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Das Paralleloptik-Filmmessgerät von Dandong Tongda ist eine Spezialkomponente für Röntgendiffraktometer, die die Leistungsfähigkeit von Dünnschichtprobenanalysen deutlich verbessert. Durch sein längliches Gitterdesign werden Streuinterferenzen effektiv unterdrückt, was die Signalqualität bei ultradünnen und Nanomultilayer-Filmen erhöht. Das Zubehör unterstützt die Kleinwinkelbeugungsanalyse (0°–5°) und ermöglicht so die präzise Messung von Schichtdicken und Grenzflächenstrukturen. Es ist kompatibel mit den Diffraktometern TD-3500, TD-5000, TD-3700 und TDM-20 und gewährleistet eine gleichbleibende Leistung auf allen Plattformen. Dieses Werkzeug, das in der Halbleiterinspektion, der Bewertung optischer Beschichtungen und der Forschung an neuen Energiematerialien weit verbreitet ist, bewältigt Herausforderungen wie schwache Signale und Hintergrundrauschen. Mit dem Fortschritt der Nanomaterial- und Halbleiterindustrie wird dem Zubehör eine zunehmend wichtige Rolle in der Spitzenforschung und Qualitätskontrolle zugeschrieben.
