



Die Dünnschichtaufhängung ermöglicht präzise XRD-Analysen von Nanometer-/Mikrometerfilmen und ist ideal für Halbleiter, Beschichtungen und Polymere. Sie verstärkt das Signal, reduziert Substratinterferenzen und unterstützt Hochgeschwindigkeitsscans. Sie wird häufig in Forschung und Entwicklung sowie in der Qualitätskontrolle mit Diffraktometern der TD-Serie eingesetzt.
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