XRD kann Massen- und Pulverproben messen und stellt unterschiedliche Anforderungen für unterschiedliche Probengrößen und -eigenschaften.

Das globale Röntgendiffraktometer (XRD) hat sich in den letzten Jahren stetig weiterentwickelt und China ist ein Markt mit großen Entwicklungsaussichten.

Am Beispiel der Abscheidungsskalierung stellt dieser Artikel vor, wie man Röntgendiffraktometer für die qualitative Phasen- und quantitative Analyse verwendet.

Die Anwendung neuer Technologien und neuer Produkte wie 5G, Big Data und künstliche Intelligenz wird eine enorme Nachfrage auf dem Halbleitermarkt mit sich bringen, und die weltweiten Ausgaben für Halbleiterausrüstung sind in einen Aufwärtszyklus eingetreten.

Hochauflösendes XRD (HR-XRD) ist eine gängige Methode zur Messung der Zusammensetzung und Dicke von Verbindungshalbleitern wie SiGe, AlGaAs, InGaAs usw.

XRD ist ein Forschungsmittel, bei dem es sich um die Beugung eines Materials mittels Röntgenbeugung handelt, um sein Beugungsmuster zu analysieren und Informationen wie die Zusammensetzung des Materials, die Struktur oder Form von Atomen oder Molekülen im Inneren des Materials zu erhalten.

Die Röntgenbeugung unter streifendem Einfall (GI-XRD) ist eine Art Röntgenbeugungstechnik, die sich vom herkömmlichen XRD-Experiment hauptsächlich durch die Änderung des Einfallswinkels der Röntgenstrahlen und der Ausrichtung der Probe unterscheidet.

Es ist notwendig, die schädliche Eigenspannung zu reduzieren und den Verteilungstrend und den Wert der Eigenspannung vorherzusagen. In diesem Artikel wird die zerstörungsfreie Prüfmethode der Eigenspannungsprüfung vorgestellt.

Röntgenbeugung (XRD) ist derzeit eine leistungsstarke Methode zur Untersuchung der Kristallstruktur (z. B. der Art und Ortsverteilung von Atomen oder Ionen und ihrer Gruppen, Zellform und -größe usw.).

Die Röntgenkristallographie ist eine Technik zur Bestimmung der atomaren und molekularen Struktur eines Kristalls, wobei die Kristallstruktur dazu führt, dass der einfallende Röntgenstrahl in viele spezifische Richtungen gebeugt wird.

Basierend auf dem Braggschen Gesetz kann die In-situ-Röntgenbeugung (XRD) verwendet werden, um die Phasenänderung und ihre Gitterparameter in der Elektrode oder der Grenzfläche zwischen Elektrode und Elektrolyt während des Lade-Entlade-Zyklus von a in Echtzeit zu überwachen Batterie.