



Die chinesische Version der Software zur Messung und Analyse von Eigenspannungen unterstützt sowohl lineare als auch elliptische Anpassungsverfahren. Sie verwendet vollständige Spannungsgleichungen ohne Annahme einer verschwindenden Schubspannung und ermöglicht in Verbindung mit dem elliptischen Anpassungsverfahren die simultane Messung von Normal- und Schubspannungen. Jede Messung umfasst mehr als neun ψ-Winkel. Die Anpassung des Peakprofils beinhaltet Gauß-, Lorentz-, Pearson-VII- und parabolische Funktionen. Die Messergebnisse können gleichzeitig Normal- und Schubspannungswerte sowie Informationen wie Peakintensität, Integralbreite und Halbwertsbreite (FWHM) anzeigen.
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Vorteile: Stufenlos einstellbare Röntgendurchdringungstiefe Fähigkeit zur Beobachtung der Verteilung von Kristallflächen mit unterschiedlichen Orientierungen Analyse der Orientierungsverteilung in Proben wie Fasern, Dünnschichten und Pulvern Untersuchung struktureller Merkmale wie Gitterverzerrung und Kristallitgröße
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TD-RSD XRD-Eigenspannungsanalysator ±7 MPa Genauigkeit, innovative Dual-Detektor-Technologie, vollautomatischer Betrieb und leistungsstarke Software. Optimieren Sie Ihre Prozesse und erhöhen Sie die Produktzuverlässigkeit. Kompakte, effiziente und führende Lösung.
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1. Maximale Pulverausstoßleistung: 3 kW 2. Detektortyp: Array-Detektor oder SDD-Detektor 3. Erhältlich mit einer Vielzahl von Diffraktometerzubehör. 4. Arbeitsablauf: Automatische SPS-Steuerung, Berechnung, Integrationsmethodenumrechnung, automatische PHA-Analyse durch die SPS, Totzeitkorrektur 5. Art der Probenmessung: Pulverproben, Flüssigkeitsproben, Schmelzproben, viskose Proben, lose Pulver, Schüttgutproben
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1. Maximale Pulverausgangsleistung: 1200W; 2. Detektortyp: Array-Detektor oder SDD-Detektor, alle Detektortypen können in diesem Modus angepasst werden; 3. Arbeitsablauf: Automatische SPS-Steuerung, Berechnung, Integrationsverfahrensumrechnung, automatische PHA-Analyse durch die SPS, Totzeitkorrektur
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Das XAFS-Spektrometer erreicht Datenqualität auf Synchrotron-Niveau mit einem Photonenfluss von >4M Photonen/s/eV,<0.1% stability, and a 1% detection limit. It empowers research across energy, catalysis, and materials science.
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Polarographische Prüfungen mittels Transmission oder Reflexion. Belastungsprüfungen können mittels Kippmethode oder gleicher Kippmethode durchgeführt werden. Dünnschichtprüfung (Rotation der Probe in der Ebene).
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1. Detektortyp: Array-Detektor oder SDD-Detektor; 2. Automatische Steuerungsberechnung der SPS, Konvertierung des Integrationsmodus, SPS führt automatisch PHA und Totzeitkorrektur durch 3. Probenmesstyp: Pulverprobe, Flüssigkeitsproben, Schmelzproben, viskose Proben, lose Pulver, Schüttgutproben 4.Erhältlich mit einer Vielzahl von Diffraktometer-Zubehör 5.Maximale Leistung Pulver: 3kW
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Das KI-gestützte, vollautomatische Röntgendiffraktometer integriert die hochpräzise Manipulation eines Roboterarms in ein tragbares Diffraktometer. Im Vergleich zu herkömmlichen Diffraktometern reduziert es den manuellen Eingriff deutlich und eignet sich daher ideal für F&E-Anwendungen, die einen hohen Durchsatz und eine hohe Wiederholgenauigkeit erfordern. Es lässt sich per Smartphone oder App fernsteuern und verfügt über eine automatische Türöffnungs- und -schließfunktion. Dank autonomer Probenahme und Analyse bietet es Präzision und Komfort.
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Es ist mit der Verwendung eines Röntgendiffraktometers ausgestattet und gehört zu den Diffraktometerzubehörteilen. Es findet breite Anwendung in elektrochemischen Systemen, die Kohlenstoff, Sauerstoff, Stickstoff, Schwefel, Metallinterkalation usw. enthalten.
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