Als eines der wichtigsten Mittel zur Charakterisierung der Materialstruktur wird XRD in großem Umfang in den Bereichen Materialien, Physik, Chemie, Medizin und anderen Bereichen eingesetzt.

Ein Röntgendiffraktometer ist ein Gerät, das das Prinzip der Wechselwirkung zwischen Röntgenstrahlen und Substanzen nutzt, um durch Messung des Beugungswinkels und der Intensität von Röntgenstrahlen in Substanzen Informationen wie Kristallstruktur und Gitterkonstante von Substanzen zu erhalten.

Charakterisierungsmethoden für einatomige Kupferkatalysatoren werden häufig verwendet, um deren Struktur und Eigenschaften zu bestimmen. Im Folgenden sind einige gängige Charakterisierungsmethoden aufgeführt.

Die Röntgenbeugungstechnologie wird häufig in der Forschung an Lithium-Ionen-Batterien eingesetzt. XRD ist eine konventionelle Methode zur qualitativen und quantitativen Analyse von Phasen in Materialien.

Die Anwendung neuer Technologien und neuer Produkte wie 5G, Big Data und künstliche Intelligenz wird eine enorme Nachfrage auf dem Halbleitermarkt mit sich bringen, und die weltweiten Ausgaben für Halbleiterausrüstung sind in einen Aufwärtszyklus eingetreten.

Röntgendiffraktometer (XRD) können in Röntgenpulverdiffraktometer und Röntgeneinkristalldiffraktometer unterteilt werden. Das grundlegende physikalische Prinzip beider ist dasselbe.

XRD ist ein Forschungsmittel, bei dem es sich um die Beugung eines Materials mittels Röntgenbeugung handelt, um sein Beugungsmuster zu analysieren und Informationen wie die Zusammensetzung des Materials, die Struktur oder Form von Atomen oder Molekülen im Inneren des Materials zu erhalten.

Die Röntgenbeugung unter streifendem Einfall (GI-XRD) ist eine Art Röntgenbeugungstechnik, die sich vom herkömmlichen XRD-Experiment hauptsächlich durch die Änderung des Einfallswinkels der Röntgenstrahlen und der Ausrichtung der Probe unterscheidet.

Röntgenbeugung (XRD) ist derzeit eine leistungsstarke Methode zur Untersuchung der Kristallstruktur (z. B. der Art und Ortsverteilung von Atomen oder Ionen und ihrer Gruppen, Zellform und -größe usw.).

Basierend auf dem Braggschen Gesetz kann die In-situ-Röntgenbeugung (XRD) verwendet werden, um die Phasenänderung und ihre Gitterparameter in der Elektrode oder der Grenzfläche zwischen Elektrode und Elektrolyt während des Lade-Entlade-Zyklus von a in Echtzeit zu überwachen Batterie.

Röntgendiffraktometer werden hauptsächlich zur Phasencharakterisierung, quantitativen Analyse, Kristallstrukturanalyse, Materialstrukturanalyse und Kristallorientierungsanalyse von Pulver-, Block- oder Dünnfilmproben verwendet.