Zur Bestimmung der Kristallqualität von Wafern und epitaktischen Wafern wird häufig die Röntgenbeugungstechnik eingesetzt.

Die XRD-Analyse ist eine Methode zur Analyse der Struktur der inneren Atome in der räumlichen Verteilung von Substanzen mithilfe der von Kristallen gebildeten Röntgenbeugung.

Röntgenbeugung ist eine Methode zur Analyse der Struktur oder Zusammensetzung einer Probe durch Aufstrahlen eines monochromatischen Röntgenstrahls.

Die XRD-Technologie bietet ein leistungsstarkes Werkzeug zur Untersuchung der chemischen Zusammensetzung und Mineralzusammensetzung von Sole. Durch den Einsatz dieser Technik können die Eigenschaften und der Wert der Sole besser verstanden werden.

NREL-Forscher haben modernste Röntgendiagnostikfunktionen als zerstörungsfreie Methode genutzt, um die Zusammensetzung und Struktur von Batteriematerialien zu untersuchen.

Die Analyse von Batteriematerialien hilft, die Batterieleistung zu verstehen und zu optimieren, die Batteriesicherheit und -lebensdauer zu verbessern, Kosten zu senken und die Entwicklung und Anwendung neuer Materialien zu fördern.

Die qualitative XRD-Detektion ist bequem, schnell und störungsfrei. Durch die kontinuierliche Innovation technischer Mittel hat die Röntgenbeugungstechnologie eine breitere Anwendungsperspektive im Bereich der Materialanalyse.

Bei der Röntgenbeugung werden monochromatische Röntgenstrahlen als Beugungsquelle verwendet, die im Allgemeinen den Festkörper durchdringen können, um so dessen innere Struktur zu überprüfen. XRD liefert Informationen zur Massenphasenstruktur des Materials.

Synchrotronstrahlung ist die elektromagnetische Strahlung, die entlang der Tangentenrichtung der Umlaufbahn erzeugt wird, wenn sich das Elektron in einer Hochgeschwindigkeitskurve bewegt, und die zur Durchführung zahlreicher fortgeschrittener wissenschaftlicher und technologischer Forschungen genutzt werden kann.

Wenn Graphitmaterialien als negative Elektrodenmaterialien für Lithiumbatterien verwendet werden, ist dies eine der notwendigen Bedingungen für den Graphitisierungsgrad.

Im Jahr 1912 stellten Laue et al. Durch die Theorie vorhergesagt und durch Experimente bestätigt, dass Beugung auftreten kann, wenn Röntgenstrahlung auf Kristall trifft, was beweist, dass Röntgenstrahlung die Eigenschaft einer elektromagnetischen Welle besitzt, was zum ersten Meilenstein in der Röntgenbeugung wurde.

XAFS kann als fortschrittliche Charakterisierungstechnik für die lokale Strukturanalyse von Materialien genauere Informationen zur atomaren Strukturkoordination im Nahbereich der Struktur liefern als die Röntgenkristallbeugung.