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Die Röntgenbeugung unter streifendem Einfall (GI-XRD) ist eine Art Röntgenbeugungstechnik, die sich vom herkömmlichen XRD-Experiment hauptsächlich durch die Änderung des Einfallswinkels der Röntgenstrahlen und der Ausrichtung der Probe unterscheidet.

Es ist notwendig, die schädliche Eigenspannung zu reduzieren und den Verteilungstrend und den Wert der Eigenspannung vorherzusagen. In diesem Artikel wird die zerstörungsfreie Prüfmethode der Eigenspannungsprüfung vorgestellt.

Röntgenbeugung (XRD) ist derzeit eine leistungsstarke Methode zur Untersuchung der Kristallstruktur (z. B. der Art und Ortsverteilung von Atomen oder Ionen und ihrer Gruppen, Zellform und -größe usw.).

Die Röntgenkristallographie ist eine Technik zur Bestimmung der atomaren und molekularen Struktur eines Kristalls, wobei die Kristallstruktur dazu führt, dass der einfallende Röntgenstrahl in viele spezifische Richtungen gebeugt wird.

Basierend auf dem Braggschen Gesetz kann die In-situ-Röntgenbeugung (XRD) verwendet werden, um die Phasenänderung und ihre Gitterparameter in der Elektrode oder der Grenzfläche zwischen Elektrode und Elektrolyt während des Lade-Entlade-Zyklus von a in Echtzeit zu überwachen Batterie.

Im Folgenden werden drei Einzelpunktdetektoren vorgestellt: Proportionalzähler, Szintillationszähler und Halbleiter-Festkörperdetektor.

Röntgenbeugung, durch die Röntgenbeugung eines Materials, die Analyse seines Beugungsmusters, um die Zusammensetzung des Materials, die Struktur oder Form der Atome oder Moleküle im Inneren des Materials und andere Forschungsmittel zu ermitteln.

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