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  • Einkristall-Röntgenstrukturanalyse
    Einkristall-Röntgenstrukturanalyse
    1. Die Einkristallmaschine verwendet SPS-Steuerungstechnik. 2. Modulares Design, Zubehör einfach per Plug & Play anschließen. 3. Elektronische Türverriegelung mit doppeltem Schutz. 4. Einkristall-Röntgenröhre: Es können verschiedene Targets ausgewählt werden, z. B. Cu, Mo usw. 5. Der Einkristall verwendet eine Vierkreis-Konzentrizitätstechnologie, um sicherzustellen, dass der Mittelpunkt des Goniometers unverändert bleibt.
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  • Diffraktometer
    Diffraktometer
    1. Die Genauigkeit des Diffraktometers ist hoch. 2. Das Anwendungsgebiet des Diffraktometers ist breit. 3. Das Diffraktometer ist einfach zu bedienen, komfortabel und effizient.
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  • Serien-Röntgenkristallanalysator
    Serien-Röntgenkristallanalysator
    1. Das Röntgengerät ist einfach zu bedienen und liefert schnelle Ergebnisse. 2. Das Röntgengerät ist präzise und zuverlässig und zeichnet sich durch hervorragende Leistung aus. 3. Das Röntgengerät verfügt über verschiedene funktionelle Zubehörteile, um den Anforderungen unterschiedlicher Testzwecke gerecht zu werden.
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  • Pulverdiffraktometer
    Pulverdiffraktometer
    1. Detektortyp: Array-Detektor oder SDD-Detektor; 2. Automatische Steuerungsberechnung der SPS, Konvertierung des Integrationsmodus, SPS führt automatisch PHA und Totzeitkorrektur durch 3. Probenmesstyp: Pulverprobe, Flüssigkeitsproben, Schmelzproben, viskose Proben, lose Pulver, Schüttgutproben 4.Erhältlich mit einer Vielzahl von Diffraktometer-Zubehör 5.Maximale Leistung Pulver: 3kW
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Ursachenanalyse für den negativen schwarzen Fleck der Lithiumbatterie!

2023-10-25

1 Negatives Dark-Spot-Phänomen

Nach der ersten Verwendung der positiven LFP-Elektrode und der negativen Graphitelektrode gemäß dem herkömmlichen Herstellungsverfahren wurde festgestellt, dass die Batteriekapazität weniger als 0,1 % bis 0,5 % des normalen Niveaus betrug und die Batteriedicke um 1,85 zunahm %.

TD-3500 X-ray Diffractometer

2. Morphologie und Zusammensetzung negativer dunkler Flecken

Die SEM&EDS-Zusammensetzungsanalyse wurde an der Position des schwarzen Flecks am Ende der Polarplatte und der normalen Polarplatte durchgeführt. Die Ergebnisse zeigten, dass die Zusammensetzung der normalen negativen Elektrodenplatte zu 100 % aus C-Elementen bestand und die Position des schwarzen Flecks außerdem jeweils 4–44 % O-Elemente, 1–3 % F/P-Elemente und 2 % Na-Elemente enthielt Punkte (ABB. 3).

TD-3700 X-ray Diffractometer

3. Ursachenanalyse negativer dunkler Flecken

Die Struktur negativer Kohlenstoffmaterialien ist komplex und es gibt viele Arten, und ihr Leitfähigkeitsverhalten variiert je nach Elektrolytflüssigkeitssystem. Die chemische oder elektrochemische Reaktion des Elektrolyten an der Grenzfläche der negativen Elektrode hat einen wichtigen Einfluss auf die Kapazitätseigenschaften und die Lade-Entlade-Eigenschaften der Batterie. Daher sollte die Fehleranalyse der negativen Elektrodenoberfläche von den strukturellen Eigenschaften des Kohlenstoffmaterials der negativen Elektrode, der Zusammensetzung des elektrolytischen Flüssigkeitssystems und dem passenden Grad der Reaktion zwischen der negativen Elektrode und der Elektrolytgrenzfläche ausgehen. Darüber hinaus haben die Kontrolle der Grenzflächenreaktion und die Verbesserung der Batterieleistung wichtige richtungsweisende Auswirkungen.


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     TD-3700 Röntgendiffraktometer                                 TD-3500 Röntgendiffraktometer


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