Das XAFS-Spektrometer erreicht Datenqualität auf Synchrotron-Niveau mit einem Photonenfluss von >4M Photonen/s/eV,<0.1% stability, and a 1% detection limit. It empowers research across energy, catalysis, and materials science.
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1. XAFS ist ein leistungsstarkes Werkzeug zur Untersuchung der lokalen atomaren oder elektronischen Struktur von Materialien. 2. Anwendungsgebiete der XAFS: industrielle Katalyse, Nanomaterialien, Qualitätsanalyse, Schwermetallanalyse usw. 3. XAFS-Produktvorteil: Ultrahohe Auflösung (bis zu 0,5 eV), Fluoreszenzmuster (geringer Gehalt, hohe Hintergrundstrahlung), Ultrahoher Lichtstrom, ultraniedrige Nachweisgrenzen (bis zu 0,3-0,5 %, 10.1039/D2CC05081A)
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