebiete von XAFS: Industrielle Katalyse, Energiespeichermaterialien, Nanomaterialien, Umwelttoxikologie, qualitative Analyse, Schwerelementanalyse usw. 4. Hauptfunktionen von XAFS: (1) Nahbereichsordnung: EXAFS basiert auf Nahbereichswechselwirkungen und nicht auf Fernbereichsordnung. XAFS kann zur Untersuchung der Struktur ungeordneter Systeme wie amorpher, flüssiger, geschmolzener und katalysatoraktiver Zentren verwendet werden. (2) Elementspezifität: Mit der Fluoreszenzmethode können Elementproben mit Konzentrationen von nur einem Millionstel gemessen werden. Durch Anpassung der einfallenden Röntgenenergie können die benachbarten Strukturen von Atomen verschiedener Elemente in derselben Verbindung untersucht werden. (3) Polarisationseigenschaften: Mit polarisierten Röntgenstrahlen können atomare Bindungswinkel und Oberflächenstrukturen in orientierten Proben gemessen werden. Das Röntgenabsorptions-Feinstrukturspektrum ist mit seinen einzigartigen Prinzipien, bedeutenden Eigenschaften und breiten Anwendungsfeldern zu einem unverzichtbaren und wichtigen Werkzeug in vielen Bereichen wie der Materialwissenschaft, der katalytischen Chemie und der Energieforschung geworden und bietet eine starke Unterstützung für die eingehende Erforschung von Materialmikrostrukturen und elektronischen Zuständen.

Das Röntgenabsorptions-Feinstrukturspektrometer (XAFS) ist ein leistungsfähiges Werkzeug zum Studium der lokalen atomaren oder elektronischen Struktur von Materialien und wird häufig in Bereichen wie Katalyse, Energie und Nanotechnologie eingesetzt.

Das Röntgenabsorptionsfeinstrukturspektrum (XAFS) ist ein analytisches Werkzeug zur Untersuchung der Struktur und Eigenschaften von Substanzen. XAFS erhält Informationen über Atome und Moleküle in einer Probe, indem es die Röntgenabsorption der Probe innerhalb eines bestimmten Energiebereichs misst. XAFS ist ein leistungsstarkes Werkzeug zur Untersuchung der lokalen atomaren oder elektronischen Struktur von Materialien. Die XAFS-Technologie wird häufig in Materialwissenschaften, Chemie, Biologie und anderen Bereichen eingesetzt, insbesondere in Forschungsbereichen wie Katalyse, Batterien, Sensoren usw. XAFS hat einen wichtigen Anwendungswert. Durch die XAFS-Technologie können Forscher ein tieferes Verständnis der Mikrostruktur und Eigenschaften von Proben erlangen, was eine leistungsstarke Unterstützung für die Entwicklung und Optimierung neuer Materialien bietet.

Das Röntgenabsorptions-Feinstrukturspektrometer ist ein leistungsfähiges Werkzeug zum Studium der lokalen atomaren oder elektronischen Struktur von Materialien und wird häufig in Bereichen wie Katalyse, Energie und Nanotechnologie eingesetzt. Kernvorteile von XAFS: Produkt mit höchstem Lichtstrom: Photonenfluss von über 1.000.000 Photonen/Sekunde/eV, mit einer spektralen Effizienz, die um ein Vielfaches höher ist als bei anderen Produkten; Erreichen einer Datenqualität, die der von Synchrotronstrahlung entspricht Hervorragende Stabilität: Die Stabilität der monochromatischen Lichtintensität der Lichtquelle ist besser als 0,1 % und die Energiedrift bei wiederholter Sammlung beträgt weniger als 50 meV 1% Nachweisgrenze: High luminous flux, excellent optical path optimization, and excellent light source stability ensure high-quality EXAFS data is obtained even when the measured element content is>1%.

Verwendung der Röntgenbeugungsmethode (Transmission), um die einzigartige Kristallstruktur von Fasern zu testen. Testen Sie die Ausrichtung der Probe anhand von Daten wie Fasertextur und Halbwertsbreite.

Die mit Tieftemperaturgeräten gesammelten Daten liefern optimalere Ergebnisse. Mit Hilfe von Niedertemperaturgeräten können vorteilhaftere Bedingungen geschaffen werden, die es unerwünschten Kristallen ermöglichen können, ideale Ergebnisse zu erzielen, sowie idealen Kristallen, um idealere Ergebnisse zu erzielen.

Die Kristallstruktur der durch die ionische Flüssigkeit (ILs) BMIMAc modifizierten Perowskitfilme wurde bei verschiedenen Glühdauern durch Röntgenbeugung charakterisiert.

Die Analyse von Batteriematerialien hilft, die Batterieleistung zu verstehen und zu optimieren, die Batteriesicherheit und -lebensdauer zu verbessern, Kosten zu senken und die Entwicklung und Anwendung neuer Materialien zu fördern.

Röntgenabsorptionsspektroskopie ist eine spektrale Technik zur Analyse der Elementzusammensetzung und elektronischen Zustände von Materialien unter Verwendung der Signaländerungen vor und nach dem Einfall von Synchrotronstrahlungs-Röntgenstrahlen.

XAFS kann als fortschrittliche Charakterisierungstechnik für die lokale Strukturanalyse von Materialien genauere Informationen zur atomaren Strukturkoordination im Nahbereich der Struktur liefern als die Röntgenkristallbeugung.

Bei einem Material, dessen Eigenschaften von zweidimensionalen Effekten dominiert werden, unterscheiden sich die Eigenschaften des Materials im zweidimensionalen Maßstab von seinen Eigenschaften im größeren Maßstab.