Röntgendiffraktometer werden hauptsächlich zur Phasencharakterisierung, quantitativen Analyse, Kristallstrukturanalyse, Materialstrukturanalyse und Kristallorientierungsanalyse von Pulver-, Block- oder Dünnfilmproben verwendet.

Röntgendiffraktometer, auch bekannt als Röntgenkristalldiffraktometer, abgekürzt XPD oder XRD, ist ein Instrument zur Untersuchung der inneren Mikrostruktur von Materie. Das Röntgendiffraktometer zeichnet sich durch hohe Präzision, hohe Stabilität und komfortable Bedienung aus.

Röntgenbeugung (XRD) ist eine wichtige Methode zur Untersuchung der Phase und Kristallstruktur einer Substanz. Wenn eine Substanz (kristallin oder nichtkristallin) einer Beugungsanalyse unterzogen wird, wird die Substanz mit Röntgenstrahlen bestrahlt, um unterschiedliche Grade von Beugungsphänomenen zu erzeugen, die Materialzusammensetzung, Kristalltyp, intramolekulare Bindungsart, molekulare Konfiguration, Konformation und andere Materialeigenschaften bestimmen spezifisches Beugungsmuster der Substanz.