Der Vorläufer des ternären Materials ist eine kostengünstige Verbindung eines Metalls mit variabler Wertigkeit, das an der Luft oxidiert wird. Je höher die Trocknungstemperatur, desto schwerwiegender der Oxidationsgrad und die allgemeine Wahl der Lufttrocknung.

Als Mittel zur Charakterisierung der Kristallstruktur und ihrer Änderungsregel wird XRD in vielen Bereichen wie Materialien, Chemie, Keramik, Metallurgie und Mineralien eingesetzt.

Zu den Hauptindikatoren für Polymermaterialien gehören die Art des Polymers oder seine Kristallinität. Polymere weisen außerdem eine unterschiedliche Mikrostruktur auf, die sich auch auf die mechanischen Eigenschaften von Polymermaterialien auswirken kann.

Ein wichtiger Indikator für XRD ist, dass eine sehr gute Röntgenlichtquelle vorhanden ist. Die sogenannte gute Röntgenlichtquelle bezieht sich in der Regel auf hohe Intensität, hohe Parallelität und hohe Reinheit. In diesem Artikel wird eine der Kerntechnologien des Neokonfuzianismus vorgestellt, der optische CBO-Pfad.

Die Röntgenbeugungstechnologie wird häufig in der Forschung an Lithium-Ionen-Batterien eingesetzt. XRD ist eine konventionelle Methode zur qualitativen und quantitativen Analyse von Phasen in Materialien.

XRD kann Massen- und Pulverproben messen und stellt unterschiedliche Anforderungen für unterschiedliche Probengrößen und -eigenschaften.

Das globale Röntgendiffraktometer (XRD) hat sich in den letzten Jahren stetig weiterentwickelt und China ist ein Markt mit großen Entwicklungsaussichten.

Am Beispiel der Abscheidungsskalierung stellt dieser Artikel vor, wie man Röntgendiffraktometer für die qualitative Phasen- und quantitative Analyse verwendet.

Die Anwendung neuer Technologien und neuer Produkte wie 5G, Big Data und künstliche Intelligenz wird eine enorme Nachfrage auf dem Halbleitermarkt mit sich bringen, und die weltweiten Ausgaben für Halbleiterausrüstung sind in einen Aufwärtszyklus eingetreten.

Hochauflösendes XRD (HR-XRD) ist eine gängige Methode zur Messung der Zusammensetzung und Dicke von Verbindungshalbleitern wie SiGe, AlGaAs, InGaAs usw.

Röntgendiffraktometer (XRD) können in Röntgenpulverdiffraktometer und Röntgeneinkristalldiffraktometer unterteilt werden. Das grundlegende physikalische Prinzip beider ist dasselbe.

XRD ist ein Forschungsmittel, bei dem es sich um die Beugung eines Materials mittels Röntgenbeugung handelt, um sein Beugungsmuster zu analysieren und Informationen wie die Zusammensetzung des Materials, die Struktur oder Form von Atomen oder Molekülen im Inneren des Materials zu erhalten.