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  • Einkristall-Röntgenstrukturanalyse
    Einkristall-Röntgenstrukturanalyse
    1. Die Einkristallmaschine verwendet SPS-Steuerungstechnik. 2. Modulares Design, Zubehör einfach per Plug & Play anschließen. 3. Elektronische Türverriegelung mit doppeltem Schutz. 4. Einkristall-Röntgenröhre: Es können verschiedene Targets ausgewählt werden, z. B. Cu, Mo usw. 5. Der Einkristall verwendet eine Vierkreis-Konzentrizitätstechnologie, um sicherzustellen, dass der Mittelpunkt des Goniometers unverändert bleibt.
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  • Diffraktometer
    Diffraktometer
    1. Die Genauigkeit des Diffraktometers ist hoch. 2. Das Anwendungsgebiet des Diffraktometers ist breit. 3. Das Diffraktometer ist einfach zu bedienen, komfortabel und effizient.
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  • Serien-Röntgenkristallanalysator
    Serien-Röntgenkristallanalysator
    1. Das Röntgengerät ist einfach zu bedienen und liefert schnelle Ergebnisse. 2. Das Röntgengerät ist präzise und zuverlässig und zeichnet sich durch hervorragende Leistung aus. 3. Das Röntgengerät verfügt über verschiedene funktionelle Zubehörteile, um den Anforderungen unterschiedlicher Testzwecke gerecht zu werden.
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  • Pulverdiffraktometer
    Pulverdiffraktometer
    1. Detektortyp: Array-Detektor oder SDD-Detektor; 2. Automatische Steuerungsberechnung der SPS, Konvertierung des Integrationsmodus, SPS führt automatisch PHA und Totzeitkorrektur durch 3. Probenmesstyp: Pulverprobe, Flüssigkeitsproben, Schmelzproben, viskose Proben, lose Pulver, Schüttgutproben 4.Erhältlich mit einer Vielzahl von Diffraktometer-Zubehör 5.Maximale Leistung Pulver: 3kW
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  • Röntgenabsorptionsfeinstruktur
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Röntgenabsorptionsfeinstruktur

  • Tongda
  • Liaoning, China
  • 1–2 Monate
  • 100 Nächte pro Jahr
1. XAFS ist ein leistungsstarkes Werkzeug zur Untersuchung der lokalen atomaren oder elektronischen Struktur von Materialien. 2. Anwendungsgebiete der XAFS: industrielle Katalyse, Nanomaterialien, Qualitätsanalyse, Schwermetallanalyse usw. 3. XAFS-Produktvorteil: Ultrahohe Auflösung (bis zu 0,5 eV), Fluoreszenzmuster (geringer Gehalt, hohe Hintergrundstrahlung), Ultrahoher Lichtstrom, ultraniedrige Nachweisgrenzen (bis zu 0,3-0,5 %, 10.1039/D2CC05081A)

Die Röntgenabsorptionsfeinstrukturanalyse (XAFS), auch Röntgenabsorptionsspektroskopie (XAS) genannt, ist ein leistungsstarkes Werkzeug zur Untersuchung der lokalen atomaren oder elektronischen Struktur von Materialien auf Basis von Synchrotronstrahlung und wird in vielen Bereichen wie Katalyse, Energie und Nanotechnologie eingesetzt. 


Technischer Parameter

 

 




Gesamtleistung

Parameter

Anweisungen

Energiebereich

5-19 keV

Spektralmodus

Übertragungsmodus

Lichtstrom an der Probe

> 1.000.000 Photonen /s/ev

Energielösung

XANES: 0,5–1,5 eV; EXAFS: 1,5–10 eV

Röntgenstrahlweg

Heliumzufuhr verringert die Luftaufnahme

Wiederholbarkeit

Wiederholte Akquisitionsenergiedrift <50meV


Röntgenquelle

Leistung

1,6 kW, Hochspannung 10-40 kV, Strom 1-40 mA

Zielmaterial

W\Mo-Ziel, andere Ziele können ausgewählt werden

Monochromator

Typ

sphärischer analytischer Kristall mit einem Krümmungsradius von 500 mm und einer Größe von 100 mm

Detektor

Typ

Großflächiges SDD, 150 mm² effektive Fläche



Andere Konfiguration

Probenrad

18-Bit-Abtastrad, kontinuierliche automatisierte Mehrfachabtastprüfung

In-situ-Probenpool

Elektrokatalyse, variable Temperatur, andere Mehrfeld-, mechanische Bedingungen in situ Zelle

Analytischer Kristall

Kundenspezifischer Kristallmonochromator für spezielle Elemente



Kernvorteil:

1. Produkte mit dem höchsten Lichtstrom

Der Photonenfluss liegt über 1.000.000 Photonen/SEC/eV, und die spektrale Erfassungseffizienz ist um ein Vielfaches höher als bei anderen Produkten; Sie erhalten die gleiche Datenqualität wie bei Synchrotronstrahlung.ichation.

2. Ausgezeichnete Stabilität

Die Stabilität der monochromatischen Lichtintensität der Lichtquelle ist besser als 0,1% und die Energiedrift bei wiederholter Datenerfassung beträgt < 50 meV.

3,1 % Nachweisgrenze

Hoher Lichtstrom, hervorragende Optimierung des optischen Pfades und hervorragende Stabilität der Lichtquelle gewährleisten qualitativ hochwertige EXAFS-Daten mit einem gemessenen Elementgehalt von >1%.


Funktionsprinzip des Instruments

Die Röntgenabsorptionsfeinstrukturanalyse (XAFS) ist ein leistungsstarkes Werkzeug zur Untersuchung der lokalen atomaren oder elektronischen Struktur von Materialien und findet breite Anwendung in der Katalyse, der Energietechnik, der Nanotechnologie und anderen wichtigen Forschungsfeldern.

X-ray Absorption Fine Structure

                                                                          Der Labormonochromator XES testet geometrische Strukturen

XAFS

                                                                 Mn-Daten, Mn-K-Kanten-XAFS-Daten, Daten, die mit einer Synchrotronstrahlungsquelle übereinstimmen

X-ray Absorption Fine Structure Spectrum

                                                        Emissionsspektrumdaten der Fe-Probe Kβ: Kern-zu-Kern-XES und Valenz-zu-Kern-XES



Testdaten

Folien-EXAFS-Daten

X-ray Absorption Fine Structure


Messbare Elemente: Der grüne Teil kann die K-Seite messen, der gelbe Teil die L-Seite.

XAFS


Anwendungsgebiete: Industriekatalyse, Energiespeichermaterialien, Nanomaterialien, Umwelttoxikologie sowie Qualitätsanalyse, Schwermetallanalyse usw.

X-ray Absorption Fine Structure Spectrum

  • Sie sind Hersteller oder Handelsunternehmen?

    Wir sind ein professioneller Hersteller von XRD-Systemen.
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    Keine Gratisproben. Da unser XRD kein FMCG ist.
  • Wie sieht es mit Ihrer Lieferzeit aus?

    Ob das XRD angepasst werden muss, hängt davon ab. Andernfalls benötigen Sie grundsätzlich 7 bis 30 Tage, um die Vorauszahlung zu erhalten.
  • Haben Sie irgendwelche Qualifikationen?

    CE und ISO
  • Welche Leistungen können Sie erbringen?

    Technische Beratung und Bedienung der Installation sind kostenlos.

Verwandte Produkte

    Das XAFS-Spektrometer erreicht Datenqualität auf Synchrotron-Niveau mit einem Photonenfluss von >4M Photonen/s/eV,<0.1% stability, and a 1% detection limit. It empowers research across energy, catalysis, and materials science.

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