



Die Dünnschichtaufhängung ermöglicht präzise XRD-Analysen von Nanometer-/Mikrometerfilmen und ist ideal für Halbleiter, Beschichtungen und Polymere. Sie verstärkt das Signal, reduziert Substratinterferenzen und unterstützt Hochgeschwindigkeitsscans. Sie wird häufig in Forschung und Entwicklung sowie in der Qualitätskontrolle mit Diffraktometern der TD-Serie eingesetzt.
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Das Dünnschicht-Messzubehör von Dandong Tongda Technology verbessert die Leistung durch den Einsatz längerer Gitterebenen. Diese Konstruktion filtert effektiv Streustrahlung heraus, reduziert Störungen durch Substratsignale und verstärkt gleichzeitig die Dünnschicht-Beugungssignale deutlich.
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